3. Yang-Tse Cheng and Che-Min Cheng. Relationships between hardness, elastic modulus and the work of indentation // Applied Physics Letters, 1998. Vol. 73, № 5. рр. 614-618.
4. Mayrhofer P. H., Mitterer C., Musil J. Structure property relationships in single - and dual-phase nanocrystalline hard coatings // Surface and Coatings Technology, 2003. Vol. 174-175. рр. 725-731.
5. Musil J. Hard and superhard nanocomposite coatings// Surface and Coatings Technology, 2000. Vol. 125. рр. 322-330.
6. , , Moore J. J. Особенности структуры и физикомеханических свойств наноструктурных тонких пленок // Физика твердого тела, 2003. Том 45. Вып. 6. С. 1122-1129.
7. . Караваев трибологических характеристик пленок на основе ZrN путем оптимизации технологических условий процесса магнетронного распыления // Освоение минеральных ресурсов Севера: проблемы и решения. Воркута: Филиал СПГГИ (ТУ) «Воркутинский горный институт», 2011. С. 298.
8. , , Левашов методы оценки механических и трибологических свойств функциональных поверхностей. Матер. X Междунар. науч.-техн. конф. «Высокие технологии в промышленности России» XVI Междунар. симп. «Тонкие пленки в электронике». М.: «Техномаш», 2004. С. 311.
9. , , Фирстов структурного состояния материалов методом автоматического индентирования // Сб. докл. Харьковской нанотехнологической ассамблеи, 2006. Т. 1. С. 52-55.
10. , , Кирик и нанокомпозитные покрытия, структура, свойства // ФИП, 2007. Т. 5. № 1-2. С. 4-27.
11. Rafael R. Manory X-ray characterization of TiNx films with CaF2-type structure / Rafael R. Manory, G. Kimmel // Thin Solid Films, 1987. Vol. 150. рр. 277–282.
12. Veprek S. The search for novel, superhard materials // Journal Vac. Sci. and Technol, 1999. Vol. A. № 17. рр. 2401-2420.
13. Шулаев результаты исследований причин прироста твердости в наноструктурных покрытиях нестехиометрического кубического нитрида титана // Вестник ХНАДУ, 2010. Вып. 51. С. 130-134.
14. верхтвердые покрытия из нанокомпозитов. Обзор зарубежной литературы// Металловедение и термическая обработка металлов, 2008. № 12. С. 41–47.
15. , , Шулаев -дуговые наноструктурные TiN покрытия // Вестник МГТУ "Станкин", 2010. № 3. С. 14-17.
16. Gleiter H. Nanostructured materials: basic concepts and microstructure // Acta mater, 2000. Vol. 48. рр. 1–29.
17. , , Метель источник пара материала проводящей мишени, распыляемой ионами с энергией 3 кэВ при давлении 0,05 Па // Приборы и техника эксперимента, 2009. № 5. С. 127–133.



Рис. 1. Сравнительные диаграммы интенсивностей дифракционных пиков кубической фазы TiN, приведенных к 100 % максимального пика, в интервале 25…800 (единый масштаб интенсивностей пиков всех дифрактограмм)
а) 
б)
в) 
г)
д) 
е)
ж) 
з)
и) 
к)
л) 
Рис. 2. Графики зависимостей а), б), г), е), з,) к) физико-механических характеристик и в), д), ж) и), к) трибологических характеристик пленок от их структурных характеристик, фазового состава и ТехП процесса осаждения
Таблица 1
Физико-механические, структурные характеристики и напряжения в пленках, сформированных электродуговым испарением (ЭДИ) и магнетронным распылением (МР) (σвн–внутренние напряжения)
Материал пленки | Н, ГПа | Е, ГПа | Н/Е | Н3/Е*2, ГПа | L, нм | Тип тектуры | σвн, ГПа | Источник |
TiN ЭДИ | 33…56 | 402…480 | 0,222…0,806 | 10 | [5] | |||
TiN ЭДИ | 25…27 | 320 | 0,089…0,100 | 0,197…0,270 | 15…30 | (111) | [1] | |
TiN ЭДИ | 41…53 | 410…440 | 0,100…0,129 | 0,430…0,885 | 15…30 | (111) | [7] | |
TiN ЭДИ | 34…39 | [7] | ||||||
TiN ЭДИ | 45…47 | [3] | ||||||
TiN ЭДИ | 45 | 0,527 | 0,9…2,9 | [7] | ||||
TiN ЭДИ | 40...68 | 410...470 | 0,145 | 1,15 | 15…30 | (111) | [7] | |
TiN ЭДИ | 56…59 | [13] | ||||||
TiN ВЧ МР | 30…34 | [15] |
Таблица 1
Морфологические и структурные особенности пленок на основе TiN, сформированных ЭДИ (Тп – температура пленки в процессе осаждения)
ТехП | Тп, К | Морфологические и структурные особенности пленок на основе TiN | |
Р, Па | 0,6 | 630**…690 | Не плотная столбчатая подструктура пленки (СПП). Крупноячеистая поверхностная структура (ПС). Дефекты пленки: многочисленные крупные по всей поверхности пленки 3D образования в различном структурном состоянии: от глобулярной до столбчатой подструктуры. Локальные несплошности поверхности пленки (ЛНП) большой площади |
0,8 | 640**…700 | Не плотная СПП. Крупноячеистая ПС. Дефекты пленки: многочисленные мелкие и единичные крупные многоуровневые уплощенные 3D образования с неупорядоченной столбчатой подструктурой по всей поверхности пленки. ЛНП. | |
1,0* | 645**…725 | Нанокристаллическая пленка (НП). Равномерно-зернистая ПС с равноосными зернами. Дефекты пленки: немногочисленные мелкие стержневые образования (СО) с упорядоченной столбчатой подструктурой | |
1,2 | 650**…730 | Плотная СПП. Мелкозернистая ПС. Дефекты пленки: многочисленные мелкие и единичные крупные многоуровневые уплощенные образования с упорядоченной столбчатой подструктурой по всей поверхности пленки. Увеличение размера кристаллитов | |
1,4 | 655*…735 | Плотная СПП. Мелкозернистая ПС. Увеличение диаметра зерен с изменением формы выхода их на поверхность до удлиненной. Дефекты пленки: многочисленные мелкие и единичные крупные уплощенные 3D образования с упорядоченной столбчатой подструктурой по всей поверхности пленки. ЛНП пленки большой площади | |
Iд, А | 90 | 650**…735 | Плотная СПП. Мелкозернистая ПС. Дефекты пленки: многочисленные мелкие и двухуровневые крупные 3D образования со столбчатой подструктурой по всей поверхности пленки. ЛНП большой площади. Увеличение размера кристаллитов |
100 | 655**…755 | Плотная СПП. Неравномерная мелкозернистая ПС. Дефекты пленки: многочисленные мелкие и двухуровневые крупные 3D образования в различном структурном состоянии: от глобулярной подструктуры до столбчатой по всей поверхности пленки. ЛНП большой площади. Увеличение размера кристаллитов | |
Uсм, В | 80 | 625**…675 | Не плотная СПП. Крупноячеистая ПС. Дефекты пленки: многочисленные мелкие и единичные крупные уплощенные 3D образования в различном структурном состоянии: от глобулярной подструктуры до столбчатой. ЛНП большой площади |
100 | 635**…700 | Не плотная СПП. Среднеячеистая ПС пленки и фрактальная ПС образований. Дефекты пленки: многочисленные мелкие 3D и стержневые образования в различном структурном состоянии: от глобулярной подструктуры до столбчатой. Многочисленные ЛНП большой площади | |
150 | 640**…715 | Не плотная СПП. Мелкоячеистая ПС пленки и фрактальная ПС образований. Дефекты пленки: многочисленные мелкие 3D, протяженные и двухуровневые СО в различном структурном состоянии: от глобулярной подструктуры до столбчатой. Многочисленные ЛНП | |
250 | 670**…745 | Плотная СПП. Неравномерно зернистая ПС. Дефекты пленки: многочисленные мелкие 3D и протяженные СО с упорядоченной столбчатой подструктурой. Многочисленные ЛНП | |
L, мм | 300 | <620**…710 | Неплотная СПП. Неравномерно зернистая ПС. Дефекты пленки: многочисленные мелкие 3D и стержневые образования с упорядоченной столбчатой подструктурой. Многочисленные ЛНП и загрязнения |
330 | <620**…680 | Не плотная СПП. Крупноячеистая ПС. Дефекты пленки: многочисленные мелкие 3D образования в различном структурном состоянии: от глобулярной подструктуры до столбчатой. Многочисленные ЛНП | |
360 | <620**…665 | Неплотная СПП. Неравномерно зернистая ПС. Дефекты пленки: многочисленные мелкие 3D и протяженные СО с неупорядоченной столбчатой подструктурой. Единичные трещины до подложки | |
400 | <620**…655 | Неплотная СПП. Неравномерно зернистая ПС. Дефекты пленки: многочисленные мелкие 3D и не многочисленные СО в различном структурном состоянии: от глобулярной до столбчатой подструктуры с неравновесными структурами пластинчатого строения по периметру. Единичное разрушение 3D образований | |
N2, % | 30 | 625**…660 | Крупнозернистая СПП. Неравномерно зернистая ПС. Дефекты пленки: многочисленные 3D образования в различном структурном состоянии: от глобулярной до пластинчатой подструктуры. Локальное выкрашивание зерен |
50 | 625**…670 | Не плотная СПП. Крупноячеистая ПС пленки и фрактальная ПС образований. Дефекты пленки: многочисленные 3D образования в различном структурном состоянии: от глобулярной подструктуры до столбчатой. Загрязнения поверхности 3D образований | |
70 | 625**…680 | Не плотная СПП. Мелкоячеистая ПС пленки и фрактальная ПС образований. Дефекты пленки: многочисленные 3D и уплощенные образования со столбчатой подструктурой. Единичные 3D образования с зернистой подструктурой. ЛНП |
*1,0 Па; 80 А; 200 В; 270 мм; 90 %. **Первое значение Тп – температура пленки после 10 мин осаждения при температуре подложки после осаждения подслоя 613 К.
|
Из за большого объема этот материал размещен на нескольких страницах:
1 2 3 4 5 |


