В. В. КОЛЮЧКИН
Научный руководитель – С. Б. ОДИНОКОВ, д. т.н., профессор
Московский государственный технический университет им.
МЕТОДИКА КОНТРОЛЯ ПОДЛИННОСТИ ЗАЩИТНЫХ ГОЛОГРАММ
Представлена разработанная авторами методика контроля подлинности защитных голограмм, основанная на косвенном методе измерения параметров элементарных дифракционных решеток.
Радужные голограммы находят широкое применение как защитные элементы ценных бумаг, документов, а также различных изделий. В связи с этим тиражи радужных голограмм – защитных голограмм (ЗГ), исчисляются сотнями тысяч. При оперативном контроле и технико-криминалистических исследованиях документов предполагается проведение контроля подлинности голограммных и дифракционных защитных оптических элементов, составляющих основу защитных голограмм прозрачных ламинирующих пленок, расположенных на документах.
В настоящее время нет единого мнения к подходам в оценке качества ЗГ. Радужные голограммы предназначены для визуального восприятия изображений, формируемых этими элементами. Чтобы обеспечить защитные свойства радужным голограммам, на них с использованием фазовых решёток – голопикселя, формируются различные элементы дизайна, которые, как правило, имеют сложную структуру, трудно поддающуюся несанкционированному копированию.
Если предположить, что контроль подлинности осуществляется по выборочным зонам дизайна ЗГ, то контроль можно было бы свести к измерению следующих параметров дифракционной решетки (ДР):
- пространственной частоты н;
- глубины d фазового рельефа;
- количества N периодов в голопикселе;
- ориентации ц ДР.
Так как период решеток имеет значение порядка 1 мкм, то для осуществления такого контроля можно использовать метод, основанный на прямом измерении параметров дифракционных решёток, в частности, параметров формы профиля, пространственного периода и глубины с использованием микроскопов. Недостаток этого метода заключается в трудоёмкости и длительности проведения измерений параметров профиля.
Альтернативой данному методу является косвенный метод измерения. Известно, что при заданной длине волны л распределение интенсивности по порядкам дифракции на фазовой синусоидальной отражающей дифракционной решетке зависит от глубины d рельефа ДР. При заданном значении угла падения волнового фронта значение углов дифракционных порядков зависит от пространственной частоты н. Ориентация плоскости, в которой находятся положительные и отрицательные порядки дифракции зависит от ориентации ц ДР. Угловой размер порядков дифракции зависит от количества периодов N в голопикселе. Следовательно, измерив значение дифракционной эффективности, а также направление и угловой размер дифракционных порядков, можно однозначно оценить параметры дифракционной решетки.
Разработана функциональная схема устройства, которое позволяет произвести измерения перечисленных параметров. О подлинности защитной голограммы можно судить, используя интегральный критерий, который характеризует отличие измеренных значений перечисленных параметров от значений параметров эталона.
Список литературы
1. , , "Исследование влияния параметров фазовых дифракционных решеток на распределение интенсивности дифрагированного света при формировании цветокодированных изображений", Вестник МГТУ им. . Сер. "Приборостроение". 2005. № 4.
2. Гудмен Дж. "Введение в фурье-оптику", под ред. , издательство "Мир", Москва 1970г.
3. "Основы оптики", издание 2-е, под ред. , издательство "Наука", Москва 1973г.
4. , , "Введение в компьютерную оптику", издательство Московского университета 1991г.
5. и др. "Получение и считывание голограмм со скрытым изображением", Вестник МГТУ им. 1 (54) 2004г.
