МИНИСТЕРСТВО образованиЯ И НАУКИ
Российской Федерации
Федеральное государственное автономное образовательное учреждение
высшего профессионального образования
ЮЖНЫЙ ФЕДЕРАЛЬНЫЙ УНИВЕРСИТЕТ
Химический факультет
УТВЕРЖДАЮ
Декан__________________ Б.
“____” _____________ 20 г.
РАБОЧАЯ ПРОГРАММА ДИСЦИПЛИНЫ
«Работа с химическими базами данных.
Методы диагностики неорганических фаз и материалов»
По направлению подготовки
020100 – Химия
Магистерская программа
Современный органический и неорганический синтез
Квалификация выпускника
магистр
Форма обучения
очная
Ростов-на-Дону
2011
1. Цели освоения дисциплины
Большое разнообразие классов современных неорганических материалов требует, чтобы магистр-химик мог ориентироваться во всём спектре доступных экспериментальных методов и подобрать в каждом случае адекватную приборную базу и оптимальную технологию работы с ними. Государственный стандарт высшего образования предполагает владение важнейшими экспериментальными методами. Этот курс также способствует расширению общенаучного кругозора студентов магистратуры.
Цель данного курса – обучить студентов магистратуры возможностям получения разнообразной информации о свойствах вещества (электрических, магнитных, фазовом и элементном составе, внутреннем строении, размере частиц, дефектности). Это является основой для применения этих знаний в разнообразных прикладных областях.
В программу дисциплины включены важнейшие физические методы. Производится ознакомление с современными программными продуктами и международными базами данных.
В практической части проводится ознакомление с приборами, освоение экспериментальных методик, решение практических задач качественного и количественного анализа.
Задачи курса – приобретение студентами знаний о теоретическом фундаменте диагностики неорганических фаз и материалов, его связи с системой естественных наук и современными производственными технологиями.
2. Место дисциплины в структуре ООП
Дисциплина «Методы диагностики неорганических фаз и материалов», относится к вариативной части (курсы вуза) цикла профессиональных дисциплин, изучается в 3 семестре 2-го курса обучения.
Лекционный курс основан на знаниях по квантовой химии, общей физике, кристаллохимии, объём которых определяется программами младших курсов и считается усвоенным.
Лекционный курс охватывает все разделы программы и строится с опережением практикума. Он состоит из разделов, посвящённым отдельным классам материалов, предназначенным для их исследования физическим методам и оборудованию, а также обзора современных задач.
3. Компетенции обучающегося, формируемые в результате освоения дисциплины «Методы диагностики неорганических фаз и материалов»
В результате освоения дисциплины частично формируются следующие компетенции: ОК-2, ОК-5; ОК-6, ПК-1, ПК-2, ПК-3, ПК-4, ПК-5.
В результате освоения дисциплины студент будет:
Знать:
- классификацию и возможности различных методов исследования материалов;
- основы физики рентгеновских лучей;
- условия получения нейтронограмм и электронограмм;
- основы работы рентгеновских трубок, синхротронов, изотопных источников;
- основные закономерности дифракции рентгеновских лучей на кристаллической решётке; схему использования дифракционных данных для установления фазового состава;
- основные этапы установления структуры по дифракционным данным; связь структурных факторов с интенсивностями отражений и расположением атомов в элементарной ячейке;
- воздействие текстуры, размера частиц и дефектов структуры на дифракционную картину;
- виды переходов, проявляющие активность в ИК-, УФ-, рентгеновском и гамма-диапазоне;
- типичные элементы, на которых можно наблюдать эффект Мёссбауэра;
- возможности, предоставляемые оптической и сканирующей микроскопией;
- основные особенности измерений электрических свойств на переменном и постоянном токе;
- факторы, влияющие на магнитные свойства и условия магнитных измерений.
Уметь:
- выбирать адекватный метод исследования для данного класса материалов и поставленной научной задачи;
- пользоваться компьютерными программами для выделения и характеризации пиков на рентгенограмме или нейтронограмме, индицирования и уточнения параметров элементарной ячейки;
- пользоваться рентгенометрической картотекой для рентгенофазового анализа;
- интерпретировать кристаллографическое описание результатов рентгеноструктурного анализа;
- определять из рентгенограммы размер частиц, степень и направление их преимущественной ориентации,
- интерпретировать спектры Мёссбауэра с точки зрения химического двига и квадрупольного расщепления;
- интерпретировать спектры ИК - и КР-,
- интерпретировать спектры ЯМР и ЭПР,
- работать на оптическом, поляризационном и сканирующем микроскопе.
Владеть:
- базовыми знаниями основных разделов дисциплины в объёме, необходимом для усвоения других специальных дисциплин;
- навыками применения полученных знаний и умений при изучении последующих курсов и при работе в прикладных областях.
4. Структура и содержание дисциплины «Методы диагностики неорганических фаз и материалов»
Общая трудоемкость дисциплины составляет 6 зачетных единиц (216 часов), из них лекции составляют 30 часов, семинарские занятия – 45 часов, экзамен – 36 часов, на самостоятельную работу студентов отведено 105 часов.
Календарно-тематический план изучения
дисциплины «Методы диагностики неорганических фаз и материалов»
№ п/п | Раздел Дисциплины | Се ме стр | Неделя семес тра | Виды уч. работы, вкл. СРС и трудоемкость (в часах) | Форма текущ. Контр. усп-ти по не делям | Фор ма промежут. Аттес тации | ||
Л | Пр | СРС | ||||||
1 | Обзор методов исследования неорганических материалов Дифракционные методы. Общие положения спектроскопии. Классическая и современная микроскопия. Электрические и магнитные измерения. | 3 | 1 | 2 | 3 | 7 | Собеседование | |
2 | Основы физики рентгеновских лучей. Рентгеновские трубки, синхротроны и изотопные источники. Средства регистрации. Методы дифракции электронов и нейтронов, их особенности в сравнении с дифракцией рентгеновских лучей при исследовании структуры материалов. Принципиальная схема дифрактометра общего назначения. Источники ошибок при измерении углов и интенсивностей, способы их устранения. Знакомство с рентгеновским оборудованием и съёмка образцов Программы для анализа профилей и индицирования. Сравнение рентгеновского и нейтронного профилей. Индицирование поликристаллического материала средней и низшей категории. Анализ текстур и размера кристаллитов | 2-5 | 8 | 15 | 35 | Самост. раб. | ||
3 | Виды энергетических уровней в атомах, молекулах и конденсированных средах. Комбинационный принцип Ритца. Стоксовы и антистоксовы линии. Электронные спектры. Термы. Правило Лапорта. Правила отбора. Рентгеновские спектры. Спектры переходных элементов. Тонкая структура рентгеновского поглощения. Оценка эффективных зарядов атомов рентгеноспектральным методом. Рентгеноэлектронные и фотоэлектронные спектры. Энергия связи внутренних электронов и её зависимость от степени окисления элемента и природы окружения. | 6-7 | 4 | 6 | 14 | Собеседовани | Контрраб. | |
4 | Инфракрасная и микроволновая спектроскопия. Колебательные спектры. Валентные и деформационные колебания. Правило альтернативного запрета для ИК - и КР-спектроскопии. Техника получения спектров. Растворители и кюветы. Вращательные спектры и их анализ. Спектры электронного парамагнитного резонанса и ядерного магнитного резонанса. Виды спектрометров ЭПР и ЯМР. «ЯМР широких линий» для твёрдых тел. Импульсные спектрометры. Интенсивность, ширина и тонкая (сверхтонкая) структура линий. Химический сдвиг. Спин-спиновое взаимодействие. Релаксация. | 8-9 | 4 | 6 | 14 | Собеседование | ||
5 | Ядерный квадрупольный резонанса. Активные ядра. Константа квадрупольного взаимодействия и исследование природы химической связи. Мультиплеты и информация о структуре. Гамма-резонансная спектроскопия. Мёссбауэровские ядра. Эффект Допплера. Изомерный (химический) сдвиг. Квадрупольное расщепление. Получение информации о степени окисления и координации Мёссбауэровского атома. Магнитное сверхтонкое расщепление. | 9–10 | 4 | 6 | 14 | Собеседование Сам. раб. | ||
6 | Электропроводность твёрдых тел. Виды носителей. Температурная зависимость. Измерения на постоянном и переменном токе. Обратимые и блокирующие электроды. Двух - и четырёхзондовые методы. Определение знака носителей. Импедансная спектроскопия. Эквивалентные схемы. Подгонка параметров эквивалентных схем. Диэлектрическая проницаемость и родственные величины. Мосты переменного тока и измерители иммитанса. Измерение диэлектрической проницаемости и импедансная спектроскопия Процессы заряда и разряда электродных материалов на постоянном токе. Хронопотенциометрия и циклическая вольтамперометрия. | 11-12 | 4 | 6 | 14 | Собеседование Сам. раб | Прак. Зада-ние | |
7 | Магнитная восприимчивость. Определение методом Фарадея. Магнитный момент. Закон Кюри. Определение степени окисления и спинового состояния. Виды магнетиков. Температурная зависимость магнитных свойств. | 13 | 2 | 3 | 7 | Собеседовани Сам. раб | Прак. Задания | |
8 | Оптические микроскопы. Подготовка шлифов. Оптические схемы. Иммерсионные жидкости. Поляризационные микроскопы и наблюдения в скрещенных николях. Электронные микроскопы. Современные типы сканирующих микроскопов – атомный туннельный микроскоп, атомный силовой микроскоп и родственные им разработки. Важнейшие детали и чувствительность. Применение сканирующих микроскопов для анализа наноскопической структуры вещества. | 14-15 | 4 | 6 | 14 | Собеседование самост раб | ||
Экзамен | 36 | |||||||
30 | 45 | 105 | ||||||
ИТОГО | 216 часов |
4.2. Содержание дисциплины
«Методы диагностики неорганических фаз и материалов»
Тема 1. Обзор методов исследования неорганических материалов (2 часа)
Дифракционные методы. Общие положения спектроскопии. Классическая и современная микроскопия. Электрические и магнитные измерения. Термический анализ. Исследование механических свойств.
Тема 2. Дифракционные методы исследования материалов (8 часов)
Основы физики рентгеновских лучей. Рентгеновские трубки, синхротроны и изотопные источники. Средства регистрации.
Методы дифракции электронов и нейтронов, их особенности в сравнении с дифракцией рентгеновских лучей при исследовании структуры материалов. Метод постоянной длины волны и времяпролётный метод.
Условия получения интерференционного максимума. Монохроматоры. Принципиальная схема дифрактометра общего назначения. Источники ошибок при измерении углов и интенсивностей, способы их устранения.
Качественный и количественный рентгенофазовый анализ, их возможности и ограничения. Пользование рентгенометрической картотекой. Применение эталонов и метода добавок.
Индицирование рентгенограмм моно - и поликристаллов. Критерии правильности индицирования. Расчёт плотности. Программы для индицирования. Прецизионное определение параметров ячеек.
Значение текстур в материаловедении. Исследование текстур: качественное выявление характера и индексов текстуры, определение степени ориентации в текстурах укладки.
Анализ уширения дифракционных максимумов. Разделение вкладов, обусловленных малым размером кристаллитов и дефектностью структуры. Оценка размеров кристаллитов.
Основные этапы и основные проблемы расшифровки структуры. Систематические погасания и определение дифракционной группы. Интенсивности дифракционных максимумов. Множители поглощения, повторяемости, атомные множители рассеяния и тепловые параметры. Структурные факторы. Уточнение структуры, критерии достоверности расшифровки.
Автоматизация дифракционного эксперимента. Центры коллективного пользования, базы данных, пакеты прикладных программ и способы доступа к ним.
Тема 3. Спектроскопические методы исследования материалов (14 час.)
Виды энергетических уровней в атомах, молекулах и конденсированных средах. Комбинационный принцип Ритца. Равновесная заселённость уровней. Люминесценция. Стоксовы и антистоксовы линии. Электронные спектры. Термы. L-S и j-j связи. Правило Лапорта. Правила отбора.
Рентгеновские спектры. Спектры переходных элементов. Оптические и УФ - и ИК-спектры. Тонкая структура рентгеновского поглощения. Оценка эффективных зарядов атомов рентгеноспектральным методом. Рентгеноэлектронные и фотоэлектронные спектры. Энергия связи внутренних электронов и её зависимость от степени окисления элемента и природы окружения. Внутренняя конверсия и оже-спектроскопия.
Инфракрасная и микроволновая спектроскопия. Колебательные спектры. Силовая постоянная. Валентные и деформационные колебания. Правило альтернативного запрета для ИК - и КР-спектроскопии. Техника получения спектров. Растворители и кюветы. Вращательные спектры и их анализ.
Спектры электронного парамагнитного резонанса и ядерного магнитного резонанса. Виды спектрометров ЭПР и ЯМР. «ЯМР широких линий» для твёрдых тел. Импульсные спектрометры. Интенсивность, ширина и тонкая (сверхтонкая) структура линий. Химический сдвиг. Спин-спиновое взаимодействие. Релаксация.
Ядерный квадрупольный резонанса. Активные ядра. Константа квадрупольного взаимодействия и исследование природы химической связи. Мультплеты и информация о структуре.
Гамма-резонансная спектроскопия. Мёссбауэровские ядра. Эффект Допплера. Изомерный (химический) сдвиг. Квадрупольное расщепление. Получение информации о степени окисления и координации Мёссбауэровского атома. Магнитное сверхтонкое расщепление.
Тема 4. Электрические и магнитные измерения (3 часов)
Электропроводность твёрдых тел. Виды носителей. Температурная зависимость. Измерения на постоянном и переменном токе. Обратимые и блокирующие электроды. Двух - и четырёхзондовые методы. Определение знака носителей. Иммитансная спектроскопия. Эквивалентные схемы. Подгонка параметров эквивалентных схем. Диэлектрическая проницаемость и родственные величины. Мосты переменного тока и измерители иммитанса.
Процессы заряда и разряда электродных материалов на постоянном токе. Хронопотенциометрия и циклическая вольтамперометрия.
Магнитная восприимчивость. Определение методом Фарадея. Магнитный момент. Закон Кюри. Определение степени окисления и спинового состояния. Виды магнетиков. Температурная зависимость магнитных свойств.
Тема 5. Микроскопия (3 часа)
Оптические микроскопы. Подготовка шлифов. Оптические схемы. Иммерсионные жидкости. Поляризационные микроскопы и наблюдения в скрещенных николях.
Электронные микроскопы.
Современные типы сканирующих микроскопов – атомный туннельный микроскоп, атомный силовой микроскоп и родственные им разработки. Важнейшие детали и чувствительность. Применение сканирующих микроскопов для анализа наноскопической структуры вещества.
5. Образовательные технологии.
Преподавание дисциплины ведется с применением следующих видов образовательных технологий:
- информационные технологии - использование электронной образовательной среды для более контактного взаимодействия преподавателя и студентов (INCAMPUS, ИИК); использование программ для выделения пиков (WinPlotr), индицирования (ITO, DICVOL) и уточнения параметров ячейки (CELREF), рентгенометрической картотеки (PDF-2) и картотеки кристаллических структур ICSD; оригинальных программ ProfileShow и Immitance, программ для обработки спектров ИК, КР, ЯМР, ЯГР.
- проблемное обучение - стимулирование студентов к самостоятельному приобретению знаний, необходимых для решения конкретной проблемы;
- контекстное обучение - мотивация студентов к усвоению знаний путем выявления связей между конкретным знанием и его применением;
- обучение на основе опыта – активизация познавательной деятельности студентов за счет ассоциации и собственного опыта обращения с предметом изучения.
Основной тип лекций – информационная, мотивационная; установочная или лекция-консультация.
6. Учебно-методическое обеспечение самостоятельной работы студентов
6.1. Виды самостоятельной работы студентов:
– выполнение домашнего задания по решению задач и упражнений в письменном виде;
– подготовка к самостоятельным работам;
– самостоятельные и контрольные работы с использованием программных продуктов и заданий в электронном виде.
6.2. Формы контроля самостоятельной работы студентов:
Оценивание уровня учебных достижений студентов осуществляется в виде текущего контроля и итоговой аттестации (в виде экзамена).
Текущая аттестация проводится лектором в следующих формах:
– групповое собеседование;
– письменные домашние задания по решению задач и упражнений.
6.3. Вопросы для самоподготовки
1. Методы дифракции электронов и нейтронов, их особенности в сравнении с дифракцией рентгеновских лучей при исследовании структуры материалов.
2. Принципиальная схема дифрактометра общего назначения.
3. Критерии правильности индицирования.
4. Исследование текстур.
5. Основные этапы и основные проблемы расшифровки структуры.
6. Термы. L-S и j-j связи.
7. Энергия связи внутренних электронов и её зависимость от степени окисления элемента и природы окружения.
8. Правило альтернативного запрета для ИК - и КР-спектроскопии.
9. «ЯМР широких линий» для твёрдых тел.
10. Получение информации о степени окисления и координации Мёссбауэровского атома.
11. Температурная зависимость магнитных свойств.
12. Импедансная спектроскопия.
13. Процессы заряда и разряда электродных материалов на постоянном токе.
14. Поляризационные микроскопы и наблюдения в скрещенных николях.
6.4. Задачи и упражнения для самоконтроля
1. Какие методы следует использовать для изучения:
а) степени окисления и координационного числа железа в тёмно-коричневом бутылочном стекле?;
б) координационного числа хрома в кристалле рубина?;
в) природы поверхностного слоя на металлическом алюминии?;
г) природы кристаллических микровключений в керамическом карбиде кремния?;
д) соотношения между кремнием и кальцием в гидратированном цементе?;
е) положения атомов водорода в порошкообразном гидриде палладия?;
ж) существования или отсутствия магнитного упорядочения в MnO?
2. Какими микроскопическими методиками следует воспользоваться для изучения:
а) текстуры металлического образца?;
б) однородности раздробленного образца стекла?;
в) таких дефектов как дислокации, дефекты упаковки, двойникование?;
г) возможного загрязнения слои кристаллической содой?
3. Даны длины волн характеристического излучения двух элементов. Используя интерполяцию по закону Мозли, вычислите длину волны соответствующей линии третьего элемента. Проверьте результат по справочнику.
4. Имеются рентгеновские трубки с анодами из железа, кобальта и меди. Не используя справочных данных, выберите те, которые наиболее пригодны для фазового анализа указанной системы.
5. Дана рентгенограмма псевдокубического вещества. Укажите сингонию, индексы линий, а также вид искажения: растяжение или сжатие, вдоль какого направления.
6. Дана формула вещества, относящегося к одному из простейших структурных типов, и индексы нескольких отражений. Учитывая расположение атомов в структуре и в периодической системе, оцените качественно структурные факторы и предскажите, какие отражения будут интенсивными, какие слабыми, какие совсем не будут наблюдаться на рентгенограмме. Будет ли то же самое на нейтронограмме? (см. справочник Миркина, с.845–847).
7. Расчёт плотности по кристаллографическим данным или обратная задача: определение содержимого или параметра ячейки по плотности.
8. Известны Лауэ-класс, систематические погасания и некоторые физические свойства кристалла. Используя справочники, определите пространственную группу. Если ответ неоднозначен, укажите, какие нужны дополнительные эксперименты.
9. Почему в общем случае намного легче охарактеризовать органические вещества, чем немолекулярные органические материалы?
10. При каких условиях можно использовать оптическую микроскопию и рентгенофазовый анализ для определения чистоты твёрдых веществ?
11. Чем отличается изображение в поляризационном микроскопе следующих веществ, находящихся в измельчённом состоянии: а) плавленого кремнезёма; б) кристаллического кварца; в) хлорида натрия; г) металлической меди?
12. Перечислите и сравните возможности методов, которые можно использовать для идентификации и изучения двух кристаллических веществ: а) иодоформа CHI3; б) иодида кадмия CdI2?
6.5. Перечень вопросов к экзамену по дисциплине
1) Дифракционные методы исследования материалов
Рентгеновские трубки, синхротроны и изотопные источники. Средства регистрации. Методы дифракции электронов и нейтронов, их особенности в сравнении с дифракцией рентгеновских лучей при исследовании структуры материалов.
Условия получения интерференционного максимума. Монохроматоры. Принципиальная схема дифрактометра общего назначения. Источники ошибок при измерении углов и интенсивностей, способы их устранения.
Качественный и количественный рентгенофазовый анализ, их возможности и ограничения. Пользование рентгенометрической картотекой.
Индицирование рентгенограмм моно - и поликристаллов. Критерии правильности индицирования. Программы для индицирования. Прецизионное определение параметров ячеек.
Значение текстур в материаловедении. Исследование текстур.
Анализ уширения дифракционных максимумов. Разделение вкладов, обусловленных малым размером кристаллитов и дефектностью структуры.
Основные этапы и основные проблемы расшифровки структуры. Интенсивности дифракционных максимумов. Множители поглощения, повторяемости, атомные множители рассеяния и тепловые параметры. Структурные факторы. Уточнение структуры.
2) Спектроскопические методы исследования материалов
Виды энергетических уровней в атомах, молекулах и конденсированных средах. Комбинационный принцип Ритца. Стоксовы и антистоксовы линии. Электронные спектры. Термы. L-S и j-j связи. Правило Лапорта. Правила отбора.
Рентгеновские спектры. Оптические и УФ - и ИК-спектры. Тонкая структура рентгеновского поглощения. Оценка эффективных зарядов атомов рентгеноспектральным методом. Рентгеноэлектронные и фотоэлектронные спектры. Энергия связи внутренних электронов и её зависимость от степени окисления элемента и природы окружения.
Инфракрасная и микроволновая спектроскопия. Колебательные спектры. Силовая постоянная. Валентные и деформационные колебания. Правило альтернативного запрета для ИК - и КР-спектроскопии. Техника получения спектров. Растворители и кюветы. Вращательные спектры и их анализ.
Спектры электронного парамагнитного резонанса и ядерного магнитного резонанса. Виды спектрометромв ЭПР и ЯМР. «ЯМР широких линий» для твёрдых тел. Импульсные спектрометры. Интенсивность, ширина и тонкая (сверхтонкая) структура линий. Химический сдвиг. Релаксация.
Ядерный квадрупольный резонанса. Активные ядра. Константа квадрупольного взаимодействия и исследование природы химической связи. Мультплеты и информация о структуре.
Гамма-резонансная спектроскопия. Мёссбауэровские ядра. Эффект Допплера. Изомерный (химический) сдвиг. Квадрупольное расщепление. Получение информации о степени окисления и координации Мёссбауэровского атома. Магнитное сверхтонкое расщепление.
3) Электрические и магнитные измерения
Электропроводность твёрдых тел. Виды носителей. Температурная зависимость. Измерения на постоянном и переменном токе. Обратимые и блокирующие электроды. Двух - и четырёхзондовые методы. Определение знака носителей. Импедансная спектроскопия. Эквивалентные схемы. Подгонка параметров эквивалентных схем. Мосты переменного тока и измерители иммитанса.
Процессы заряда и разряда электродных материалов на постоянном токе. Хронопотенциометрия и циклическая вольтамперометрия.
Магнитная восприимчивость. Определение методом Фарадея. Магнитный момент. Закон Кюри. Определение степени окисления и спинового состояния. Виды магнетиков. Температурная зависимость магнитных свойств.
4) Микроскопия
Оптические микроскопы. Подготовка шлифов. Оптические схемы. Иммерсионные жидкости. Поляризационные микроскопы и наблюдения в скрещенных николях.
Электронные микроскопы.
Современные типы сканирующих микроскопов – атомный туннельный микроскоп, атомный силовой микроскоп и родственные им разработки. Важнейшие детали и чувствительность. Применение сканирующих микроскопов для анализа наноскопической структуры вещества.
7. Учебно-методическое и информационное обеспечение дисциплины «Методы диагностики неорганических фаз и материалов»
Основная литература
1. Вест а. Р. Химия твердого тела. В 2 томах. М.: Мир. 1988.
2. М. Рентгенография в неорганической химии. М. : МГУ. 1991.
3. Порай- А. Основы структурного анализа химических соединений. М.: Высшая школа. 1989.
4. С. и др. Кристаллография, рентгенография и электронная микроскопия. М.: Металлургия. 1982.
5. Б., Л., А. Рентгенография. Электронный учебник с практикумом. Ростов-на-Дону, ЮФУ, 2008 г.
6. Л. Тесты по рентгенографии. Ростов-на-Дону, ЮФУ, 2008 г.
7. Л., А. Иммитансная спектроскопия. Ростов-на-Дону, ЮФУ, 2007г.
Дополнительная литература
8. В., А. Физические методы исследования в химии. Структурные методы и оптическая спектроскопия. М, 1987.
9. В., А. Физические методы исследования в химии. Резонансные и электрооптические методы. М, 1989.
10. Инструкции к лабораторным работам, картотеке и программам.
Программное обеспечение и Интернет-ресурсы
1. Б., Л., А. Рентгенография. Электронный учебник с практикумом. Ростов-на-Дону: ЮФУ. 2008. Имеется на компьютерах кафедры (D:\STUDENTS\X-Rays).
2. Инструкции к лабораторным работам, базе данных и программам для обработки профиля, индицирования, уточнения параметров и сами программы – имеются в компьютерах кафедры (D:\STUDENTS\X-Rays).
3. MS Office, STRUVIR, демо-версии программы Diamond и баз данных ICSD и PDF-2, а также одна полная лицензионная база PDF-2 (выпуск 2007 г.).
Через прокси-сервер ЮФУ (например, из библиотеки) имеется доступ к полным текстам журналов большинства ведущих научных издательств.
Студентам рекомендуются специализированные поисковые системы Scholar. и .
Кроме того, через цифровой кампус и
8. Материально-техническое обеспечение «Методы диагностики неорганических фаз и материалов»
Лекционные занятия проводятся в специально подготовленной для демонстрации опытов аудитории, оснащенной также и презентационной техникой, таблицей Менделеева, плакатами-схемами. Используется авторский электронный учебник и авторские программы для обработки и визуализации данных.
В демонстрационных целях используются современный дифрактометр ARL’XTRA, дифрактометр ДРОН-2,0, измерители иммитанса, потенциостаты, металлографический и поляризационный микроскоп, доступ к ЯМР-, ИК - и ЯГР-спектрометрам, программные оболочки для рентгенометрической и структурной картотеки, другие программные продукты.
Программа составлена в соответствии с требованиями ФГОС ВПО с учетом рекомендаций и ПрООП ВПО магистратуры по направлению 020100 «Химия».
Автор – доцент Л.
Рецензент – ст. преподаватель Н.
Программа одобрена на заседании УМК химического факультета
От ____________________года, протокол № ________.
Основные порталы (построено редакторами)