Тесты, задачи и вопросы для промежуточного контроля по курсу
Методы диагностики материалов для фотоприёмников
№1
Изучение связи адсорбат-подложка – основное применение методов:
1. электронной спектроскопии;
2. ионной спектроскопии;
3. десорбционной спектроскопии.
Ответ: десорбционной спектроскопии. (3)
№2
В каком из методов поток электронов не является первичным возбуждением:
1. электронной оже-спектроскопии;
2. дифракции медленных электронов;
3. рентгеновской фотоэлектронной спектроскопии;
4. спектроскопии потенциала появления.
Ответ: рентгеновской фотоэлектронной спектроскопии. (3)
№3
Какой из методов приготовления атомарно-чистых поверхностей применим только к монокристаллам:
продолжительный прогрев в сверхвысоком вакууме; раскол кристалла в сверхвысоком вакууме; бомбардировка ионами инертных газов с последующим отжигом; обработка поверхности в восстановительной атмосфере.Ответ: раскол кристалла в сверхвысоком вакууме. (2)
№4
Для изучения атомарно-чистых поверхностей необходим вакуум:
1. 10-6 торр;
2. 10-7 торр;
3. 10-9 торр.
Ответ: 10-9 торр. (3)
№ 5
К методам электронной спектроскопии относят:
1. электронную оже-спектроскопию (ЭОС)
2. ионно-нейтрализационной спектроскопии (ИНС)
3. спектроскопия комбинационного рассеяния света (КРС)
Ответ: электронную оже-спектроскопию (ЭОС) (1)
№ 6
К методам ионной спектроскопии относят:
1. электронную оже-спектроскопию (ЭОС)
2. вторичной ионной масс-спектрометрии (ВИМС)
3. спектроскопия комбинационного рассеяния света (КРС)
Ответ: вторичной ионной масс-спектрометрии (ВИМС) (2)
№ 7
Информацию о составе адсорбированной на поверхности частице можно получить методами:
1. атомно-силовой микроскопии (АСМ)
2. вторичной ионной масс-спектрометрии (ВИМС)
3. спектроскопия комбинационного рассеяния света (КРС)
Ответ: спектроскопия комбинационного рассеяния света (КРС) (3)
№ 8
Чем определяются свойства наноматериалов:
1. коэффициентом пропускания
2. химическим составом
3. объёмными свойствами
Ответ: химическим составом (2)
№ 9
Какой основной критерий применяется для классификации наноматериалов:
1. размерный фактор
2. степень сродства к электрону
3. дефектность структуры
Ответ: размерный фактор (1)
№ 10
На сколько основных категорий можно разделить наноматериалы:
1. 2
2. 3
3. 4
Ответ: 4. (3)
№ 11
Материалы в виде твердых тел, размеры которых в одном, двух или трех пространственных координатах называют наноматериалами если они не превышают:
1. 1 нм
2. 20 нм
3. 100 нм
4. 500 нм
Ответ: 100 нм. (3)
№ 12
Материалы которые состоят из очень большого числа наноразмерных элементов (кристаллитов) называют:
1. нанокристаллические
2. наноразмерные
3. нанотрубки
Ответ: нанокристаллические. (1)
№ 13
Интенсивное развитие нанотехнологии, связано с созданием новых:
1. с уникальными свойствами наноматериалов
2. простотой получения
3. дешевизной
Ответ: с уникальными свойствами наноматериалов. (1)
№ 14
К наноматериалам условно относят материалы:
1. геометрические размеры, которых, хотя бы в одном измерении, не превышают 100 нм
2. обладающие качественно новыми свойствами
3. созданных на основании новых технологий
Ответ: геометрические размеры, которых, хотя бы в одном измерении, не превышают 100 нм. (1)
№ 15
Сколько электронов необходимо для реализации оже-процесса:
1; 2; 3;Ответ: 3. (3)
№ 16
Какие элементы нельзя определить методом электронной оже-спектроскопии:
H H, He H, He, LiОтвет: H, He. (2)
№ 17
Оже-спектр – это зависимость интенсивности тока электронов от:
кинетической энергии; энергии связи; энергии пропускания анализатора; атомного номера.Ответ: кинетической энергии. (1)
№ 18
Оже-переход – это:
излучательный процесс; безизлучательный процесс; комбинированный.Ответ: безизлучательный процесс. (2)
№ 19
Для исследования оже-спектров применяется элетронный пучок с энергией:
0-3000 эВ; 1000-25000 эВ; 1000-1000000 эВ.Ответ: 1000-25000 эВ. (2)
№ 20
Сколько вакантных уровней получается после оже-процесса:
0; 1; 2.Ответ: 2. (3)
№ 21
Какой процесс является конкурирующим для оже-процесса:
адсорбция атомов; рентгеновская флюоресценция; ядерный распад.Ответ: рентгеновская флюоресценция. (2)
№ 22
Какой из переходов является переходом Костера-Кронинга:
КL1L2; L1L2X; КL1L3; LM1M2.Ответ: L1L2X. (2)
№ 23
Какой из энергоанализаторов предпочтительнее использовать в методе электронной оже-спектроскопии:
анализатор с задерживающим полем; анализатор типа цилиндрическое зеркала; полусферический концентрический.Ответ: анализатор типа цилиндрическое зеркала. (2)
№ 24
Необходимость сверхвысокого вакуума в электронной оже-спектроскопии обусловлена:
Ответ: предотвращением адсорбции газов. (1)
№ 25
Для исследования методом электронной оже-спектроскопии необходим вакуум:
1. 108 Па;
2. 10-8 Па;
3. 10-5 торр.
Ответ: 10-8 Па. (2)
№ 26
Предназначение электронной пушки в методе электронной оже-спектроскопии:
1. для нейтрализации зарядового состояния поверхности;
2. для стравливания загрязнений с поверхности образца;
3. для формирования первичного электронного пучка.
Ответ: для формирования первичного электронного пучка. (3)
№ 27
Основным требование к электронной пушке в методе электронной оже-спектроскопии является:
1. максимальный ток;
2. максимальная плотность тока;
3. максимальный размер пучка.
Ответ: максимальная плотность тока. (2)
№ 28
Основным требование к энергоанализатору в методе электронной оже-спектроскопии является:
1. высокая разрешающая способность;
2. стоимость;
3. максимальная светосила.
Ответ: максимальная светосила. (3)
№ 29
LS -связь пригодна для элементов с малым атомным номером:
до 20; до 10; до 12.Ответ: до 20. (1)
№ 30
jj-связь является наилучшим способом описания электронного взаимодействия в элементах:
с большими атомными номерами; с малыми атомными номерами; для любых элементов.Ответ: с большими атомными номерами. (1)
№ 31
Какие элементы нельзя определить методом рентгеновской фотоэлектронной спектроскопией:
H H, He H, He, LiОтвет: H, He. (2)
№ 32
Для исследования методом электронной спектроскопией для химического анализа используется:
рентгеновское излучение; ультрафиолетовое излучение; ионный пучок.Ответ: рентгеновское излучение. (1)
№ 33
Фотоэлектронная эмиссия представляет собой:
неyпpyгий процесс; yпpyгий процесс; длительный процесс.Ответ: yпpyгий процесс. (2)
№ 34
Структура пиков остовных уровней является непосредственным отражением:
следствием дифракции рентгеновского излучения; структуры ядра атома; электронной структуры атома.Ответ: электронной структуры атома. (3)
№ 35
Какая величина не влияет на ширину пиков фотоэлектронов:
собственная ширина атомного уровня; разрешение анализатора; величина энергии первичного рентгеновского излучения.Ответ: величина энергии первичного рентгеновского излучения. (3)
№ 36
Какая компонента не учитывается в уравнении фотоэффекта:
кинетическая энергия вылетевшего электрона; энергия связи электрона; потенциал Моделунга.Ответ: потенциал Моделунга. (3)
№ 37
Спектр фотоэлектронов – это зависимость интенсивности тока электронов от:
кинетической энергии; энергии связи; рентгеновского излучения; атомного номера.Ответ: энергии связи. (2)
№ 38
Что означает величина jан в уравнении фотоэффекта Есв = hn - Екин - jан:
кинетическая энергия вылетевшего электрона; энергию уровня Ферми в образце; работу выхода анализатора.Ответ: работу выхода анализатора. (3)
№ 39
От чего не зависит интенсивность линии фотоэлектронного спектра:
энергии уровня Ферми в образце; концентрации элемента в исследуемой области; сечения ионизации атомного уровня.Ответ: работу выхода анализатора. (3)
№ 40
Выход фотоэлектронов происходит с глубины:
1-5 мкм; 1-100 нм; 0,5-10 нм.Ответ: 0,5-10 нм. (3)
№ 41
Какой из энергоанализаторов предпочтительнее использовать в методе рентгеновской фотоэлектронной спектроскопии:
магнитный энергоанализатор; анализатор типа цилиндрическое зеркала; полусферический энергоанализатор.Ответ: полусферический энергоанализатор. (3)
№ 42
Основным требование к энергоанализатору в методе рентгеновской фотоэлектронной спектроскопии является:
4. высокая разрешающая способность;
5. стоимость;
6. максимальная светосила.
Ответ: высокая разрешающая способность. (1)
№ 43
Исследовательским зондом в методе вторичной ионной масс-спектрометрии является:
1. пучок электронов;
рентгеновское излучение; пучок ионов.Ответ: пучок ионов. (3)
№ 44
Характер взаимодействия первичных ионов с атомами матрицы является:
1. упругим процессом;
неупругим процессом; комбинированным процессом.Ответ: комбинированным процессом. (3)
№ 45
Какие элементы можно определить методом вторичной ионной масс-спектрометрии:
все; все кроме водорода и гелия; все кроме водорода.Ответ: все. (1)
№ 46
Какие процессы преобладают при исследовании методом вторичной ионной масс-спектрометрии:
1. упругое рассеяние первичных ионов;
распыление поверхности образца; имплантация первичных ионов.Ответ: распыление поверхности образца. (2)
№ 47
Метод вторичной ионной масс-спектрометрии позволяет проводить:
1. элементный анализ;
структурный анализ; исследовать химическое состояние элементов.Ответ: элементный анализ. (1)
№ 48
Коэффициент вторичной ионной эмиссии SА это:
число вылетевших ионов на один падающий ион; число падающий ионов на один вылетевших ионов; число падающий ионов на один вылетевших электрон.Ответ: число вылетевших ионов на один падающий ион. (1)
№ 49
Какие газы используются в источниках первичных ионов в методе вторичной ионной масс-спектрометрии:
1. H2;
He; N2.Ответ: N2. (3)
№ 50
Какие жидкие металлы не используются в источниках первичных ионов в методе вторичной ионной масс-спектрометрии:
1. Ga;
2. Cs;
3. Pb.
Ответ: Pb. (3)
№ 51
Какой из энергоанализаторов предпочтительнее использовать в методе вторичной ионной масс-спектрометрии:
1. квадрупольный масс-анализатор;
анализатор типа цилиндрическое зеркало; полусферический энергоанализатор.Ответ: квадрупольный масс-анализатор. (2)
№ 52
Необходимость сверхвысокого вакуума для метода вторичной ионной масс-спектрометрии обусловлена:
предотвращением адсорбции газов; свободным пролетом анализируемых частиц; предотвращением окисления поверхности образца.Ответ: свободным пролетом анализируемых частиц. (2)
№ 53
Для исследования методом вторичной ионной масс-спектрометрии достаточен вакуум:
1. 10-2 Па;
2. 10-6 Па;
3. 10-4 торр.
Ответ: 10-8 Па. (2)
№ 54
Метод вторичной ионной масс-спектрометрии является:
качественным, в некоторых случаях полуколичественным; полуколичественным; только количественным.Ответ: качественным, в некоторых случаях полуколичественным. (1)
№ 55
Основные ограничения метода вторичной ионной масс-спектрометрии для исследования твердых тел:
1. электрическая проводимость;
механическая твердость; разрушение под пучком ионов.Ответ: электрическая проводимость. (1)
Основные порталы (построено редакторами)