Результаты испытаний ИС серии 1890 на импульсную электрическую прочность

К. А. ЕПИФАНЦЕВ, А. С. ПОЛИКАНИН, П. К. СКОРОБОГАТОВ

ЭНПО «Специализированные электронные системы», Москва

1.

РЕЗУЛЬТАТЫ ИСПЫТАНИЙ ИС СЕРИИ 1890
НА ИМПУЛЬСНУЮ ЭЛЕКТРИЧЕСКУЮ ПРОЧНОСТЬ

Приведены результаты ИС серии 1890 на импульсную электрическую прочность. Результаты испытаний указывают на сильную зависимость показателей стойкости от длительности одиночного импульса напряжения и от вывода ИС, к которому приложено воздействие.

Стойкость элементной базы к воздействию электромагнитных излучений естественного и искусственного происхождения характеризуются ее импульсной электрической прочностью (ИЭП) к воздействию одиночных импульсов напряжения (ОИН), отражающих влияние наведенных сигналов на соединительные линии РЭА [1]. Из используемой в настоящее время элементной базы наибольшей чувствительностью к воздействию ОИН обладают полупроводниковые интегральные схемы (ИС). Поэтому для обеспечения стойкости РЭА к воздействию ЭМИ необходимы в первую очередь справочные данные по ИЭП ИС в виде зависимостей предельно-допустимых значений напряжения от длительности стандартизованного ОИН.

Результаты испытаний 3-х типов ИС серии 1890 в виде значений предельно-допустимых напряжений при трех длительностях ОИН в случае подачи воздействия на три группы выводов (входы, выходы и цепи питания) приведены на рис. 1-3.

Рис. 1. Значение предельно-допустимых напряжений ОИН при длительности ОИН 0,1 мкс

Рис. 2. Значение предельно-допустимых напряжений ОИН при длительности ОИН 1 мкс

Рис. 3. Значение предельно-допустимых напряжений ОИН при длительности ОИН 10 мкс

Анализ результатов экспериментов указывает на сильную зависимость ИЭП испытанных ИС прежде всего от длительности ОИН, а именно: с уменьшением длительности ОИН уровень стойкости существенно возрастает. Что касается зависимости ИЭП от группы входов ИС, то однозначно можно утверждать, что стойкость цепи питания как правило выше стойкости входных и выходных цепей ИС.

Список литературы

1. РД В 319.03.30-98. Изделия электронной техники, квантовой электроники и электротехнические военного назначения. Порядок испытаний на импульсную электрическую прочность и требования к испытательному оборудованию – М.: МО РФ, 1998 г. 14 с.