2-я Школа

«Метрология и стандартизация в нанотехнологиях и наноиндустрии. Пространственные характеристики наноматериалов и наноструктур»

Организационный комитет

	председатель, ГК «Роснанотех»
	ГК «Роснанотех»
	ГК «Роснанотех»
	ГК «Роснанотех»
	ИПТМ РАН
	ГК «Роснанотех»
	ГК «Роснанотех»
	секретарь, ГК «Роснанотех»
	ГК «Роснанотех»
	НКЦ «ФОРУМ-СМ»
	ИПХФ РАН

Программный комитет

	ГК «Роснанотех», сопредседатель
	Научный совет РАН по электронной микроскопии, сопредседатель
	Ростехрегулирование, сопредседатель
	ИФТТ РАН, г. Черноголовка
	ИФТТ РАН, г. Черноголовка
	ИК СО РАН, г. Новосибирск
	РНЦ "Курчатовский институт", г. Москва
	», г. Москва
	ИФП СО РАН, г. Новосибирск
	Ростехрегулирование, г. Москва
	ИФМ УрО РАН, г. Екатеринбург
	ИПХФ РАН, г. Черноголовка
	ПВ», г. Москва
	ИК РАН, г. Москва
	ИПТМ РАН, г. Черноголовка

2-я Школа

«Метрология и стандартизация в нанотехнологиях и наноиндустрии.

Пространственные характеристики наноматериалов и наноструктур»

Заявка на участие в школе

Ф. И.О. ________________________________________ ______________________________________________

Год и дата рождения_____________________________

Ученая степень, звание, должность ________________ _______________________________________________Организация ___________________________________ _______________________________________________

Структурное подразделение (лаборатория, ЦКП или др.)____________________________________________

Направление деятельности подразделения___________

_______________________________________________

Объект(ы) измерений ____________________________

_______________________________________________

Методики измерений____________________________

Адрес__________________________________________ _______________________________________________ Тел _________________Факс _____________________E-mail_________________________________________

Необходимость резервирования места в гостинице:

Да______ Нет ______

Руководитель организации /подпись, печать /

Дата _______________________

Заявки направлять в электронном виде по адресу: valentin. *****@***com не позднее 1 апреля 2009 г.

Федеральное агентство

по техническому регулированию и метрологии

НауЧНЫЙ СОВЕТ Ран

по электронной микроскопии

2-я Школа

«Метрология и стандартизация в нанотехнологиях и наноиндустрии.

Пространственные характеристики наноматериалов и наноструктур»

Черноголовка

28– 30 мая 2009 г.

Государственная корпорация «Российская корпорация нанотехнологий»

Федеральное агентство по техническому регулированию и метрологии

Научный совет РАН по электронной микроскопии

в период 28– 30 мая 2009 г. в г. Черноголовке проведут 2-ую школу «Метрология и стандартизация в нанотехнологиях и наноиндустрии. Пространственные характеристики наноматериалов и наноструктур».

Целью школы является повышение квалификации специалистов центров коллективного пользования, испытательных центров и лабораторий, в том числе участников системы добровольной сертификации продукции наноиндустрии «НАНОСЕРТИФИКА», в области проведения и метрологического обеспечения испытаний продукции наноиндустрии. Основное внимание будет уделено измерениям пространственных характеристик наноматериалов и наноструктур.

Программа школы будет включать приглашенные тематические лекции по основным методическим подходам к исследованию наноструктурированных материалов разных типов и обсуждение актуальных проблем нанометрологии.

Также будут представлены презентации современного исследовательского и метрологического оборудования для наноиндустрии от ведущих производителей.

Школа предварит XVI Российский симпозиум по растровой электронной микроскопии и аналитическим методам исследования твердых тел (РЭМ-2009), проходящий в Черноголовке 1-3 июня (http://purple. ipmt-hpm. *****/sem/index. htm ).

Тематика школы:

·  Использование различных методов электронной микроскопии для получения и анализа изображений образцов наноразмерных и наноструктурных объектов.

·  Использование зондовой микроскопии для исследования наноструктурных объектов и материалов с нанометровым разрешением в различных режимах.

·  Методики оптической интерференционной микроскопии.

·  Методы рентгеновской дифракции для определения структурных характеристик различных фаз нанокристаллических материалов.

·  Определение морфологии наноразмерных объектов с использованием методик малоуглового рентгеновского рассеяния, в том числе синхротронного излучения.

·  Адсорбционные и корреляционные методы исследования нанопорошков и катализаторов.

·  Примеры исследований наноматериалов разных типов

Язык

Рабочий язык школы: русский

Регистрация

Для участия в школе в качестве слушателя необходимо представить заявку до 1.04.09 с подписью руководителя и печатью организации по вышеприведенной форме, направив ее в виде оригинального файла формата Word и сканированной цветной копии по электронному адресу: valentin. *****@***com и оригинал – почтой в адрес оргкомитета.

Обращаем внимание, что количество участников ограничено (не более 2 слушателей от одной организации) и 50% мест предназначаются для слушателей в возрасте не старше 35 лет. Приоритетами для отбора слушателей будут: участие в измерениях параметров наноматериалов, ранняя регистрация, участие лаборатории (центра) в системе добровольной сертификации «Наносертифика».

Организационный взнос для слушателей, отобранных организационным комитетом, составляет 3000 руб., который включает расходы на организацию школы, проживание в гостинице, питание. Официальное приглашение и реквизиты для перевода оргвзноса будут направлены до 15.04.2009 по электронной почте.

Ключевые даты

01.04.2009 – окончательный срок приема заявок для участия в качестве слушателей школы.

15.04.2009 –официальное приглашение для участия в качестве слушателя школы.

11.05.2009 –программа школы в электронном виде.

Место проведения и проживание

Школа проводится на базе Научного центра РАН в Черноголовке. Организационный комитет обеспечивает проживание и питание участников школы.

Адрес оргкомитета для корреспонденции

2 А

Государственная корпорация «Российская корпорация нанотехнологий»

Тел.: +7

Факс: +7

E-mail: valentin. *****@***com