Результаты испытаний по определению сроков активного существования микроконтроллеров ATMega128 при дозовых воздействиях

П. А. ЧУБУНОВ1,2, Н. Г. РАДОВСКИЙ1,2, И. И. ШАГУРИН1.

1Национальный исследовательский ядерный университет «МИФИ»

2 космического приборостроения», Москва

РЕЗУЛЬТАТЫ ИСПЫТАНИЙ ПО ОПРЕДЕЛЕНИЮ СРОКОВ АКТИВНОГО СУЩЕСТВОВАНИЯ МИКРОКОНТРОЛЛЕРОВ

ATMega128 ПРИ ДОЗОВЫХ ВОЗДЕЙСТВИЯХ

В докладе представлены результаты испытаний по определению сроков активного существования микроконтроллеров ATMega128 в условиях дозовых воздействий ионизирующих излучений при различных мощностях дозы и температурах. Облучения проводились в активном режиме при различных мощностях дозы (10; 1; 0.1; 0.01 рад/с), при различной температуре (25; 55; 85 °С). Функциональный и параметрический контроль проводился в автоматическом режиме с помощью разработанного КП» модуля обеспечения функционирования и считывания информации. Показано, что при воздействии повышенных температур сроки активного существования увеличиваются в результате термического отжига.