Методические основы радиационных испытаний
Основные этапы обеспечения стойкости аппаратуры космических аппаратов к интегральным дозовым эффектам
, »
Рассматриваются основные задачи, решаемые при создании аппаратуры космических объектов с заданным уровнем стойкости к воздействию ионизирующих излучений космического пространства (ИИ КП), в том числе:
- анализ радиационной обстановки для заданной орбиты КА;
- выбор комплектующих элементов на основе анализа имеющейся информации о радиационной стойкости изделий электронной техники;
- расчетные оценки локальных дозовых нагрузок в критических узлах РЭА;
- проведение испытаний элементов и узлов РЭА на стойкость к воздействию ИИ КП;
- выдача заключения о стойкости РЭА к ионизационным (дозовым) эффектам
Радиационные условия КП
Вид излучения | Состав | Энергия частиц, МэВ | Плотность потока, м-2 с-1 |
ГКЛ | Протоны a- частицы Тяжелые ионы | 102…1015 | 1,5×104 1,0×103 1,2×101 |
СКЛ | Протоны Тяжелые ионы | 1…104 1…106 | 107…108 106 |
ЕРПЗ | Протоны | 1…30 >30 | 3×1011 2×108 |
Классификация типовых орбит полета КА для установления требований по стойкости РЭА КА по ЭОС
Тип частиц | Диапазоны высот типовых орбит, км | ||||||
< 600 | 600 – 1200 | 1200 – 6000 | 6000 – 10000 | >10000 | ГСО | ВЭО | |
Высоты, км, для которых устанавливаются спектры ЗЧ | |||||||
СКЛ | 3000 | 3000 | 3000 | ГСО | ГСО | ГСО | ГСО |
ГКЛ | ГСО | ГСО | ГСО | ГСО | ГСО | ГСО | ГСО |
ЕРПЗ | 600 | 1200 | 3000 | 6000 | - | - | - |
Типовые толщины защиты 0.1, 0.5, 1.0, 3.0, 10.0 г. см-2
Список источников
1. Методы расчета радиационных условий полета КА и их систем за счёт действия заряженных частиц КП естественного происхождения, Методическое пособие под редакцией , , Космические войска ВС РФ, 2004.
2. ОСТ 134. Аппаратура, приборы, устройства и оборудование космических аппаратов. Методы расчета радиационных условий на борту космических аппаратов и установления требований по стойкости РЭА космических аппаратов к воздействию заряженных частиц космического пространства естественного происхождения. ЦКБС ЦНИИМАШ, 22 ЦНИИИ МО РФ, НИИ приборов, НИИЯФ МГУ, РКК «Энергия», 2007.
3. , , . Радиационная обстановка на борту космических аппаратов. ЦИПК, 2001
Схема расчёта дозовых нагрузок на критические элементы аппаратуры КА
|
![]() |
|
1 Метод Монте-Карло
Расчет ослабления дозовых характеристик ИИ КП в одномерной барьерной геометрии
Программы ELECTRON, PROTON (ФГУП «НИИП»)
Программа Shieldose, NASA
S. Seltzer Shieldose: A computer code for space-shielding radiation dose calculation. NBS Technical note 1116 ( May 1980)
Расчет дозы с помощью метода Монте-Карло для заданных спектров КП в геометрии сфера, плоский барьер. Защита - алюминий
Программа GEANT, CERN
GEANT Detector description and simulation Tool, CERN Program Library, Long Write-up W5013, Geneva 1993
Программа разрабатывалась на основе метода Монте-Карло для исследования прохождения элементарных частиц в веществе для описания экспериментов в физике высоких энергий. Рассматривает трехмерную геометрию, учитывает ядерные реакции при прохождении падающих частиц с материалами мишени. В настоящее время находит применение в других областях физики, в частности, в космических исследованиях.
2 Расчет локальных дозовых нагрузок в критических узлах и элементах РЭА
Метод секторного разбиения + метод Монте-Карло
Программы ELECTRON – 3D, PROTON – 3D
Метод Монте-Карло в барьерной геометрии

Распределение поглощенной энергии протонов с начальной энергией Ео = 338 МэВ при прохождении через барьер из меди (точки - эксперимент, сплошная линия - расчет, d = 10-3 )
1 - модель непрерывного замедления
2 - метод Монте-Карло

Распределение поглощенной энергии протонов с начальной энергией Ео = 100 МэВ при прохождении через барьер из алюминия ( точки - эксперимент, сплошная линия - расчет Монте-Карло, d =10-3 )
Доза протонов КП после ослабления сферической оболочкой различной толщины ( 500 км, 28,5°, минимум )
d, г/см2 | Сфера | |
НИИП | АР8 | |
0,01 | 1,85 | 1,8 |
0,05 | 1,47 | 1,4 |
0,1 | 1,28 | 1,24 |
0,5 | 0,85 | 0,79 |
1,0 | 0,71 | 0,65 |
1,5 | 0,59 | 0,58 |
2,0 | 0,61 | 0,54 |
2,5 | 0,55 | 0,5 |
3,0 | 0,52 | 0,47 |
Доза электронов КП после ослабления защитными барьерами различной толщины ( 500 км, 90°, минимум )
d, г/см2 | Сфера | |
НИИП | АЕ8 | |
0,01 | 402 | 369 |
0,05 | 99,4 | 75,7 |
0,1 | 30,7 | 30,0 |
0,5 | 3,77 | 2,8 |
1,0 | 0,44 | 0,54 |
1,5 | 0,094 | 0,115 |
2,0 | 2,13× 10-2 | 2,6×10-2 |
2,5 | 5,0×10-3 | 7,0×10-3 |
3,0 | 2,6×10-3 | 2,9×10-3 |
Метод секторного разбиения КА

х, см ® t = r x, г/см2
![]() |
Геометрия расчета локальных дозовых нагрузок в объеме КА
Алгоритм расчета локальной дозовой нагрузки
1 Точка детектирования А(xd,yd,zd)
2 Рассмотрим грань Z = Z1
Разбиваем плоскость на элементарные площадки.
Вклад от элементарной площадки dS
dW = dS×сosqz / R2
сos qz = (z1 – zd) / R, 
Число частиц, приходящих через dS в точку А

Ф0, част/см2 - полный поток частиц в телесном угле 4p.
3 Вклад в локальную дозу в точке А от площадки dS
dD = dj × D0(L(qz))
L(qz) - массовая толщина защиты между точкой А и центром площадки dS
D0(L) - расчет методом Монте-Карло для барьерной геометрии
4 Полная доза получается в результате суммирования по всем граням параллелепипеда

Общий эскиз компоновки объекта
1. Исходная информация об ЭРИ, чувствительных к ионизационным эффектам, представляется в виде табл.1
№ п/п | Обозначение | Функциональное назначение | Фирма-производитель | Количест-во ЭРИ на 1 прибор |
ЭРИ ИП | ||||
микросхемы | ||||
1 | 12CWQ03FN | 30V 12A Schottky Common Cathode Diode in a D-Pak package диодная сборка | International Rectif | 1 |
2 | 12CWQ10FN | 100V 12A Schottky Common Cathode Diode in a D-Pak package диодная сборка | International Rectif | 4 |
3 | 74ACT04AD | 6 инверторов | Philips | 2 |
и т. д. |
2. Расчет локальных дозовых нагрузок в объеме приборов КА при воздействии электронов и протонов КП
На данном этапе проводится расчет с помощью метода Монте-Карло локальных дозовых нагрузок (ЛДН) в аппаратуре КА на основе трехмерной модели КА с учетом экранирующих свойств аппаратуры и конструктивных элементов КА. Результаты расчета представляются в виде табл. 2
Таблица 2. Локальные дозовые нагрузки на ЭРИ в составе приборов БА КИС при действии ИИ КП на ГСО, САС 12,5 лет, крад (Si)
Прибор | Протоны СКЛ (ионизация), крад (Si) | Электроны ЕРПЗ (ионизация), крад (Si) | Суммарная доза, крад (Si) | |
ЛА002 ДКПИ | Минимальная | 1,9 | 1,5 | 3,4 |
Максимальная | 2,9 | 2,0 | 4,9 | |
УМ3334-10 УМ | Минимальная | 1,6 | 0,8 | 2,4 |
Максимальная | 3,2 | 4,8 | 8,0 | |
ША946М ППУ | Минимальная | 2,5 | 2,7 | 5,2 |
Максимальная | 3,6 | 17,8 | 21,4 |
Рассчитанные величины ЛДН сравниваются с уровнями стойкости критичных ЭРИ, полученных из анализа опубликованных данных (табл.3). Основные источники информации:
a) IEEE Transaction on Nuclear Science
b) IEEE Radiation Effects Data Workchop
c) Сайты прозводителей ИС
d) и т. д….
Таблица 3. Параметры чувствительности ЭРИ в составе прибора ЛА002 к дозовым эффектам
№ п/п | Обозначение ИС | Стойкость к полной дозе, крад(Si) |
1 | 74LVC4245APW | > 5 |
3 | BTS117 | 15 |
7 | ОСМ 249КП1С | ~15-20 |
8 | ОСМ 542НД5 | ~50 |
9 | 10MQ100NPbF | >100 |
и т. д. |
Из сравнения представленных в табл.2 ЛДН с результатами оценок уровней стойкости ЭРИ для приборов в составе аппаратуры КА, определяются коэффициенты запаса по стойкости отдельных приборов и аппаратуры КА в целом. Для примера в табл.4 приводятся данные для прибора ЛА002.
Таблица 4. Обобщенные данные по стойкости прибора ЛА002 к дозовым эффектам
Прибор | Максимальная ЛДН, расчет, крад(Si) | Минимальная радиационная стойкость ЭРИ, крад(Si) | ЭРИ, определяющие стойкость прибора к ЛДН | Коэффициент запаса по стойкости |
ЛА002 | 4,9 | 5,0 | 74LVC4245APW APA 1000-PQ208I SN74LVC14AD | 1,02 |
Из полученных результатов для прибора ЛА002 следуют рекомендации:
- проведение испытаний прибора на стойкость к дозовым эффектам;
- применение дополнительной защиты прибора для увеличения коэффициента запаса по стойкости.
Аналогичные процедуры выполняются для всех приборов в составе КА.
Локальная радиационная защита ИЭТ в составе аппаратуры КА
Для снижения дозовых нагрузок на ИС в составе аппаратуры КА могут быть использованы ЛЗЭ, устанавливаемые на корпуса ИС. Массовые толщины защитных экранов (включая толщину корпуса изделия), для которых имеет смысл проводить оптимизацию весовых характеристик радиационной защиты, лежат в диапазоне до ≈ 2,0 г/см2. Поэтому применение дополнительных защитных экранов при суммарной толщине конструкционных материалов КА (включая толщины корпусов приборов и отдельных ИС) более указанной величины не приводит к заметному снижению локальных дозовых нагрузок в объеме КА.
Наиболее эффективными защитными свойствами обладают многослойные структуры и композиционные материалы, которые позволяет снизить дозовые нагрузки на элементы аппаратуры КА в несколько раз при сохранении ее массогабаритных характеристик.
Конфигурация и размеры защитных экранов должны соответствовать конфигурации и размерам стандартных корпусов ИС. С этой точки зрения более универсальной является технология нанесения защитных покрытий RAD-COAT, которая, в отличие от технологии RAD-PAK, не привязана жестко к конструкции стандартного корпуса ИС.
Ослабление дозы ИИ КП комбинированной трехслойной защитой Al – W – Al для ГСО, САС 11 лет
d, г/ см2 | Электроны ЕРПЗ, рад (Si) | Протоны СКЛ, рад (Si) | Полная доза, рад (Si) | Трехслойная структура/ барьер алюминий ** |
0,54 * (0,08; 0,38; 0,08) | 2,4 ∙ 105 | 4,7 ∙ 104 | 2,9 ∙ 105 | 0,22 |
1,08 (0,12; 0,84; 0,12) | 6,18 ∙ 103 | 1,3 ∙ 104 | 1,9 ∙ 104 | 0,36 |
*) указана суммарная толщина защиты, в скобках – толщины отдельных защитных слоев (алюминий, вольфрам, алюминий)
**) отношение полной дозы за трехслойной структурой к полной дозе за алюминиевым защитным экраном с той же массовой толщиной.
Особенности применения рентгеновских аппаратов для испытаний изделий электронной техники на стойкость к дозовым ионизационным эффектам
Для проведения испытаний ЭРИ на стойкость к дозовым эффектам в последнее время наряду с мощными гамма-установками с источником Со60 ( Eγ = 1,25 МэВ) или Сs137 (Eγ = 0,66 МэВ) применяются рентгеновские аппараты типа МИРА, ВИРА, РАП с энергией РИ в диапазоне от 10 до 300 кэВ. Ниже рассматриваются особенности применения рентгеновских аппаратов в сравнении с изотопными гамма-установками, связанные, в первую, очередь с различиями в энергетических спектрах фотонного излучения.
Основная проблема, возникающая при планировании и интерпретации результатов испытаний на источниках рентгеновского излучения (РИ) - определение поглощенной энергии в чувствительном объеме ЭРИ при заданной геометрии ЭРИ и характеристиках РИ. Наиболее общий и корректный подход основан на использовании в качестве указанных характеристик результатов аттестации полей РИ в единицах экспозиционной дозы, Р, и информации об энергетическом спектре РИ.
Энергетическая зависимость чувствительности ионизационной камеры БМК-06

Переход от экспозиционной дозы, Р, к поглощенной энергии в материале чувствительного объема ЭРИ при выполнении условий электронного равновесия
Монолиния Е0
K рад(х)/Р = ![]()
Непрерывный спектр
K
|
Основные параметры аппарата РАП 300-5
Максимальное напряжение на аноде Ua составляет 300 кВ. Пределы регулирования Ua от 70 до 300 кВ через 1 кВ.
Максимальный средний ток анода Ia составляет 4,5 мА. Ia регулируется дискретно через 0,1 мА.
Мощность экспозиционной дозы при Ua = 300 кВ и Ia = 4,0 мА на расстоянии 1 м от выходного окна не менее 0,2 Р/с.
Спектры рентгеновского излучения РАП

Ua = 80 кВ

Ua = 150 кВ

Ua = 300 кВ
Энергетические спектры РИ могут быть рассчитаны методом Монте-Карло при известной геометрии мишени рентгеновского аппарата и напряжении Ua и дополнительно уточнены с помощью метода поглощения РИ в геометрии узкого пучка
Структура ИС CОЗУ 1635РУ1Т
![]() |
Схематическая диаграмма, иллюстрирующая эффект усиления дозы в тонком слое окисла SiO2 (Eg=100кэВ): сплошная линия – равновесная доза;
пунктирная линия – расчет по методу Монте-Карло

Расчетная зависимость отношения плотности поглощенной энергии в чувствительном слое SiO2 КМОП ИС ( корпус - ковар толщиной 100 мкм ), рад(SiO2), к экспозиционной дозе, Р, от энергии фотонов:
1 - расчет для условий электронного равновесия ;
2 - расчет с учетом реальной структуры ИС ( в диапазоне Е > 100 кэВ перед корпусом размещался дополнительный слой алюминия толщиной 2 мм );
3 - корпус – алюминий: в диапазоне Е > 300 кэВ - 2 мм, для Е < 300 кэВ - 1 мм
4 - корпус – пластмасса толщиной 1 мм ( в диапазоне Е > 300 кэВ перед корпусом размещался дополнительный слой алюминия толщиной 1 мм );
Коэффициенты перехода от экспозиционной дозы к плотности поглощенной энергии рентгеновского излучения в чувствительном объеме ИС, рад (SiO2)/P
Граничная энергия РИ, кэВ | Условия электронного равновесия | Корпус ИС | ||
Ковар, 100 мкм | Алюминий, 1 мм | Пластмасса, 1 мм | ||
80 150 300 | 4,0 3,0 2,1 | 8,0 8,0 7,2 | 4,6 3,1 2,5 | 3,9 2,7 2,0 |
Эксперимент: облучение мощного МОПТ IRF-450 на аппарате РАП-300 и установке ГУ-200 со стороны крышки ( 0,4 мм медь) и фланец ( 1,5 мм медь)


Эффекты влияния удельных потерь энергии заряженных частиц и электрического поля в окисле МОП-приборов на выход свободных носителей заряда

Выводы
Разработанное в настоящее время методическое обеспечение и экспериментальная база позволяют проводить испытания и прогнозировать стойкость ЭРИ к дозовым эффектам в заданных условиях космического пространства.
Основные моделирующие установки с изотопным источником Со60 - ГУ-200 и Гамма-РИД (»)
Преимущества изотопных гамма-установок Со60 или Сs137 перед рентгеновскими источниками при проведении массовых испытаний ЭРИ:
- стандартизованные методы аттестации и дозиметрии при проведении испытаний;
- практическое отсутствие эффектов усиления дозы, влияния корпуса и структуры ЭРИ;
- минимальная погрешность определения поглощенной энергии в чувствительном объеме ЭРИ;
- минимальное влияние электрического режима ЭРИ (электрического поля в чувствительном объеме) на выход e-h пар в окислах МОП-структур;
- возможности исследований эффектов низкой интенсивности в широком диапазоне мощностей доз и температур.
Рентгеновские источники, в принципе, могут использоваться для испытаний ЭРИ, только после полной метрологической аттестации и надлежащего учета эффектов низкоэнергетического рентгеновского излучения (выход свободных дырок, усиление дозы, неравномерность распределения поглощенного заряда)






