Спецификация услуг, предоставляемых в Отделе аналитических исследований ЦКП

Спецификация услуг, предоставляемых в Отделе аналитических исследований ЦКП

№ п/п	Наименование услуги
1	Оптическая спектрометрия
1.1	Анализ растворов на элементы пробы объемом не менее 10 мл с общим содержанием солей в растворе не более 2 г/л, кислотность не более 2 моль/л в диапазонах содержаний (мг/л)*
1.2	Атомно-эмиссионное с индуктивно-связанной плазмой определение элементов в порошкообразных пробах навеской не более 5 г. в диапазонах содержаний (%)**
2	Порошковая рентгеновская дифрактометрия
2.1	Получение дифрактограммы порошкообразной пробы крупностью не более 10 мкм и навеской не менее 1г. при стандартных условиях съемки с таблицей интенсивностей и межплоскостных расстояний дифракционных максимумов
3	Рентгенофлуоресцентный спектральный анализ
3.1	Качественный анализ порошкообразной пробы крупностью не более 100 мкм, навеска не менее 4 г. от Na до U (предел обнаружения не менее 0,01вес.%) с выдачей спектра характеристических линий выявленных элементов.
3.2	Полуколичественный анализ от Na до U в диапазоне содержаний от 0,001% (относительная погрешность 100%) до 1% (относительная погрешность 0,1%), более 10% (относительная погрешность 2-3%) с выдачей диаграмм распределения интенсивностей элементов. При предоставлении данных о содержании влаги, летучих элементов C, F, N, неопределяемых элементов (Be, Li, B), органики результаты полуколичественного анализа будут скорректированы.
3.3	Количественный анализ приготовленной таблетки при предоставлении не менее 3 стандартных образцов в диапазоне от C до Na с содержаниями от 0,1% , от Mg до U с содержаниями от 0,001% по элементам стандартного образца.
4	Термоанализ
4.1	Определение общей влаги и потери при прокаливании
4.2	Синхронная регистрация кривых нагревания проб в атмосферном воздухе или в инертной среде (аргон). Выявление экзо - и эндотермических эффектов на термограммах (ДСК, ДТА). Определение их температур.
4.3	Определение и описание характеристик термограмм: количество пиков, последовательность расположения, тепловой диапазон.
5	Гранулометрия
5.1	Анализ крупности порошкообразных образцов крупностью не более 3 мм навеской не менее 10 г. При крупности менее 10 мкм необходимо предоставления значения коэффициента преломления анализируемого вещества.
6	Оптическая микроскопия
6.1	Фотография в светлом/ темном поле при увеличении до 200х
6.2	Фотография в светлом/ темном поле при увеличении от 200х до 1000х
6.3	Полное картирование образца с увеличением 50х
7	Атомно-силовая микроскопия
7.1	Получение топографии обеспыленной и обезжиренной поверхности, аналитического отклика в фазовом и амплитудном контрасте от поверхности образца в атмосферных условиях или в вакууме до Па.
8	Растровая электронная микроскопия и рентгеновский микроанализ
8.1	Фотография в режиме вторичных электронов, фотография в режиме композиционного контраста, фотография в режиме топографического контраста.
8.2	Просмотр образца в заданном режиме (x, y пере-мещение).
8.3	Получение качественного спектра от выбранного участка, но не менее 3 мкм
8.4	Качественный анализ примесей от выбранного участка аншлифа, но не менее 3 мкм
8.5	Количественный анализ с использованием EDS-спектрометра с областью возбуждения на поверхности аншлифа диаметром 3 мкм
8.6	Количественный анализ с использованием EDS-спектрометра участка аншлифа более 3 мкм
8.7	Линейное сканирование с использованием EDS-спектрометра в характеристическом излучении элементов от Na до U
8.8	Площадное сканирование с использованием EDS-спектрометра в характеристическом излучении элементов от Na до U
8.9	Пробоподготовка образцов с использованием ультразвуковой ванны***.
8.10	Изготовление аншлифов твердых, неорганических, устойчивых в вакууме материалов***: -шашка с эпоксидной смолой, -шашка с проводящим компаундом, -шашка с непроводящим компаундом.
8.11	Напыление непроводящих образцов проводящей пленкой***: -Au или С -С в высоком вакууме

*Диапазон содержаний

	Диапазон содержаний		Диапазон содержаний		Диапазон содержаний
Ag	n*10-2-n*10	Gd	n*10-2 n*10	S	n*10-1-n*10
Al	n*10-1 - n*10	Ge	n*10-1-n*10	Sb	n*10-1-n*10
As	1-n*10	Hf	n*10-2-n*10	Sc	n*10-2-n*10
Au	n*10-1-n*10	Ho	n*10-2 - n*10	Se	n*10-1-n*10
B	n*10-1-n*10	K	1- n*10	Si	n*10-1-n*10
Ba	n*10-2 - n*10	La	n*10-2-n*10	Sm	n*10-2-n*10
Be	n*10-2 - n*10	Li	n*10-2-n*10	Sn	n*10-1-n*10
Bi	1-n*10	Lu	n*10-3-n*10	Sr	n*10-2-n*10
Ca	n*10-3-n*10	Mg	n*10-2-n*10	Ta	n*10-2-n*10
Cd	n*10-2 - n*10	Mn	n*10-2 - n*10	Tb	n*10-2-n*10
Ce	n*10-2 - n*10	Mo	n*10-2-n*10	Te	n*10-1-n*10
Co	n*10-2- n*10	Na	1- n*10	Ti	n*10-2-n*10
Cr	n*10-2n*10	Nb	n*10-1-n*10	Tl	n*10-2-n*10
Cs	1-n*10	Nd	n*10-2-n*10	Tm	n*10-2-n*10
Cu	n*10-2 - n*10	Ni	n*10-2-n*10	V	n*10-2-n*10
Dy	n*10-2 - n*10	P	1-n*10	W	n*10-2-n*10
Er	n*10-2-n*10	Pb	n*10-1-n*10	Y	n*10-2-n*10
Eu	n*10-2 - n*10	Pd	n*10-1-n*10	Yb	n*10-2-n*10
Fe	n*10-1 - n*10	Pr	n*10-2 - n*10	Zn	n*10-3-n*10
Ga	n*10-1-n*10	Pt	n*10-1-n*10	Zr	n*10-2-n*10
		Rb	1-n*10

**Диапазон содержаний

	Диапазон содержаний		Диапазон содержаний		Диапазон содержаний
Al	n*10-3 - n*10	Gd	n*10-4 n*10	Sb	n*10-3-n*10
As	n*10-2 - n*10	Ge	n*10-3-n*10	Sc	n*10-4-n*10
B	n*10-3 - n*10	Hf	n*10-4-n*10	Se	n*10-3-n*10
Ba	n*10-4 - n*10	Ho	n*10-4 - n*10	Si	n*10-2-n*10
Be	n*10-4 - n*10	K	n*10-1-n*10	Sm	n*10-4-n*10
Bi	n*1	La	n*10-4-n*10	Sn	n*10-3-n*10
Ca	n*10-5 - n*10	Li	n*10-4-n*10	Sr	n*10-4-n*10
Cd	n*10-4 - n*10	Lu	n*10-5-n*10	Tb	n*10-4-n*10
Ce	n*10-4 - n*10	Mg	n*10-4-n*10	Te	n*10-3-n*10
Co	n*10-4- n*10	Mn	n*10-4 - n*10	Tm	n*10-4-n*10
Cr	n*10-4-n*10	Mo	n*10-4-n*10	V	n*10-4-n*10
Cs	n*10-1 - n*10	Na	n*10-1-n*10	W	n*10-4-n*10
Cu	n*10-4 - n*10	Nd	n*10-4-n*10	Y	n*10-4-n*10
Dy	n*10-4 - n*10	Ni	n*10-4-n*10	Yb	n*10-4-n*10
Er	n*10-4 - n*10	P	n*10-2-n*10	Zn	n*10-5-n*10
Eu	n*10-4 - n*10	Pb	n*10-3-n*10	Zr	n*10-4-n*10
Fe	n*10-3 - n*10	Pr	n*10-4 - n*10
Ga	n*10-3 - n*10	Rb	1-50

[1] при предоставлении подготовленной пробы (крупность не более 100 мкм, массой не более 5 г)

*** Услуга предоставляется только при условии проведения дальнейших анализов в Отделе аналитических исследований