Приглашение на семинар
«Внутрисхемное тестирование методом летающих пробников»
31 мая, Санкт-Петербург, БЦ «ЕСОД»
Ваше электронное изделие «не приемлет» отклонения от заданных электрических параметров?
Вы заботитесь о высоком качестве выпускаемой электронной продукции?
Вам необходимо обнаруживать все возможные дефекты печатного узла после его производства?
У Вас нет права на ошибку?
АНАЛИЗ ПРОИЗВОДСТВЕННЫХ ДЕФЕКТОВ
МЕТОДОМ ЛЕТАЮЩИХ ПРОБНИКОВ –
ВАШ ВЫБОР!
Уважаемые партнеры!
Компания «УниверсалПрибор» приглашает Вас на семинар, посвященный анализатору дефектов.
Семинар будет интересен: главным технологам, начальникам ОТК, главным инженерам.
На семинаре Вас ждут:
· консультации ведущего мирового эксперта в области внутрисхемного тестирования
· деловые контакты и многое другое
Специальный гость семинара:
· Miroslav Stanisavljević – технический специалист компании «TAKAYA» (Япония).
Представлены доклады и продукты по новейшим тенденциям в области технологического оборудования и процессу сборки печатных плат.
Участие в семинаре бесплатное. Количество мест ограничено
Для подтверждения участия просим Вас прислать заполненную регистрационную форму до 29.05.2012 по факсу: (8или на e-mail: irina. *****@***ru
Контактное лицо: Ендржеевская Ирина, тел.: (812) , доб.205
Место проведения: г. Санкт-Петербург, БЦ ЕСОД, м. «Чкаловская», ул. Б. Разночинная 25А
Мы будем рады видеть Вас среди участников семинара!
Программа семинара
«Внутрисхемное тестирование методом летающих пробников»
31 мая, Санкт-Петербург, БЦ «ЕСОД»,
10:00- 14:00
10 | - Регистрация участников. |
10 | - Открытие семинара. |
10.35 – 10.55 | - Презентация компании «УниверсалПрибор». |
10 | Внутрисхемное тестирование методом летающих пробников (часть 1) Докладчик: Руководитель отдела технологического оборудования Вахрушев Олег Специальный гость: Miroslav Stanisavljević – технический специалист компании «TAKAYA»
- Сфера применения оборудования. - Необходимость внедрения внутрисхемного тестирования и его экономическое обоснование. - Линейка внутрисхемных тестеров компании TAKAYA |
12.00 – 12.20 | - Кофе - пауза |
12.20 – 13.30 | Внутрисхемное тестирование методом летающих пробников (часть 2) - Дополнительные возможности оборудования для внутрисхемного тестирования А) периферийное сканирование Б) IC OPEN TEST В) Подключаемые модули и многое другое - Практический опыт применения |
13 | - Вопросы и ответы. |
РЕГИСТРАЦИОННАЯ ФОРМА УЧАСТНИКА СЕМИНАРА «Внутрисхемное тестирование методом летающих пробников». 31 мая 2012 г., г. Санкт-Петербург БЦ «ЕСОД» (анкета заполняется на каждого участника) | |
Название компании: | |
ФИО: | |
Должность: | |
Почтовый адрес: | |
Телефон: | Факс: |
E-mail: | Общий e-mail компании |
Глава компании, ФИО: | |
Направления деятельности Вашей компании: | |
Для подтверждения участия просим Вас прислать заполненную регистрационную форму до 29.05.2012 по факсу: (8, или на e-mail: irina.e@pribor.ru
Контактное лицо: Ендржеевская Ирина, , доб.205
Место проведения:
31 мая г. Санкт-Петербург, БЦ ЕСОД, м. «Чкаловская», ул. Б. Разночинная 25А
Мы будем рады видеть Вас среди участников семинара!
