3. Yang-Tse Cheng and Che-Min Cheng. Relationships between hardness, elastic modulus and the work of indentation // Applied Physics Letters, 1998. Vol. 73, № 5. рр. 614-618.

4. Mayrhofer P. H., Mitterer C., Musil J. Structure property relationships in single - and dual-phase nanocrystalline hard coatings // Surface and Coatings Technology, 2003. Vol. 174-175. рр. 725-731.

5. Musil J. Hard and superhard nanocomposite coatings// Surface and Coatings Technology, 2000. Vol. 125. рр. 322-330.

6. , , Moore J. J. Особенности структуры и физикомеханических свойств наноструктурных тонких пленок // Физика твердого тела, 2003. Том 45. Вып. 6. С. 1122-1129.

7. . Караваев трибологических характеристик пленок на основе ZrN путем оптимизации технологических условий процесса магнетронного распыления // Освоение минеральных ресурсов Севера: проблемы и решения. Воркута: Филиал СПГГИ (ТУ) «Воркутинский горный институт», 2011. С. 298.

8. , , Левашов методы оценки механических и трибологических свойств функциональных поверхностей. Матер. X Междунар. науч.-техн. конф. «Высокие технологии в промышленности России» XVI Междунар. симп. «Тонкие пленки в электронике». М.: «Техномаш», 2004. С. 311.

9. , , Фирстов структурного состояния материалов методом автоматического индентирования // Сб. докл. Харьковской нанотехнологической ассамблеи, 2006. Т. 1. С. 52-55.

10. , , Кирик и нанокомпозитные покрытия, структура, свойства // ФИП, 2007. Т. 5. № 1-2. С. 4-27.

11. Rafael R. Manory X-ray characterization of TiNx films with CaF2-type structure / Rafael R. Manory, G. Kimmel // Thin Solid Films, 1987. Vol. 150. рр. 277–282.

НЕ нашли? Не то? Что вы ищете?

12. Veprek S. The search for novel, superhard materials // Journal Vac. Sci. and Technol, 1999. Vol. A. № 17. рр. 2401-2420.

13. Шулаев результаты исследований причин прироста твердости в наноструктурных покрытиях нестехиометрического кубического нитрида титана // Вестник ХНАДУ, 2010. Вып. 51. С. 130-134.

14. верхтвердые покрытия из нанокомпозитов. Обзор зарубежной литературы// Металловедение и термическая обработка металлов, 2008. № 12. С. 41–47.

15. , , Шулаев -дуговые наноструктурные TiN покрытия // Вестник МГТУ "Станкин", 2010. № 3. С. 14-17.

16. Gleiter H. Nanostructured materials: basic concepts and microstructure // Acta mater, 2000. Vol. 48. рр. 1–29.

17. , , Метель источник пара материала проводящей мишени, распыляемой ионами с энергией 3 кэВ при давлении 0,05 Па // Приборы и техника эксперимента, 2009. № 5. С. 127–133.

Рис. 1. Сравнительные диаграммы интенсивностей дифракционных пиков кубической фазы TiN, приведенных к 100 % максимального пика, в интервале 25…800 (единый масштаб интенсивностей пиков всех дифрактограмм)

а)

б) в)

г) д)

е) ж)

з) и)

к) л)

Рис. 2. Графики зависимостей а), б), г), е), з,) к) физико-механических характеристик и в), д), ж) и), к) трибологических характеристик пленок от их структурных характеристик, фазового состава и ТехП процесса осаждения

Таблица 1

Физико-механические, структурные характеристики и напряжения в пленках, сформированных электродуговым испарением (ЭДИ) и магнетронным распылением (МР) (σвн–внутренние напряжения)

Материал пленки

Н,

ГПа

Е, ГПа

Н/Е

Н3/Е*2,

ГПа

L, нм

Тип тектуры

σвн, ГПа

Источник

TiN ЭДИ

33…56

402…480

0,222…0,806

10

[5]

TiN ЭДИ

25…27

320

0,089…0,100

0,197…0,270

15…30

(111)

[1]

TiN ЭДИ

41…53

410…440

0,100…0,129

0,430…0,885

15…30

(111)

[7]

TiN ЭДИ

34…39

[7]

TiN ЭДИ

45…47

[3]

TiN ЭДИ

45

0,527

0,9…2,9

[7]

TiN ЭДИ

40...68

410...470

0,145

1,15

15…30

(111)

[7]

TiN ЭДИ

56…59

[13]

TiN ВЧ МР

30…34

[15]


Таблица 1

Морфологические и структурные особенности пленок на основе TiN, сформированных ЭДИ (Тп – температура пленки в процессе осаждения)

ТехП

Тп, К

Морфологические и структурные особенности пленок на основе TiN

Р, Па

0,6

630**…690

Не плотная столбчатая подструктура пленки (СПП). Крупноячеистая поверхностная структура (ПС). Дефекты пленки: многочисленные крупные по всей поверхности пленки 3D образования в различном структурном состоянии: от глобулярной до столбчатой подструктуры. Локальные несплошности поверхности пленки (ЛНП) большой площади

0,8

640**…700

Не плотная СПП. Крупноячеистая ПС. Дефекты пленки: многочисленные мелкие и единичные крупные многоуровневые уплощенные 3D образования с неупорядоченной столбчатой подструктурой по всей поверхности пленки. ЛНП.

1,0*

645**…725

Нанокристаллическая пленка (НП). Равномерно-зернистая ПС с равноосными зернами. Дефекты пленки: немногочисленные мелкие стержневые образования (СО) с упорядоченной столбчатой подструктурой

1,2

650**…730

Плотная СПП. Мелкозернистая ПС. Дефекты пленки: многочисленные мелкие и единичные крупные многоуровневые уплощенные образования с упорядоченной столбчатой подструктурой по всей поверхности пленки. Увеличение размера кристаллитов

1,4

655*…735

Плотная СПП. Мелкозернистая ПС. Увеличение диаметра зерен с изменением формы выхода их на поверхность до удлиненной. Дефекты пленки: многочисленные мелкие и единичные крупные уплощенные 3D образования с упорядоченной столбчатой подструктурой по всей поверхности пленки. ЛНП пленки большой площади

Iд, А

90

650**…735

Плотная СПП. Мелкозернистая ПС. Дефекты пленки: многочисленные мелкие и двухуровневые крупные 3D образования со столбчатой подструктурой по всей поверхности пленки. ЛНП большой площади. Увеличение размера кристаллитов

100

655**…755

Плотная СПП. Неравномерная мелкозернистая ПС. Дефекты пленки: многочисленные мелкие и двухуровневые крупные 3D образования в различном структурном состоянии: от глобулярной подструктуры до столбчатой по всей поверхности пленки. ЛНП большой площади. Увеличение размера кристаллитов

Uсм, В

80

625**…675

Не плотная СПП. Крупноячеистая ПС. Дефекты пленки: многочисленные мелкие и единичные крупные уплощенные 3D образования в различном структурном состоянии: от глобулярной подструктуры до столбчатой. ЛНП большой площади

100

635**…700

Не плотная СПП. Среднеячеистая ПС пленки и фрактальная ПС образований. Дефекты пленки: многочисленные мелкие 3D и стержневые образования в различном структурном состоянии: от глобулярной подструктуры до столбчатой. Многочисленные ЛНП большой площади

150

640**…715

Не плотная СПП. Мелкоячеистая ПС пленки и фрактальная ПС образований. Дефекты пленки: многочисленные мелкие 3D, протяженные и двухуровневые СО в различном структурном состоянии: от глобулярной подструктуры до столбчатой. Многочисленные ЛНП

250

670**…745

Плотная СПП. Неравномерно зернистая ПС. Дефекты пленки: многочисленные мелкие 3D и протяженные СО с упорядоченной столбчатой подструктурой. Многочисленные ЛНП

L, мм

300

<620**…710

Неплотная СПП. Неравномерно зернистая ПС. Дефекты пленки: многочисленные мелкие 3D и стержневые образования с упорядоченной столбчатой подструктурой. Многочисленные ЛНП и загрязнения

330

<620**…680

Не плотная СПП. Крупноячеистая ПС. Дефекты пленки: многочисленные мелкие 3D образования в различном структурном состоянии: от глобулярной подструктуры до столбчатой. Многочисленные ЛНП

360

<620**…665

Неплотная СПП. Неравномерно зернистая ПС. Дефекты пленки: многочисленные мелкие 3D и протяженные СО с неупорядоченной столбчатой подструктурой. Единичные трещины до подложки

400

<620**…655

Неплотная СПП. Неравномерно зернистая ПС. Дефекты пленки: многочисленные мелкие 3D и не многочисленные СО в различном структурном состоянии: от глобулярной до столбчатой подструктуры с неравновесными структурами пластинчатого строения по периметру. Единичное разрушение 3D образований

N2, %

30

625**…660

Крупнозернистая СПП. Неравномерно зернистая ПС. Дефекты пленки: многочисленные 3D образования в различном структурном состоянии: от глобулярной до пластинчатой подструктуры. Локальное выкрашивание зерен

50

625**…670

Не плотная СПП. Крупноячеистая ПС пленки и фрактальная ПС образований. Дефекты пленки: многочисленные 3D образования в различном структурном состоянии: от глобулярной подструктуры до столбчатой. Загрязнения поверхности 3D образований

70

625**…680

Не плотная СПП. Мелкоячеистая ПС пленки и фрактальная ПС образований. Дефекты пленки: многочисленные 3D и уплощенные образования со столбчатой подструктурой. Единичные 3D образования с зернистой подструктурой. ЛНП

*1,0 Па; 80 А; 200 В; 270 мм; 90 %. **Первое значение Тп – температура пленки после 10 мин осаждения при температуре подложки после осаждения подслоя 613 К.

Из за большого объема этот материал размещен на нескольких страницах:
1 2 3 4 5