Методы сканирующей зондовой микроскопии обеспечивают исследование топологических структурных особенностей поверхностей как проводящих, так и непроводящихматериалов с разрешением вплоть до атомарного.
РЦН располагает атомно-силовым микроскопом на платформефирмы AIST-NTSmartSPM, на котором реализованы 17 методик исследований, в частности, сканирующей туннельной микроскопии,4-хзондовых измерений электрических характеристик (в области 100´100 мкм), наноиндентирования материалов, термостатированногонагрева образцов до 160˚С, нанолитографии.
Образцы для исследований должны иметь вес не более 50 г, размер до 20 мм, шероховатость поверхности не ниже 12 класса обработки (для туннельной микроскопии образцы должны быть проводящими). Минимальный размер образцов 100 мкм.
Описание |
Атомно-силовое изображение кристаллической решетки графена. Размер изображения 2 нм (враз тоньше волоса). В 2010 году Андрей Гейм и Константин Новосёлов получили нобелевскую премию за исследование этого материала. |
Нанолитографическая надпись на поликарбонате (материал, использующийся при производстве CD-дисков). Получается при воздействии иглы зонда (с радиусом закругления 10 нм) на пластичный материал. |
Изображение фрактала из наночастиц торфа. Подобная самоорганизация получается после осаждения из капли концентрированного водного раствора торфа или чернозема при нормальных условиях. |
При коммутации в контактных соединениях из-заэкстратоков, искровых явлений, растут потери электроэнергии, электрическая эрозия. Использование в электроконтактной аппаратуре (выключателях) специальных наноструктурированных металлических контактов. |
