Уважаемые Господа!

Приглашаем Вас принять участие в семинаре

“Современные решения компании Agilent Technologies в области исследования нанообъектов“

Организаторы семинара: ЗАО “Научное оборудование”, ЦКП “Наноструктуры”, ЗАО “Компания НТНК”, Agilent Technologies.

Время проведения: 24 апреля 2012 года.

Место проведения: конференц-зал термостатированного корпуса ИФП СО РАН, ул. Пирогова, 30.

Программа секции “Материаловедение”:

14.05 – 14.50 A new, compact field-emission scanning electron microscope (SEM); applications of low voltage SEM imaging in material science

// Новый компактный сканирующий электронный микроскоп с полевой эмиссией Agilent FEM -8500. Применение СЭМ с низким разгоняющим напряжением в материаловедении//

Докладчик: Charlie Silver, Agilent Technologies

.

15.00 – 15.45 Nanomechanical Testing at its Best: Indentation, Scratch testing and Tensile Strength.

//Современные наномеханические испытания: наноиндентирование, испытания царапанием, определение предела прочности на разрыв//

Докладчик: Artur Kulinczak Agilent Technologies

15.45 – 16.15 Кофе-брейк

16.15 – 17.00 Advances of Scanning Probe Microscopy in Material Science-Nanostructures, compositional mapping, electrical properties

//Возможности для использования сканирующей зондовой микроскопии в материаловедении: изучение наноструктур и их электрических свойств, композиционный мэппинг//

Докладчик: Gerald Kada, Agilent Technologies

17.10 – 18.00 Exploring Local Electrical Properties using Scanning Kelvin Probe; nearfield Microwave Microscopy – Surface Charges, Calibrated Capacitance and Dopant Densities

//Изучение локальных электрических свойств поверхностей при помощи силовой зондовой микроскопии Кельвина; ближнепольная микроволновая микроскопия: измерение заряда поверхности, количественные ёмкостные измерения и определение концентрации примесей//

Докладчик: Gerald Kada, Agilent Technologies

В ходе проведения семинара гостям предоставлена возможность исследовать свои образцы на сканирующем электронном микроскопе Agilent Technologies FE-SEM 8500.

Для записи на работу с электронным микроскопом и для регистрации своего участия в семинаре просим связаться с нами. Наши контактные данные:

Телефон: (3

E-mail: *****@***ru

Контактное лицо:

Надеемся увидеть Вас в числе гостей.