Einstein-II TFT. Ультразвуковой дефектоскоп (стр. 1 )

Einstein-II TFT

УЛЬТРАЗВУКОВОЙ ДЕФЕКТОСКОП

РУКОВОДСТВО ПО ЭКСПЛУАТАЦИИ

Содержание

1. Введение 2

2. Назначение 2

3. Технические характеристики дефектоскопа 3

4. Устройство и принцип работы дефектоскопа 4

5. Органы управления дефектоскопом 7

6. Работа с прибором 8

7. Интерфейс принтера 16

8. Соединение с ПК 17

9. Питание 17

10. Меры предосторожности 18

1. Введение

1.1. Ультразвуковой дефектоскоп Einstein-II TFT (далее по тексту – дефектоскоп) – это современный портативный прибор, предназначенный для ультразвукового неразрушающего (UT) контроля сплошности материалов. Дефектоскоп как прибор понятен и доступен в освоении, но при этом обладает широкой функциональностью и имеет высокую эксплуатационную надёжность.

1.2. Прибор оснащен цветным жидкокристаллическим (ЖК) дисплеем с подсветкой, позволяющей выполнять работы как при недостаточном освещении, так и под прямыми солнечными лучами. Полностью заряженный аккумулятор устройства обеспечивает не менее 8 часов непрерывной автономной работы, при этом время подзарядки составляет 2,5 часа. Информационные данные, полученные в процессе проведения ультразвукового контроля, могут быть непосредственно распечатаны на принтере с интерфейсом RS-232 или переданы для хранения и обработки на персональный компьютер (ПК).

2. Назначение

2.1. Ультразвуковой дефектоскоп Einstein-II TFT – это электронно-акустическое устройство, предназначенное для возбуждения – приёма ультразвуковых колебаний и преобразования их в вид, удобный для вывода на электронный дисплей, снабжённое сервисными устройствами для измерения параметров принятых сигналов.

2.2. Дефектоскоп Einstein-II TFT в соответствии с принятой классификацией ГОСТ 23049 является ультразвуковым дефектоскопом общего назначения (УЗДОН) и предназначен для обнаружения дефектов, измерения глубин их залегания и измерения отношения амплитуд сигналов от дефектов.

2.3. Дефектоскоп имеет следующие сервисные возможности:

─  память программ настройки (всего 50 настроек);

─  память А-Скан изображений (всего 200 ячеек);

─  регулировка усиления с минимальным шагом дискретности 0,5 dB;

─  два независимых строба автоматической сигнализации дефекта (АСД);

─  построение DAC (ВРЧ, временная регулировка чувствительности) кривых;

─  вывод на дисплей семейства DAC кривых: основная, –6 dB, и –14 dB;

─  режим ZOOM: увеличение рабочей области до размера экрана;

─  режим FREEZE: "заморозка" текущего изображения экрана;

─  режим HOT KEY: оперативное изменение текущего параметра;

─  функция LOCK: блокирование всех функциональных клавиш;

─  звуковое подтверждение нажатия функциональных клавиш;

─  звуковое и световое сопровождение срабатывания системы АСД;

─  встроенные часы и календарь;

─  10 цветовых контрастных схем дисплея;

─  связь с принтером (непосредственная) и персональным компьютером;

─  подключение преобразователей посредством разъёмов типа Lemo-1 и BNC.

2.4. Дефектоскоп может быть использован для проведения ультразвукового неразрушающего контроля качества продукции при ее изготовлении, монтаже и эксплуатации в таких промышленных отраслях как машиностроение, энергетика, аэрокосмическая, металлургическая, химическая и нефтехимическая, трубопроводный и железнодорожный транспорт.

2.5. Дефектоскоп сохраняет полную функциональную работоспособность при контроле материалов и изделий со скоростями распространения ультразвуковых волн в диапазоне от 1000 до 9000 м/с. Диапазоны толщин контролируемого изделия (по стали) от 01.01.01 mm.

2.6. По функциональному назначению дефектоскоп относится ко второй группе ультразвуковых дефектоскопов общего назначения по ГОСТ 23049, по конструктивному исполнению – к переносным, по степени участия оператора в процессе контроля – к ручным.

2.7. Диапазон рабочих температур дефектоскопа от – 20 до + 55 ºС при верхнем значении относительной влажности 95% при + 35 ºС без конденсации влаги.

2.8. Дефектоскоп виброустойчив по ГОСТ 23049 и предназначен для работы в любом пространственном положении, удобном для оператора.

2.9. В зависимости от воздействия агрессивных и взрывоопасных сред дефектоскоп является обыкновенным по ГОСТ 23049.

3. Технические характеристики дефектоскопа

3.1. Общие технические характеристики:

Диапазон контроля	10 mm – 5 м по стали; регулировка с шагом 1 – 10 mm
Диапазон скорости звука	1000 – 9000 м/с; регулировка с шагом 1 – 10 м/с
Диапазон задержки	до 3 м; регулировка с шагом 0,5 – 5 mm
Усиление	100 dB с шагом 0,5; 1; 2; 6; 12 или 20 dB
Компенсированная отсечка	диапазон установки от 0 – 100% с индикацией
Детектирование	по фронту сигнала с фильтром
Диапазон частот	0,5 – 10 МГц
Режимы работы	эхо-импульсный, теневой, зеркально-теневой метод
Разъёмы для ПЭП	BNC и Lemo-1, по два на каждый канал (Rx и Tx)
Отображение	отображение и визуальная регулировка стробов, два вида отображения сигнала (контур и импульсы с заполнением)
Память для А-сканов	200 изображений с последующей передачей на ПЭВМ или распечаткой на принтере через интерфейс RS-232
Память настроек	рассчитана на сохранение 50 настроек прибора
Программное обеспечение	для приёма и обработки данных по А-сканам
Интерфейс для принтера	прибор способен распечатывать протоколы контроля напрямую через принтер
Дисплей	высококонтрастный цветной TFT дисплей с хорошей устойчивостью к низким температурам (до -20° C)
Полноэкранный режим	отображения сигнала на весь экран с минимальным количеством информации
ВРЧ (DAC)	настройка и вывод на дисплей семейства кривых ВРЧ (DAC): основная / –6 dB / –14 dB
Автоматическое определение координат дефекта	при работе с наклонными ПЭП прибор определяет и выводит на экран: расстояние «по лучу» от дефекта до ПЭП, вертикальную и горизонтальную проекцию положения дефекта
Питание	Li-Ion аккумуляторы 14,4 VDC, 4 Ah, обеспечивают работу на протяжении не менее 8 часов; номинальная зарядка - 2,5 часа
Зарядное устройство	сеть 100/240 VAC с индикатором зарядки
Рабочий диапазон температур	прибор сохраняет функциональную работоспособность в диапазоне -20÷55 ºC
Габариты	152×255×70 mm
Вес	2,3 кг с аккумуляторами

3.2. Стандартная комплектация:

Наименование

Ультразвуковой дефектоскоп Einstein II TFT (с цветным дисплеем)

Аккумулятор ATB-1 Li-Ion, 14,4 VDC

Зарядное устройство ATC-1

Защитный чехол ETK для Einstein II

Транспортировочный чемодан EL-371

Программное обеспечение на компакт-диске EinSoft-1

Кабель для соединения Einstein II с ПК Eincord-1

Кабель для соединения Einstein II с принтером Eincord-2

Руководство по эксплуатации (на русском и английском языках)

Свидетельство о метрологической сертификации в органах Госпотребстандарта Украины

Ультразвуковые преобразователи 3шт.

Кабель соединительный для преобразователей

4. Устройство и принцип работы дефектоскопа

4.1. Дефектоскоп Einstein-II TFT – одноканальный ультразвуковой прибор для исследования однородных материалов на наличие включений, трещин, пористой структуры и других несплошностей, которые могут влиять на рабочие характеристики объекта контроля (далее по тексту – ОК). Дефектоскоп может быть использован для контроля толщины однородных материалов при одностороннем доступе к ОК.

4.2. В основу работы дефектоскопа положена способность ультразвуковых колебаний (далее по тексту – УЗК) распространяться в ОК и отражаться от внутренних дефектов структуры и границ материалов. Отражение УЗК связано с разностью акустического импеданса несплошности и основного материала ОК. Чем больше разность импеданса, тем больше отражается ультразвуковой энергии от несплошности.

4.3. Возбуждение УЗК в контролируемом изделии осуществляется с использованием пьезоэлектрического эффекта преобразователями электрических колебаний в механические (далее по тексту – пьезоэлектрические преобразователи, ПЭП). Отражённые от дефектов УЗК воспринимаются ПЭП. Полученные электрические колебания в дефектоскопе проходят усиление, преобразовываются в цифровую форму, претерпевают соответствующую обработку и результат выводится на дисплей. Отображение отраженных сигналов на дисплее дефектоскопа осуществляется в виде развертки типа А (далее по тексту – А-скан). Анализируя А-скан, оператор принимает решение о наличии в ОК несплошности структуры и её местоположении.

4.4. Определение толщины ОК или глубины залегания дефекта проводится по принципу измерения времени распространения ультразвукового импульса в исследуемом материале.