Российская Академия наук

Учреждение Российской академии наук

Санкт-Петербургский Академический университет –
научно-образовательный центр нанотехнологий РАН

Материалы тестовой системы для промежуточной аттестации
по курсу ТС-3

«Численное моделирование эпитаксиальных процессов»

образовательной программы опережающей профессиональной подготовки, ориентированной на потребности проектных компаний , реализующих инвестиционные проекты в области разработки технологии и производства эпитаксиальных пластин и чипов излучателей и детекторов для сверхскоростных оптических межсоединений.

Материалы разработаны д. ф.-м. н

©

Санкт-Петербург

2011 г.

Контрольно-измерительные материалы для оценивания итоговых результатов по курсу «Численное моделирование эпитаксиальных процессов»

Для контроля усвоения данного курса учебным планом предусмотрен зачет, который проводится в форме теста. Подготовка к итоговому тесту требует повторения материала лекций и материалов, предлагаемых для изучения в учебных пособиях и дополнительной литературы. Критерии оценивания приведены в программе курса.

Кроме того, программой курса предусмотрен промежуточный контроль.

Целью прохождения промежуточного и итогового контроля является закрепление системных знаний о современных методах эпитаксиального синтеза методом молекулярно-пучковой эпитаксии.

1. Критерии оценивания

1.1. Итоговый контроль.

При оценивании знаний слушателей по итоговому тестированию:

оценка «отлично» выставляется, если в итоговом тестировании дано не менее 85% правильных ответов;

НЕ нашли? Не то? Что вы ищете?

оценка «хорошо» выставляется, если при тестировании дано 70% - 84% правильных ответов;

оценка «удовлетворительно» выставляется, если при тестировании дано 60% - 69% правильных ответов;

оценка «неудовлетворительно» выставляется, если при тестировании дано не более 59% правильных ответов.

1.2. Текущий контроль.

При оценивании знаний слушателей, при проверке выполнения письменных внеаудиторных заданий:

Оценка «отлично» выставляется, если:

-  усвоена теоретическая часть работы;

-  правильно сформулирована цель работы;

-  правильно изложен алгоритм выполнения работы;

-  слушатель правильно и аргументировано ответил на все вопросы при допуске к работы.

Оценка «хорошо» выставляется, если:

-  усвоена теоретическая часть работы;

-  правильно сформулирована цель работы;

-  допущены неточности при изложении алгоритма выполнения работы;

-  слушатель правильно ответил на 80% вопросов при допуске к работе.

Оценка «удовлетворительно» выставляется, если:

-  не полностью усвоена теоретическая часть работы;

-  правильно сформулирована цель работы;

-  допущены неточности при изложении алгоритма выполнения работы;

-  слушатель правильно ответил на 50% вопросов при допуске к работе.

Оценка «неудовлетворительно» выставляется, если:

-  не усвоена теоретическая часть работы;

-  не правильно сформулирована цель работы;

-  не изложен алгоритм выполнения работы;

слушатель не ответил правильно на 50% вопросов при допуске к работе.

Материалы тестовой системы для промежуточной аттестации слушателей курса «Численное моделирование эпитаксиальных процессов»

1. Инструкция к выполнению теста.

Выберете правильный ответ из предложенных вариантов.

2. Вопросы тестовой системы для промежуточной аттестации слушателей по курсу «Численное моделирование эпитаксиальных процессов»

Вопрос № 1

Вопрос: Разбиение области пространства, в которой решается дифференциальное уравнение - это:

а) разностная сетка;

б) дифференциальная сетка;

в) аппроксимационное разбиение

Вопрос № 2

Вопрос: Как называется совокупность системы дифференциальных уравнений и начальных условий к ней:

а) задача Эйлера;

б) задача Лейбница;

в) задача Коши.

Вопрос № 3

Вопрос: Назовите способ оценки погрешности численного решения задачи Коши :

а) способ Грина

б) способ конечных элементов

в) способ Рунге.

Вопрос № 4

Вопрос: Какой из этих методов не является разностным:

а) метод конечных элементов

б) метод конечных площадей

в) метод конечных объемов

Вопрос № 5

Вопрос: Молекулярность пучка достигается при давлении в камере:

а) 10-5 Торр;

б) 3*10-6 Торр;

в) 10-10 Торр

Вопрос № 6

Вопрос: В качестве источников металлов во время молекулярно-пучковой эпитаксии используются

а) газы (силан, арсин, фосфин,..)

б) твердые расплавы металлов

в) порошки

Вопрос № 7

Вопрос: В качестве источника азота во время роста нитрида галлия методом МПЭ чаще всего используется:

а) газообразный азот

б) высокочастотная азотная плазма

в) аммиак

Вопрос № 8

Вопрос: Какой из методов диагностики является основным для определения морфологии поверхности во время МПЭ роста:

а) дифракция быстрых электронов,

б) лазерная интерферометрия

в) пирометрия

Вопрос № 9

Вопрос: В чем проявляется основное преимущество МПЭ в сравнении с газофазной эпитаксией:

а) возможность роста с очень малыми скоростями

б) создание резких интерфейсов

в) большая однородность и меньшее количество деффектов

Вопрос № 10

Вопрос: Зачем бывает необходим отжиг пленок после эпитаксиального роста:

а) Для улучшения морфологии поверхности

б) Для улучшения оптических свойств

в) Для улучшения электрических свойств

г) Для всех перечисленных вариантов

Вопрос № 11

Вопрос: К какому из перечисленных типов принадлежит метод Монте-Карло:

а) динамический

б) статистический

Вопрос № 12

Вопрос: Метод Монте-Карло наиболее эффективно применяется для анализа:

а) морфологии поверхности пленки

б) скорости осаждения материала

в) состава выращенной пленки

Вопрос № 13

Вопрос: Как называется закон, описывающий зависимость эффективности параллельных процессов от их количества:

а) закон Адамара

б) закон Амдала

в) закон Дейксты

Вопрос №14

Вопрос: Алгоритм Дейксты и Шолтена относится к области:

а) параллельных вычислений

б) алгоритмов на разностных сетках

в) разновидности метода Монте-Карло

Вопрос № 15

Вопрос: Как называется группа компьютеров, работающих параллельно как единая система:

а) сервер

б) сеть

в) кластер

Вопрос № 16

Вопрос: При увеличении количества процессов производительность системы:

а) монотонно увеличивается

б) остается неизменной

в) увеличивается, переходя к насыщению

Вопрос № 17

Вопрос: Увеличение какого параметра существенно снижает эффективность параллельных вычислений:

а) доля последовательных вычислений

б) доля параллельных вычислений

в) количество процессов

Вопрос № 18

Вопрос: К какому типу разностных сеток относится треугольная сетка:

а) структурированная

б) неструктурированная

Вопрос № 19

Вопрос: Метод Гаусса решения систем линейных алгебраических уравнений относится к:

а) вариационным

б) итерационным

в) рекурсивным

г) прямым

Вопрос № 20

Вопрос: Метод Зейделя решения систем линейных алгебраических уравнений относится к:

а) вариационным

б) итерационным

в) рекурсивным

г) прямым

Вопрос № 21

Вопрос: Число арифметических операций, выполняемых при решении системы линейных алгебраических уравнений порядка n по формуле Крамера

пропорционально:

а) 2n3/3

б) n!

в) n*ln(n)

г) n2

Вопрос № 22

Вопрос: К каким видам матриц применяется метод прогонки:

а) диагональным

б) симметричным

в) треугольным

г) трехдиоганальным

Вопрос № 23

Вопрос: Линейная задача о распространении тепла посредством теплопроводности сводится к решению какого типа уравнения:

а) гиперболического

б) эллиптического

в) параболического

Вопрос № 24

Вопрос: Центральными вопросами метода сеток являются вопросы:

а) аппроксимации

б) сходимости

в) точности

г) устойчивости

Вопрос № 25

Вопрос: Стационарные процессы описываются, прежде всего, уравнениями:

а) гиперболического

б) эллиптического

в) параболического

3. Ключи для проверки тестов

Номер вопроса

Номер правильного ответа

Номер вопроса

Номер правильного ответа

1

а

14

а

2

в

15

в

3

с

16

в

4

б

17

а

5

в

18

б

6

в

19

б

7

б

20

б

8

а

21

а

9

а

22

г

10

г

23

в

11

б

24

б

12

а

25

б

13

б