ПРОГРАММА СЕМИНАРА
«Проблемы технологического оснащения современного производства электронных средств. Перспективы развития МЭМС в России»
19 сентября 2013 года
Время | Тематические вопросы | Докладчик |
10:00-10:10 | Вступительное слово. Представление докладчиков и программы | , |
10:10-10:45 | Общая презентация о «Совтест АТЕ». Сферы деятельности, успешные проекты | , 1-ый зам. ген. директора АТЕ» |
10:45-11:30 | Цели тестирования. Выбор стратегии тестирования. Обзор современных методов тестирования электроники на производстве. | , технический директор АТЕ» |
11:30-12:30 | Организация современного сборочно-монтажного производства. Программный продукт Valor MSS – инструмент для эффективного управления современным производством | , 1-ый зам. ген. директора АТЕ» |
12:30-13:30 | Обед | |
13:30-14:00 | Перспективы развития рынка микроэлектромеханических систем в России. Беспроводные системы для технического мониторинга объектов на основе МЭМС сенсоров (контроль углов крена, уровня вибрации, температуры и др.) | , главный специалист по развитию, «Русская ассоциация МЭМС» |
14:00-15:00 | МЭМС. Опыт кооперации при разработке и внедрении технологий МЭМС. Современные методы корпусирования ЭКБ. Оборудование и технологии для микроэлектроники | , 1-ый зам. ген. директора АТЕ» |
15:00-15:30 | Современные методы тестирования ЭКБ. Входной контроль и защита от контрафактной ЭКБ. Отечественное оборудование нового поколения для тестирования ЭКБ | , технический директор АТЕ» |
15:30-16:00 | Обсуждение. Ответы на вопросы. |
