где
– вектор трансляции;
– векторы элементарных основных трансляций;
– произвольные целые числа.
Для двухмерной решётки:
.

(1):
,
;
(2):
,
;
(3):
,
;
(4):
,
.
Точки на плоскости и в пространстве, полученные с помощью операции трансляции, образуют пространственную решётку Бравэ. В этой решётке около любой точки все другие расположены одинаково.
Существует множество типов решёток Бравэ. К двухмерным решёткам относятся косоугольная (параллелограмм), простая прямоугольная и центрированная прямоугольная, квадратная, гексагональная (ромб).
К трёхмерным решёткам относится кубическая, самая сложная решётка: триклинная. Параметры решётки характеризуются векторами основных трансляций (
) и углами между ними (?, ?, ?).
параметры | кубическая | триклинная |
|
|
|
?, ?, ? |
|
|
Кристаллическая структура отличается от решётки Бравэ тем, что с каждой точкой решётки видна группа атомов, называемая базисом. Если базис содержит один атом, то решётки называют примитивными.

Решётка Бравэ + базис = кристаллическая структура.
Лекция 4 КРИСТАЛЛОГРАФИЧЕСКИЕ ИНДЕКСЫ (ИНДЕКСЫ МИЛЛЕРА)
Используются для определения положения атомных плоскостей в пространстве.


Атомные плоскости:
– межплоскостное расстояние; x = 3a, y =2c, z=4b.
Данное представление о положении атомной плоскости в пространстве имеет недостатки:
1) величины a, b, c, характеризующие расстояние между атомами, зависят в реальных кристаллических структурах от температуры;
2) отсекаемые на осях x, y, z отрезки будут разными для параллельных плоскостей, то есть каждая из атомных плоскостей должна иметь свои координаты.
Миллером было предложено в качестве единиц измерения величин отсекаемых на осях x, y, z отрезков использовать количество векторов основных трансляций: x=3, y=2, z=4. Положения атомных плоскостей определены индексами h, k, l.
Нужно найти общее делимое для x, y, z:
![]()
(h, k, l) = (4, 6, 3).
- Индексы не зависят от температуры.
- Для однотипных параллельных плоскостей индексы одинаковы.
![]()
Для кубических структур:


где
– параметр кубической решётки.
Лекция 5 РЕНТГЕНОВСКИЙ АНАЛИЗ
1.5.1 Оценка расстояния между атомами и требования к методу измерения
1 моль Cu;
9 г/см3;
моль=
см3;
vатома=
см3;
см =
м (1*10-10 м = 1A),
1) для экспериментального определения структуры кристаллов необходим инструмент, размер которого соизмерим с межатомным расстоянием;
2) он должен проникать вглубь кристалла;
3) он должен слабо взаимодействовать с веществом.
Для изучения структуры кристаллов необходимо использовать рентгеновское излучение.
Лекция 6 Получение рентгеновского излучения
Рентгеновское излучение возникает при резком торможении электронов высоких энергий, бомбардирующих вещество. Кинетическая энергия электронов переходит при этом в энергию электромагнитного излучения.
![]()

м;
Дж*с;
м/с;
Дж;
1эВ = 1,6*10-19 Дж;
эВ.

Рентгеновское излучение получают в специальных устройствах, называемых рентгеновскими трубками: стеклянный баллон, где находятся анод и катод. Длина волны
р и зависит от материала анода. Полученное в рентгеновских трубках излучение не является монохроматическим. Для его фильтрации используют металлические фильтры; в качестве фильтра выбирают металл, порядковый номер которого на единицу меньше, чем анода.
Лекция 7 Закон Вульфа-Брэггов
В 1913 году русский физик Вульф и английские физики отец и сын Брэгги открыли закон отражения рентгеновского излучения при прохождении его через кристалл.
Закон:
Рассеивание (отражение) рентгеновского излучения от атомов вещества эквивалентно отражению света от системы полупрозрачных атомных плоскостей.


AO+OB – разность хода двух волн
Было предположено, что усиление отражённого рентгеновского излучения будет наблюдаться в том случае, когда в точке
и точке B волна рентгеновского излучения будет находиться в одной фазе. Для этого необходимо, чтобы на разности хода волн укладывалось целое число длин волн.

Поскольку величина
является постоянной и зависит от рентгеновской трубки, а величин
в кристалле множество,
существует множество углов
, при которых выполняется закон Вульфа-Брэггов.
Закон Вульфа-Брэггов будет выполняться для веществ с периодическим строением (то есть кристаллических веществ). Ни тип кристаллической решётки, ни химическое строение вещества не влияют на выполнимость данного закона,
с помощью рентгеновского анализа можно отличать кристаллические вещества от аморфных.
Лекция 8 Идентификация кристаллических веществ
Рентгеновский анализ подразделяется:
1) на рентгенофазовый анализ, с помощью которого идентифицируют твёрдые фазы;
2) на рентгеноструктурный анализ, по данным которого рассчитывают параметры кристаллической решётки, устанавливают структуру молекул и определяют сингонию кристаллов.
А. Рентгенофазовый анализ (РФА).

Он в значительной степени является качественным и в основном используется для определения веществ.
|
Из за большого объема этот материал размещен на нескольких страницах:
1 2 3 4 5 6 7 |


