Перечень нормативных документов по стандартизации, выпущенных КП»
№ п/п | Название документа | Номер | Цена, без НДС | НДС (18%) | Всего: |
«Аппаратура радиоэлектронная бортовая космических аппаратов. Типовая методика учета невосстановления критериальных параметров после радиационно-термической обработки при неразрушающем прямом экспериментально-аналитическом определении предельной накопленной дозы интегральных микросхем типа «металл-окисел-проводник». | РД 134-0143-2005 | 3150,0 | 567,00 | 3717,00 | |
«Аппаратура радиоэлектронная бортовая космических аппаратов. Типовая методика экспериментально-аналитического определения радиационного коэффициента интенсивности отказов интегральных микросхем типа «металл-оксид-полупроводник». | РД 134-0150-2007 | 3150,0 | 567,00 | 3717,00 | |
«Аппаратура радиоэлектронная бортовая космических аппаратов. Типовая методика экспериментально-аналитического определения оптимальных характеристик переключения режима функционирования интегральных микросхем типа «металл-оксид-полупроводник» с целью повышения срока активного функционирования резервированной аппаратуры в условиях воздействия естественного ионизирующего излучения космического пространства». | РД 134-0151-2008 | 3150,0 | 567,00 | 3717,00 | |
«Аппаратура радиоэлектронная бортовая космических аппаратов. Типовая методика обеспечения защиты радиоэлектронной аппаратуры космических аппаратов от ионизирующего излучения космического пространства в части дозовых радиационных эффектов за счет локального экранирования критических узлов». | РД 134-0163-2008 | 3600,0 | 648,00 | 4248,00 | |
«Аппаратура радиоэлектронная бортовая космических аппаратов. Типовая методика неразрушающего определения индивидуальных характеристик дозовой стойкости интегральных микросхем типа «металл-оксид-полупроводник» к ионизирующим излучениям космического пространства». | РД 134-0168-2008 | 3150,0 | 567,00 | 3717,00 | |
6. | «Аппаратура радиоэлектронная бортовая космических аппаратов. Типовой технологический процесс проведения низкоинтенсивного облучения интегральных микросхем типа «металл-оксид-полупроводник». | РД 134-0169-2008 | 3150,0 | 567,00 | 3717,00 |
7. | «Аппаратура радиоэлектронная бортовая космических аппаратов. Типовой технологический процесс проведения низкотемпературного отжига интегральных микросхем типа «металл-оксид-полупроводник». | РД 134-0170-2008 | 3150,0 | 567,00 | 3717,00 |
8. | «Аппаратура радиоэлектронная бортовая космических аппаратов. Методы расчета показателей стойкости интегральных микросхем к воздействию заряженных частиц космического пространства по одиночным сбоям и отказам по результатам прямых испытаний на ускорителях заряженных частиц». | РД 134-0174-2009 | 3600,0 | 648,00 | 4248,00 |
9. | «Аппаратура радиоэлектронная бортовая космических аппаратов. Методы испытаний цифровых сверхбольших интегральных микросхем на воздействие отдельных высокоэнергетических протонов и тяжелых заряженных частиц космического пространства на ускорителях заряженных частиц». | РД 134-0175-2009 | 3600,0 | 648,00 | 4248,00 |
10. | «Аппаратура радиоэлектронная бортовая космических аппаратов. Метод отбраковки потенциально ненадежных и отбора интегральных микросхем типа «металл-оксид-полупроводник» с повышенной стойкостью к ионизирующим излучениям космического пространства в части дозовых эффектов, имеющих аномальное поведение при облучении и отжиге». | РД 134-0186-2010 | 3150,0 | 567,00 | 3717,00 |
11. | «Аппаратура радиоэлектронная бортовая космических аппаратов. Методы испытаний аналоговых и аналогово-цифровых интегральных микросхем к воздействию одиночных высокоэнергетических протонов и тяжелых заряженных частиц космического пространства на ускорителях заряженных частиц». | РД 134-0191-2011 | 4000,0 | 720,0 | 4720,0 |
12. | «Аппаратура радиоэлектронная бортовая космических аппаратов. Методы испытаний мощных МОП-транзисторов к воздействию одиночных высокоэнергетических протонов и тяжелых заряженных частиц космического пространства на ускорителях заряженных частиц». | РД 134-0192-2011 | 4000,0 | 720,0 | 4720,0 |
13. | «Аппаратура радиоэлектронная бортовая космических аппаратов. Порядок функционирования, развития и эксплуатации информационно-справочной системы по стойкости электронной компонентной базы к естественным ионизирующим излучениям космического пространства». | РД-134-0193-2011 | 4000,0 | 720,0 | 4720,0 |
14. | «Аппаратура радиоэлектронная бортовая космических аппаратов. Экспериментально-аналитический метод уточнения срока активного существования с учетом особенностей условий эксплуатации». | РД-134-0195-2011 | 4000,0 | 720,0 | 4720,0 |
15. | «Аппаратура радиоэлектронная бортовая космических аппаратов. Типовая методика контроля стойкости к ионизирующим излучениям космического пространства в части дозовых эффектов, отбора и отбраковки биполярных электрорадиоизделий». | РД 134-0196-2011 | 4000,0 | 720,0 | 4720,0 |
16. | «Аппаратура радиоэлектронная бортовая космических аппаратов. Порядок оценки соответствия испытательных центров (лабораторий) контроля электронной компонентной базы на стойкость к воздействию естественных ионизирующих излучений космического пространства требованиям нормативных документов». | РД 134-0198-2012 | 4000,0 | 720,0 | 4720,0 |
17. | «Аппаратура радиоэлектронная бортовая космических аппаратов. Испытания электронной компонентной базы и радиоэлектронной аппаратуры на стойкость к воздействию ионизирующих излучений космического пространства. Термины и определения в части испытаний». | РД 134-0200-2012 | 4000,0 | 720,0 | 4720,0 |
Заместитель генерального директора-
заместитель главного конструктора В. С. Анашин
Основные порталы (построено редакторами)