Партнерка на США и Канаду по недвижимости, выплаты в крипто

  • 30% recurring commission
  • Выплаты в USDT
  • Вывод каждую неделю
  • Комиссия до 5 лет за каждого referral

Модули наружного JTAG-тестирования

Мастер-кластер JEMIOTM

Модули наружного JTAG-тестирования (Мастер-кластер JEMIOTM) предназначены для организации тестового доступа к цепям, подключенным к наружным разъемам тестируемых плат, если эти цепи недостижимы никакими другими тестовыми средствами. Обеспечение такого тестового доступа позволяет существенно увеличить уровень тестового покрытия плат, а зачастую исключает или заметно уменьшает необходимость в использовании других средств тестирования.

Семейство Мастер-кластер JEMIOTM содержит ряд модулей, позволяющих управлять цепями наружных разъемов и\или фиксировать их состояния. Каждая из цепей модуля (контакт разъемов J1, J2) управляется индивидуально и может быть предварительно конфигурирована как вход, выход, вход-выход или состояние с высоким импедансом. JTAG-цепочки модулей JEMIOTM легко комбинируются с цепочками тестируемых плат и включаются в тесты инфраструктуры и тесты межэлементных связей <www. *****/JTAGUniversity/articles/04-PE_8_2007.php >. Модули JEMIOTM могут использоваться независимо или без труда встраиваться в тестовые установки плат и узлов в любых из приведенных ниже систем JTAG-тестирования. Их применение позволяет выполнять гибкие и недорогие JTAG-тесты для краевых и внутрисхемных разъемов плат, контрольных точек и любых цепей с наружным доступом, обеспечивая двунаправленные каналы JTAG-тестирования, нетестопригодные иными средствами.

Основные характеристики семейства модулей Мастер-кластер JEMIOTM:

НЕ нашли? Не то? Что вы ищете?

ü  Выполнение JTAG-тестов межэлементных связей и кластерных тестов плат и узлов

ü  Поддержка широкого диапазона одно- или двунаправленных контактов ввода-вывода следующими моделями:

ü  Тестирование контактов с постоянными напряжениями, а также контактов, подключенных к земле

ü  Каждый контакт любого модуля JEMIOTM может выполнять функции входа, выхода, входо-выхода или находиться в состоянии с высоким импедансом

ü  Горячее включение: модули Мастер-кластер JEMIOTM можно подключать и отключать без переключения питания тестируемой платы или узла

ü  Модули содержат встроенный JTAG-порт, работающий в протоколах IEEE 1149.1 и IEEE 1149.6 (в зависимости от модели)

ü  Поставка модулей Мастер-кластер JEMIOTM включает в себя специальный файл BSDL и документацию для их применения в любой из указанных ниже систем JTAG-тестирования

ü  Полная совместимость со следующими системами JTAG-тестирования:

*  Flynn Systems’ onTAP Series 4000

*  Corelis’ ScanExpress

*  JTAG Technologies’ ProVision

*  Asset’ ScanWorks

Схема наружного применения Мастер-кластера JEMIOTM

 

Тип модуля Наименование модуля при заказе

n  76 pin JEMIO.1 JEMIO.1-76

n  152 pin JEMIO.1 JEMIO.1-152

n  302 pin JEMIO.1 JEMIO

n  454 pin JEMIO.1 JEMIO

n  38 pin JEMIO.1-LVDS JEMIO.1-LVDS-38

n  76 pin JEMIO.6 JEMIO.6-76

n  xx pin JEMIO.1-UD JEMIO.1-UDxx

Примечание: Модули типа JEMIO.1-UDxx выполняются по требованию заказчика, где хх – количество требуемых заказчиком входо-выходов

J6 - Разъем питания

J3 - Разъем JTAG

Новый аппаратный модуль JEMIO-LVDS представляет собой эффективное дополнение к модулю JEMIO. В полной конфигурации модуль JEMIO-LVDS обеспечивает 36 LVDS-входных каналов и 36 LVDS-выходных каналов, плюс 2 TTL I\O канала. Модуль JEMIO-LVDS может быть конфигурирован по желанию пользователя, неиспользуемые LVDS-каналы по умолчанию остаются обычными JEMIO TTL I\O каналами.