ФЕДЕРАЛЬНОЕ АГЕНТСТВО ПО ОБРАЗОВАНИЮ

Федеральное государственное бюджетное образовательное учреждение высшего профессионального образования «Национальный исследовательский ядерный университет «МИФИ»

«УТВЕРЖДАЮ»

Проректор НИЯУ МИФИ

____________

“02” сентября 2009 г

_______________

«____»______________2008г.
 

Учебно-тематический план

программы повышения квалификации

профессорско-преподавательского состава

«физиКА и технология наноструктур»

по направлению

«проблемы естественнонаучного образования»

“Согласовано”

Начальник учебного

управления НИЯУ МИФИ

_______________

“02” сентября 2009 г

Москва

2009 г.
Тематическое планирование по программе

«физиКА и технология наноструктур»

Максимальная учебная нагрузка

Самостоятельная работа

Аудиторная нагрузка

всего

лекции

практ. зан.

1.

Введение в физику и технологию наноструктур.

Проблемы техники безопасности при работе с наноструктурами.

2

2

2.

Общие свойства углеродных модификаций. Графитовые и алмазные пленки. Графен. Фуллерены, эндоэдралы и онионы.

7

2

5

3.

Углеродные нанотрубки – типы, структура и свойства.

2

2

5

4.

Методы формирования и модификации нанотрубок. Применение нанотрубок и иных углеродных наноматериалов.

7

2

5

5.

Введение в сканирующую зондовую микроскопию углеродных наноматериалов.

12

2

10

6.

АСМ, СТМ и ПЭМ углеродных наноматериалов.

12

2

10

7.

Квантовые и размерные явления в наноструктурах.

2

2

8.

Электронный транспорт в наноструктурах.

2

2

9.

Физические основы электронных устройств на резонансно-туннельных наноструктурах

2

2

10.

Компьютерное моделирование наноструктур.

2

2

11.

Подготовка реферата

17

Итого

72

17

55

20

35

Учебно-тематическое планирование по программе

НЕ нашли? Не то? Что вы ищете?

«ФИЗИКА И ТЕХНОЛОГИЯ НАНОСТРУКТУР»

№

кол.

час.

вид занятия

тема

средства обучения

задание для самостоятельной работы

1.

2

лекция

Введение в физику и технологию наноструктур.

Проблемы техники безопасности при работе с наноструктурами.

1. Основы сканирующей зондовой микроскопии. М.: Техносфера, 2005.

2.Зондовые нанотехнологии в электронике / . - М. : Техносфера, 200с.

3./ УФН. 1997. Т. 167. С. 945 – 9Т. 170. С. 113 – 142.

4. Углеродные нанотрубы и родственные структуры. – М.: Техносфера, 2003. – 336 с.

5., /УФН. 1997. Т. 167. С. 751 – 774.

6.Антоненко наноструктур: Учебное пособие. М.: МИФИ, 2008. – 116 с.

2.

2

лекция

Общие свойства углеродных модификаций. Графитовые и алмазные пленки. Графен. Фуллерены, эндоэдралы и онионы.

3.

2

лекция

Углеродные нанотрубки – типы, структура и свойства.

4.

2

лекция

Методы формирования и модификации нанотрубок. Применение нанотрубок и иных углеродных наноматериалов.

5.

2

лекция

Введение в сканирующую зондовую микроскопию углеродных наноматериалов.

6.

2

лекция

АСМ, СТМ и ПЭМ углеродных наноматериалов.

7.

2

Квантовые и размерные явления в наноструктурах.

8.

2

лекция

Электронный транспорт в наноструктурах.

9.

2

лекция

Физические основы электронных устройств на резонансно-туннельных наноструктурах

10.

2

лекция

Компьютерное моделирование наноструктур.

11.

5

практические занятия

Получение СЗМ изображения углеродного наноматериала

12.

5

практические занятия

Исследование углеродного наноматериала методом СТМ

13.

5

практические занятия

Сканирующая зондовая литография.

14.

5

практические занятия

Исследование углеродного наноматериала методом АСМ

15.

5

практические занятия

Артефакты в СЗМ

16.

5

практические занятия

Обработка и количественный анализ СЗМ изображений углеродного наноматериала

17.

5

практические занятия

Методы изучения углеродных нанотрубок с помощью просвечивающей электронной микроскопии

18.

17

практические занятия

Подготовка реферата

Подготовка реферата

72

итого

Авторы программы, составители учебно-тематического плана:

, д. ф.-м. н, профессор НИЯУ МИФИ

, к. ф.-м. н, доцент НИЯУ МИФИ

И. о. декана ФПКПК НИЯУ МИФИ