Приложение к Информационной карте

Требования, установленные заказчиком, к качеству, техническим характеристикам товара, требования к их безопасности, требования к функциональным характеристикам (потребительским свойствам) товара и иные показатели

ТЕХНИЧЕСКОЕ ЗАДАНИЕ

на поставку комплекта учебно-лабораторного оборудования для оснащения

лаборатории исследования наноструктур

№

п/п

Наименование

Функциональные характеристики (потребительские свойства), качественные характеристики товара

Кол-во.

1

Настольный программно-аппаратный нанотехнологический комплекс на основе сканирующего туннельного микроскопа (СТМ)

в составе:

Предназначен для исследования в атмосферных условиях проводящих и слабопроводящих образцов

1 компл

1.1

Сканирующий туннельный микроскоп

Предназначен для:

- определения топологии поверхности образцов в виде чётких 2D - и 3D-изображений с атомарным разрешением;

- определения работы выхода и импеданса - определения примесей в исследуемом материале; измерения вольт-амперных и дифференциальных характеристик материала (определение типа проводимости материала, анализ структур проводящих и магнитных образцов) на атомно-молекулярном уровне;

- определения примесей в исследуемом материале;

- измерения параметров профиля (шероховатость, размер включений и наночастиц);

- измерения всех типов дифференциальных спектров: dI/dU, dI/dH, dH/dU, определения амплитуды и сдвига фаз между измеряемыми каналами. Изучения коррозии, в том числе и гетерогенных материалов, с четким определением структуры «зёрен» разного состава, исследования композитных материалов, различия зон с разным типом проводимости и уровнем легирования в полупроводниках.

- осуществления оценки длительного внешнего воздействия на образцы в режиме реального времени (определение коррозионной устойчивости, радиационного воздействия.).

Также позволяет выполнять работы, требующие определение характеристик материалов и сред на атомно-молекулярном уровне и проводить их анализ (в т. ч. анализ состояния покрытий и поверхностей обработанных деталей; исследование электропроводящих поверхностей, коррозии ).

Характеристики:

Разрешение

атомарное, молекулярное

Размер образца (мм)

8 х 8 х (0,5÷4,0)

Поле сканирования (мкм)

6 х 6 ±1

Шаг сканирования в плоскости образца в полном поле/ в режиме 1:10, (нм)

0,08/0,008

Диапазон высот (мкм)

1± 0,2

Шаг измерения по вертикали (нм)

<0,02

Устанавливаемые   параметры :

- напряжение на туннельном зазоре (В)

0 ±  2,3

- туннельный ток (пА)

60 ÷ 5000

Шаг задания (измерения) напряжение туннельного зазора (мВ)

0,04

Параметры  сигнала  для  туннельного  промежутка:

Форма сигнала

произвольная;
программно-задаваемая

Частота (кГц)

10 ÷ 100

Время сканирования кадра 3*3 нм с атомарным разрешением, не более

<7 сек

Время сканирования кадра 5*5 мкм, не более

<4 мин

Время выхода системы на рабочий режим, не более

<2 мин

Электропитание  от  сети  переменного  тока:

- напряжение

220В

- частота

50 Гц

Потребляемая мощность

50 Вт

Режимы  работы :

- сканирования по постоянному току;

- сканирования с постоянной высотой;

- измерение вольт-амперной характеристики поверхности.
Комплект СТМ должен включать:
- блок пьезоманипуляторов, с системой виброизоляции - 1 шт;
- блок управления - 1шт;
- программное обеспечение блока управления -1шт;
- комплект наборов тестовых образцов для проведения
лабораторных работ (не менее 3) -1компл.
- руководство по эксплуатации
- паспорт

Масса комплекса – не более 10 кг.

– 1 шт.

1.2

Автоматическая установка для заточки зондов туннельных микроскопов (УЗЗ)

Осуществляет заточку острых вольфрамовых зондов (игл) для туннельных микроскопов электрохимическим способом с автоматическим контролем прерывания процесса. Устройство работает на базе микроконтроллера.. Процесс травления осуществляется в растворе KOH.

Характеристики:

Диаметр вольфрамовой проволоки

0.2 ÷ 0.5 мм

Время заточки зонда в зависимости от диаметра проволоки

1 ÷ 5 мин

Радиус заточенного зонда

не более 30 нм

Время выхода системы на рабочий режим

не более 30 сек

Напряжение питающей электросети

220 ± 10% В

Потребляемая мощность

не более 20 Вт

Режим работы

Травление с автоматическим отключением тока

Комплектация

-  устройство для заточки зондов 1 шт.;

-  цифровой микроскоп (увеличение не менеераз; возможность подключения к компьютеру) – 1 шт.;

-  цифровая камера разрешением не менее 300К пикселов – 1 шт.;

-  руководство пользователя – 1 шт.;

– паспорт – 1 шт.;

Масса (без вспомогательных устройств) – не более 2,5 кг.

1 шт.

1.3

Комплект методических материалов для подготовки лабораторных работ

Включает методические материалы по темам:

1. Исследование топографии поверхности методом сканирующей туннельной микроскопии. Принципы сканирующей туннельной микроскопии, оборудование для исследования поверхности неразрушающим методом.

2. Исследование коррозии поверхности методом сканирующей туннельной микроскопии. Виды и причины коррозии металлов, современные методы защиты от коррозии, Методы определения показателей коррозии и коррозионной стойкости, Изучение ГОСТов определение показателей коррозии.

3. Определение вольт-амперных характеристик металлов и полупроводников с помощью сканирующего туннельного микроскопа. Приобретение практических навыков по снятию вольт-амперных характеристик с помощью сканирующего туннельного микроскопа; ознакомление с особенностями вольт-амперных характеристик для контактов металл-металл, металл-полупроводник. Понятие уровня Ферми, прямое и обратное смещение, p-n переход, диод Шоттки.

4. Изучение формирования тонких пленок золота до и после отжига методом сканирующей туннельной спектроскопии. Свойства тонких пленок, явлениями и процессы, протекающие на поверхности пленки и на границе раздела пленка–подложка, теория об образовании металлического покрытия в вакууме.

1 шт.