Анализ нанообъектов(Shimadzu)
Электронно-зондовый микроанализатор EPMA-1720/1720H
Революционное сочетание передовых технологий с выдающимися аналитическими возможностями
Высочайшая чувствительность, точность, разрешение, интуитивно понятное управление
Последние разработки в области аппаратного оформления и программного обеспечения привели к созданию следующего поколения электронно-зондовых микроанализаторов. Были добавлены новые функции, обеспечивающие простоту и лёгкость управления, которые в совокупности с гарантированными Shimadzuпревосходными основными аналитическими характеристиками — высокой чувствительностью, высокой точностью и высоким разрешением — позволили в полной мере реализовать все возможности EPMA.
Достаточно простой для использования новичками, электронно-зондовый микроанализатор EPMA-1720 также поддерживает проведение сложных анализов опытными пользователями.
Рентгеновский спектрометр оптимального дизайна обеспечивает высокочувствительный и точный анализ
Угол регистрации рентгеновского излучения 52.5° — важнейшее условие улучшения аналитических характеристик прибора.
Беспрецедентная простота эксплуатации повышает эффективность работы как при наблюдении образца, так и при его анализе
Изображение с оптического микроскопа появляется на том же мониторе, что и изображение с электронного микроскопа. Светочувствительность очень высокая.
Начните наблюдение за образцом в режиме электронного микроскопа одни кликом «мыши»:
Просто кликните кнопку [AutoSEM] для наблюдения за образцом в режиме электронного микроскопа с использованием предустановленных условий.
Простая быстрая точная установка тока пучка без смещения фокуса:
Просто выберите требуемый ток пучка для быстрой и точной автоматической установки. Система перекрёстного контроля гарантирует, что фокус не смещается при изменении тока пучка.
Сканирующий зондовый микроскоп SPM-9700
Сканирующий зондовый микроскоп — это общий термин для микроскопов, сканирующих поверхность образцов чрезвычайно острым зондом для получения пространственного изображения или наблюдения локальных свойств при больших увеличениях. Модель SPM-9700 демонстрирует улучшенные характеристики, более удобна в эксплуатации, чем предыдущие модели.
Сканирующая зондовая микроскопия (СЗМ) — один из мощных современных методов исследования формы и локальных свойств поверхности твёрдого тела. С помощью сканирующего зондового микроскопа можно получить цифровое трёх мерное изображение атомарной решётки, живой клетки, интегральной микросхемы, структуры полимера и т. д.
Для получения трёхмерного изображения поверхности и её физических характеристик
C помощью сканирующего зондового микроскопа SPM-9700 можно:
- получать трехмерное изображение рельефа поверхности образцов металлов, полупроводников, керамики, макромолекул и биологических объектов с увеличением в несколько тысяч или миллионов раз. измерять значения следующих физических свойств поверхности с пространственным разрешением в доли нанометра:
- механических (силу трения, адгезию, жесткость, эластичность) электрических (потенциал, проводимость) магнитных (распределение намагниченности).
Может использоваться в материаловедении, полупроводниковой промышленности, биологии, медицине, при физических и химических исследованиях.
Стандартные режимы работы сканирующего микроскопа:
- Контактный режим Режим латеральных сил Динамический режим Фазовый режим Режим силовой модуляции Силовая кривая
Опциональные режимы работы микроскопа SPM-9700:
- Режим проводимости Режим поверхностного потенциала (кельвин-микроскопия) Магнитно-силовой режим (магнитно-силовая микроскопия) Силовое картирование Режим векторного сканирования Режим сканирования в слое жидкости Электрохимическая атомно-силовая микроскопия
Опции для расширения возможностей SPM-9700:
- Оптический микроскоп с цифровой камерой Волоконно-оптический осветитель Блоки широко/узко-форматного и глубинного сканирования Климатическая камера с нагревателем образцов, контролем температуры, влажности и газового состава атмосферы Программа анализа распределения частиц по размерам
Механизм скольжения головки
Высокая стабильность & Высокая производительность
Позволяет всей оптической системе скользить как единое целое, сохраняя ее жесткость.
- Лазер остается стабильным и освещает кантилевер даже во время замены образцов. Конструкция устойчива к вибрациям, шуму, ветру и другим внешним возмущениям, так что нет необходимости в специальном кожухе. Прибор включает встроенный поглотитель вибраций.
Сравнение стабильности для различного лазерного освещения:
Удачное решение открывает доступ к области вокруг образца при поддержании высокой жесткости всей системы
- Можно заменять образцы без удаления держателя кантилевера. К образцам есть доступ даже во время измерения. Высота образца настраивается автоматически, независимо от его толщины.
Разнообразие методов визуализации 3D изображения
1. Используйте мышь для изменения масштаба и свободного вращения изображений или изменения увеличения по оси Z. Это позволяет представлять полученные данные различными способами, подтверждая эти данные в режиме реального времени.
|
|
|
Увеличение масштаба изображения | Вращение | Изменение увеличения по оси Z |
2. Функция текстуры
Информация о высоте может быть наложена на информацию о физических свойствах. Это позволяет ясно показать соотношения между двумя параметрами.
3. Анализ профилей поперечного сечения
В 3D изображениях можно анализировать профили сечения. Если информация о физических свойствах выражена в терминах текстуры, соответствующие профили сечения могут быть показаны и проанализированы в том же месте.
Легкость выполнения операций
Революционный графический пользовательский интерфейс обеспечивает неограниченную поддержку операций, начиная от наблюдения в режиме реального времени до анализа данных в автономном режиме.
Функциональность и возможности расширения системы
Богатый выбор режимов измерения
Дополнительные возможности
WET-SPM
WET-SPM = SPM-9700 + климатическая камера
При добавлении климатической камеры сканирующий зондовый микроскоп SPM-9700 превращается в систему WET-SPM.
Программное обеспечение для исследования частиц
