Научный совет РАН по электронной микроскопии
Федеральное государственное бюджетное учреждение науки Институт проблем технологии микроэлектроники и особочистых материалов Российской академии наук
Федеральное государственное бюджетное учреждение науки Институт кристаллографии им. Российской академии наук
Мероприятие проводится при финансовой поддержке Российского фонда фундаментальных исследований, Проект №
ПРОГРАММА
XIX Российского симпозиума
по растровой электронной микроскопии
и аналитическим методам исследования твердых тел
и
3-й Школы молодых ученых
«Современные методы электронной и зондовой микроскопии в исследованиях наноструктур и наноматериалов»
РЭМ – 2015
г. Черноголовка, 1 – 4 июня 2015г.
План проведения Симпозиума и Школы
1 июня (Понедельник)
10.00 – 10.10 Открытие Школы
10.10 – 13.10 Лекции Школы
13.10 – 14.10 Обед
14.10 – 18.20 Лекции Школы
19.00 Welcome Party Sponsored by FEI and Technoinfo
(Для участников Школы и Симпозиума)
2 июня (Вторник)
9.30 – 9.35 Открытие Симпозиума
9.35 – 13.25 Заседания Симпозиума
13.25 – 14.30 Обед
14.30 – 16.35 Заседания Симпозиума
16.35 – 19.00 Сообщения о новых разработках оборудования
17.30 – 19.00 Стендовая сессия для секций I, II, III, V
3 июня (Среда)
9.00 – 14.00 Заседания Симпозиума (физика)
14.00 – 15.30 Обед (физика)
15.30 – 18.00 Стендовая сессия для секции IV (физика)
11.00 – 13.00 Стендовая сессия для секции VI (биология)
13.00 – 14.30 Обед (биология)
14.30 – 18.00 Заседания Симпозиума (биология)
4 июня (Четверг)
9.00 – 13.10 Заcедания Симпозиума
13.10 Закрытие Симпозиума
3-я Школа молодых ученых «Современные методы электронной и зондовой микроскопии в исследованиях наноструктур и наноматериалов»
В рамках XIX Российского симпозиума по растровой электронной микроскопии и аналитическим методам исследования твёрдых тел
Программа лекций
1 июня, понедельник 10.00 – 18.20
10.00 – 10.10 Приветственное слово к участникам:
10.10 – 10.55 Ernst Jan Vesseur
FEI, The Netherlands
State of the art Scanning Electron Microscopy
10.55 – 11.35
Физико-технический институт РАН им.
Развитие количественных подходов исследования механических характеристик нанообъектов методами АСМ
Coffee brake 11.35-11.55
11.55 – 12.35
ИТЭФ им.
Томографические атомно-зондовые исследования наноструктуры конструкционных материалов
12.35 – 13.10 ,
ИОФ РАН
Возможности конфокальной микроскопии для исследования объемных характеристик полупроводниковых материалов
Обед 13.10 – 14.10
14.10 – 14.50
ИК РАН
Сканирующая и просвечивающая электронная микроскопия для исследования биоматериалов
14.50 – 15.25
МИЭТ
Применение методов сфокусированного ионного пучка в исследованиях материалов
15.25 – 16.00 Ernst Jan Vesseur
FEI, The Netherlands
Applications of DualBeam: sample preparation, 3D imaging and nanoprototyping
16.00 – 16.30 Пашаев Эльхан Мехралиевич
НИЦ «Курчатовский институт»
Рентгеновская диагностика многослойных наноразмерных гетероструктур
Coffee brake 16.30-16.50
16.50 – 17.20
МГУ им. , Биологический факультет
Методы трехмерной электронной микроскопии в изучение коннектомов
17.20 – 17.50
Институт биологии развития им.
Методы сверхразрешения в флуоресцентной и конфокальной микроскопии
17.50 – 18.20
НИЦ «Курчатовский институт»
Исследование пространственной микроструктуры пористых материалов методом трехмерной реконструкции по данным ФИП/РЭМ
19.00 Welcome Party Sponsored by FEI and Technoinfo
РЭМ – 2015
ПРОГРАММА УСТНЫХ ДОКЛАДОВ
2 июня, вторник 9.30 – 13.25
Открытие Симпозиума
Приветственное слово к участникам: ёв
Магниторезонансная силовая микроскопия ферромагнитных наноструктур 25 мин.
,
Магнитно-силовая микроскопия планарных ферромагнитных наноструктур 20 мин.
, ,
Зондовая микроскопия эпитаксиальных структур из металлов: морфология и магнитные свойства 20 мин.
, , O. Lübben, S. A. Krasnikov, B. E. Murphy, K. Radican, I. V. Shvets, V. Grushko, A. Chepugov, N. Novikov, E. Mitskevich, O. Lysenko
Роль величины туннельного промежутка и орбитальной структуры зонда в сканирующей туннельной микроскопии атомарного разрешения 20 мин.
Перерыв 20 мин. (11.20 – 11.40)
Силовая и электрическая нанолитография с помощью сканирующего зондового микроскопа 20 мин.
Исследование формирования микро - и нанодоменных структур в одноосных сегнетоэлектриках методами сканирующей зондовой микроскопии 20 мин.
Инновации в сканирующей зондовой микроскопии 25 мин.
Методы сканирующей зондовой спектроскопии 20 мин.
13.25 – 14.30 Обед
Продолжение 14.30 – 16.35
, ,
Измерение коэрцитивного поля и локальной проводимости тонких сегнетоэлектрических пленок Pb(Zr, Ti)O3 с помощью методов сканирующей зондовой микроскопии 20 мин.
Модификация метода дифракции обратно рассеянных электронов (EBSD) 20 мин.
Обзор математических моделей электронной оптики изображающих систем 20 мин.
, ,
Гибридный электронно-зондовый 3D нанопринтер – наноскоп 20 мин.
, ,
Режимы гибридного наноскопа для проведения комплексных исследований 20 мин.
Продолжение 16.35 – 19.00
Информационные сообщения представителей фирм о новых разработках диагностического и измерительного оборудования
17.30 – 19.00 Стендовая сессия для секций I, II, III, V
3 июня, среда 9.00 – 14.00
, ,
Рассеяние электронов металлическими наночастицами в низковольтной растровой электронной микроскопии 20 мин.
,
Стимулированное облучением низкоэнергетичным электронным пучком движение дислокаций в плоскости (0001) в латерально-зарощенных пленках GaN 20 мин.
, ,
Новые возможности и перспективы методов электронной спектроскопии в сканирующем электронном микроскопе 20 мин.
, ,
Современные методы растровой ионной микроскопии для создания оптических
метаматериалов и плазмонных наноструктур 20 мин.
, ,
Некоторые аспекты зарядки сегнетоэлектрика LiNbO3, обнаруженные при записи доменов электронным лучом в РЭМ 20 мин.
Перерыв 20 мин. (11.05 – 11.25)
, ,
Модификация металлических наноструктур с помощью ионных пучков 20 мин.
, ,
Применение методов ВРЭМ и РСМА для контроля структурообразования в композитах ПТФЭ при воздействии гамма-излучения выше температуры плавления кристаллитов 20 мин.
, , А. Гонцу,
Т. Лупашку
Растровая и атомно-силовая микроскопия наноструктурированных материалов и нанокомпозитов на основе природных полимеров 20 мин.
,
Особенности применения сканирующей зондовой микроскопии в минералогических исследованиях 20 мин.
, , , ,
, ,
Применение сканирующей электронной и зондовой микроскопии для изучения продуктов кайнозойской вулканической и гидротермальной
деятельности Камчатки 20 мин.
,
Статическая и динамическая атомно-силовая микроскопия
наномостиков хризотила 20 мин.
14.00 – 15.30 Обед (физика)
15.30 – 18.00 Стендовая сессия для секции IV (физика)
3 июня, среда 11.00 – 18.00
11.00 – 13.00 Стендовая сессия для секции VI (биология)
13.00 – 14.30 Обед (биология)
14.30 – 18.00 Устные доклады (биология)
, , ,
Морфология и агрегация самоорганизующихся пептидов RADA-16
, ,
Исследование деформаций адгезионных микрощетинок геккона токи
(Gekko gecko L.)
, ,
Роль αС областей фибриногена в образовании фибриновых волокон по данным атомно-силовой микроскопии высокого разрешения
Перерыв 20 мин.
Применение сканирующей электронной микроскопии в гидробиологии: проблемы и
перспективы
Сравнительная РЭМ морфология личинок клещей-паразитенгон – паразитов позвоночных и беспозвоночных животных
, , ,
Особенности взаимодействия патогенных стафилококков разных видов с клетками культуры НТ-29 по данным сканирующей электронной микроскопии
4 июня, четверг 9.00 – 13.30
, ,
Исследование методами EBIC, LBIC и оптической микроскопии дефектов в плоскости скольжения дислокаций в кремнии 20 мин.
, ,
Исследование магнитной структуры аморфных микропроводов в стеклянной изоляции с помощью сканирующей электронной и зондовой микроскопии и магнитооптики 20 мин.
, ,
Растровая электронная микроскопия пористого кремния, полученного методом ионной имплантации 20 мин.
, ,
Модифицирующее влияние Ni и Mo на структуру износостойких нанокристаллических покрытий на основе TiN 20 мин.
Исследование в РЭМ фторидных монокристаллов, обнаруживающих коротковолновую люминесценцию 20 мин.
Перерыв 20 мин. (11.05 – 11.25)
Исследование переходных областей КНИ гетероструктуры монокремний-стекловидный диэлектрик-монокремний МЭМС тензорезистивного преобразователя давления методами растровой электронной и зондовой микроскопии 20 мин.
,
Возможности методов дифракции обратно отраженных электронов для исследования микроструктуры ферритно-перлитных сталей
,
Исследование ультратонких пленок C60 при помощи сканирующей туннельной микроскопии 20 мин.
, ,
Ионная литография единичных плазмонных наноструктур в тонких слоях благородных металлов 20 мин.
13.10 Закрытие Симпозиума
ПРОГРАММА Стендовых СЕССИЙ
2 июня, вторник 17.30 – 19.00
Секция I. Электронная оптика и новые приборы, обработка изображений
Исследование влияния толщины оксидных наноразмерных структур титана на их мемристорные свойства
, ,
Разработка и исследование технологии наноразмерной взрывной литографии на основе фокусированных ионных пучков
, ,
Меры для калибровки растровых электронных микроскопов в широком диапазоне увеличений
, , ,
,
Моделирование работы просвечивающего электронного микроскопа на графических процессорах
, ,
Устройство манипулирования микрообъектами для электронной микроскопии
, ,
, ,
Оптимизация процесса совмещения в технологии электронно-лучевой литографии наноструктур
, ,
Оптимизация электростатического отклонения пучка в низковольтной электронно-зондовой системе для литографии с полем сканирования 200x200 мкм2
, ,
Обработка РЭМ изображений с использованием морфологической и байесовской фильтрации
, ,
Моделирование изображений длинноволновых неоднородностей в аморфных сплавах
, ,
Анализ сеточных структур на РЭМ-изображениях
, ,
Аналитическое описание диаграмм эмиттанса и распределение плотности тока в пучке
Вторичные электроны в низковольтной установке электронно-лучевой литографии
,
Эквивалентный цилиндр 2
2 июня, вторник 17.30 – 19.00
Секция II. Растровая электронная, растровая просвечивающая электронная, ионная микроскопия, аналитические и дифракционные методы
Применение фокусированного ионного пучка для манипуляций с нанопроволоками
, ,
Микропластическая деформация кремния вблизи перехода пластичность-хрупкость. РЭМ и АСМ анализ структуры и электрических свойств дефектов
,
Визуализация подповерхностных наноструктур в РЭМ и определение их положения в глубине образца
,
Метод наведенного тока в исследованиях полупроводниковых приборов большой мощности
Исследование формирования сигнала, образованного истинно вторичными электронами, при низковольтном режиме работы РЭМ
, ,
Исследования динамики формирования пленок ЕuО на (001) Si методом ПРЭМ
, ,
,
РЭМ анализ композиционных тонких пленок на основе анизотропных нанопорошков металлов
, ,
Морфология и структура модифицированной поверхности пленки SnO2 методом вакуумной конденсации Ag, Au и Pd
C. Б. Кущев, , ,
,
Сравнение значений размеров меры МШПС-2К, полученных с помощью РЭМ и ПЭМ
Зависимость контаминации образца в высоковакуумном РЭМ от режима сканирования
Новая фундаментальная матричная поправка для количественного рентгеноспектрального
микроанализа
Определение диффузионной длины и времени жизни неосновных носителей заряда в нитриде галлия по зависимости интенсивности катодолюминесценции от энергии электронов пучка
, , , S. Bauer, C. Grund, J. Helbing, M. Hocker, K. Thonke, I. Tischer
Соотношение плазменных и одноэлектронных потерь энергии для быстрых электронов, прошедших тонкую пленку вещества
Исследование влияния температурного отжига in-situ на микроструктуру ленты NbTi методами ПРЭМ
, ,
, ,
Исследование введенных при деформации индентором дефектов упаковки в 4H-SiC
,
Тестирование полупроводниковых преобразователей бета-излучения с помощью РЭМ
, ,
Структура и состав многослойных пленок Fe/Si
, , Е. Б Модин, , Ko-Wei Lin
Использование моделей спектров вторичной рентгеновской флуоресценции для определения условий измерений в рентгеноспектральных методах анализа вещества
, ,
Моделирование прямоугольных углублений, формируемых фокусированным ионным пучком
,
Автоэмиссионные катоды на основе углеродных нанотрубок и металлических нанозондов
, Д. А. Галимзянов
О возможности использования модифицированного метода наименьших квадратов для расчета пространственного распределения неосновных носителей заряда, генерированных электронным зондом в полупроводнике
, ,
Исследования InAlAs/InGaAs/InAlAs HEMT-гетероструктур на подложках InP методами просвечивающей растровой электронной микроскопии
, , ёв,
Структурные изменения аморфных сплавов системы Fe-Cu-Nb-Si-B (FINEMET) при изотермическом отжиге
, ,
К вопросу об определении диффузионной длины и рекомбинационной активности границ зерен в кремнии с помощью LBIC и EBIC методов
,
Дисперсионный магнитный анализатор для спектроскопии энергии электронов
, ,
Влияние облучения в РЭМ на дефекты упаковки в 4H-SiC
2 июня, вторник 17.30 – 19.00
Секция III. Сканирующая зондовая микроскопия и зондовая нанолитография
Исследование фазового состава и доменной структуры керамик BixFe1-xO3 методами микроскопии пьезоэлектрического отклика и дифракции обратно-рассеянных электронов
, , J. B. Walker, T. Rojac, ,
Исследование морфологии рельефа нанопокрытия серебра на слюде и измерение вольт-амперных характеристик
, ,
Зарядовые состояния поверхности сегнетомягких материалов
, ,
|
Из за большого объема этот материал размещен на нескольких страницах:
1 2 |
