Базовая рабочая программа модуля (дисциплины) «Основы анализа поверхности твердых тел и тонких пленок» (стр. 3 )

– трехмерная топография  поверхности металлов  с разрешением 0,1 нм по вертикали и латеральном направлении;

–  исследования, проводимые на модулях комплекса Centaur.

       

Темы семинаров (примеры):

Основные параметры детекторов вторичных излучений для анализа поверхности. Требования к экспериментальным условиям при исследовании поверхности Базовые схемы аналитических установок. Основные типы и параметры ионных и электронных пушек Основные параметры, которым должны удовлетворять пучки частиц и излучений при исследовании поверхности Основные параметры, которым должны удовлетворять пучки частиц и излучений при исследовании поверхности Расчет основных параметров энергетических и масс-спектрометров Работа с реальными энергетическими спектрами. Работа с реальными дифракционными спектрами. Работа с реальными дифракционными спектрами.

6.4. Контроль самостоятельной работы: выступление на семинарах, студенческих научных конференциях, on-line тестирование, реферат с элементами проектирования, работа в webCT.

6.5. Учебно-методическое обеспечение  самостоятельной работы студентов:

ЛИТЕРАТУРА

Изотопный, химический и структурный анализ поверхности методами атомной физики. Томск: ТПУ, 2002, 198 с. овременные методы исследования поверхности.  - М.: Мир,1989. , . Физические методы исследования поверхности твердых тел. – М.: Наука, 1983. сновы анализа поверхности и тонких пленок. – М.: Мир,1989. , Методы и приборы для анализа поверхности материалов. – Киев: Наукова думка, 1982

ИНТЕРНЕТ РЕСУРСЫ

1. Курс в системе WebCTи MOODLE.

2. Персональный сайт преподавателя.

       ВИДЕОРЕСУРСЫ

1. Видеопроектор

7. Средства  (ФОС) текущей и итоговой оценки качества освоения дисциплины

1.On-lineтестирование в системеMOODLE.

2. Контрольные работы.

3. Индивидуальные задания.

2. Курсовая работа (реферат с элементами проектирования).

3. Экзамен.

Примеры экзаменационных  билетов по  дисциплине:

Билет № 1.

1. Перечислите все эмиссионные явления, возникающие при взаимодействии ионов с энергией 1–10 кэВ с поверхностью твердых тел и дайте определения важнейших параметров, которыми описываются эти явления.

2. Полевая электронная и полевая ионная эмиссии. Сущность и описание (на уровне диаграмм).

3. Какое максимальное давление должно быть в вакуумной камере, чтобы поддерживать поверхность чистой путем ее бомбардировки пучком ионов аргона с плотностью тока  10-5А/см2. Обоснуйте ответ. Коэффициенты распыления и прилипания положить равными единице.

Билет №2

1. Дайте определения коэффициента вторичной ионной эмиссии и степени ионизации вторичных ионов. Как эти величины связаны с коэффициентом распыления.

2. Идеальная и реальная поверхность твердого тела.

3. Определить максимальную энергию Емакс фотоэлектронов, вылетающих из металла при облучении г-квантами с энергией Е=1,53 МэВ.

8.Рейтинг качества освоения дисциплины

ОЦЕНКИ	КАЛЕНДАРНЫЙ РЕЙТИНГ-ПЛАН по дисциплине	Лекции	60 час.
«Отлично»	А+	96– 100 баллов	Основы анализа поверхности твердых тел и тонких плёнок	Практ. занятия	60 час.
А	90– 95 баллов	Для бакалавров  по направлению 011200  Физика (программа  магистерской подготовки «Физика конденсированного состояния вещества)	Лаб. занятия
«Хорошо»	В+	80 –  89баллов	Всего ауд. работа	120  час.
В	70– 79 баллов	СРС	204 час.
«Удовл.»	С+	65–  69 баллов	ИТОГО	324 час. 9 кредитов
С	55– 64 баллов	7-8  семестр набора 2011 года	Итог. контроль	Модуль 1 ЭкзаменМодуль 2Зачет Курсовая работа. Экзамен
Зачтено	D	Большеили равно 55 баллов	Лектор:
Неудовлетворительно / незачет	F	менее 55 баллов

Результаты обучения по дисциплине:

РД1	способен эффективно работать самостоятельно в качестве члена команды по междисциплинарной тематике, быть лидером в команде, консультировать по вопросам  проектирования научных исследований
РД2	принимает  участие в фундаментальных исследованиях и проектах в области  физики конденсированного состояния, а также в модернизации современных и создании новых методов изучения элементного и химического состава, структурыповерхности твердых тел;
РД3	интегрирует знания в различных и смежных областяхнаучных исследований и решает  задачи, требующие абстрактного и креативного мышления  и оригинальности  в разработке концептуальных аспектов проектов научных исследований

Оценивающие мероприятия (модуль 1)	Кол-во	Баллы
Контрольные	3	15
Выступление на семинарах.	2	10
Тестирование	3	15
Защита ИДЗ	2	20
Всего	10	60

Оценивающие мероприятия (модуль 2)	Кол-во	Баллы
Предзащита и защита курсовой работы	2	20
Выступление на КН и семинарах с презентациями.	2	12
Защита лабораторных работ	2	10
Тестирование	3	12
Контрольные	2	6
Всего	12	60

                                                                               

                                                                                               

                                                                                                                                       

7 РД2 Лекция 7. Тема лекции: Основные способы отбора спектральных частиц. 2 ОСН 3 Практическое занятие. Тема: Нейтронные генераторы. 2 3 1 СРС 8 РД2 Лекция 8.  Особые способы использования детекторов в аналитических установках. 2 ОСН 1 Практическое занятие. Тема: Физические основы методов регистрации. 2 3 1 ИР2 СРС Раздел 3. Электронная аппаратура, используемая в аналитических установках для накопления и обработки информации. 9 РД1 РД3 Лекция 9. Автоматизация физических  установок. 2 Практическое занятие. Тема :  Типы детекторов (семинары) 2 3 1 ДОП 2 ИР 2 ВР 2 Конференция 14 СРС Всего по контрольной точке (аттестации) 1 36 27 18 8 26 10 РД2 Лекция 10. Тема лекции: Стандартные системы автоматизации физического эксперимента. 2 Практическое занятие. Тема: Масс-спектрометрия. 2 3 1 ДОП 2 ИР 2 ВР 2 СРС 11 РД3 Лекция 11. Тема лекции: Система КАМАК. Стандартные модули системы. 2 Практическое занятие, Тема : Кольцевые детекторы. 2 3 1 СРС Раздел 4. Установки для пучкового анализа вещества. 12 РД3 Лекция 12. Тема лекции: Основы метода пучкового анализа. Классификация методов. 3 ОСН 1 Практическое занятие. Тема: Классификация методов анализа. 2 3 1 СРС Неделя	Дата начала недели	Результат обучения по дисциплине	Вид учебной деятельности по разделам	Кол-во часов	Оценивающие мероприятия	Кол-во баллов	Технология проведения занятия (ДОТ)*	Информационное обеспечение
Ауд.	Сам.	Реферат	Выступление на семинарах и конференции	ЛБ работы	Контр. раб.	Подготовка к практическим занятиям	ИДЗ, Курсовая	тесты	…	Учебная литература	Интернет-ресурсы	Видео-ресурсы
Седьмой семестр (Модуль 1)
1-3	Раздел 1. Строение поверхности.	+	+	+
1	РД1 РД2 РД3	Лекция 1Основные понятия кристаллографии.	2	2	ОСН 1,2	ВР 1
Лекция 2.Индексы Миллера и Вейса. Знакомство с системой MOODLE.	2	2	ОСН 1,2	ВР 1
Практическое занятие 1. Индексы Миллера и Вейса. Выбор тем курсовых работ.	2	2	ОСН 1,2 ДОП 1,2	ВР 2
Практическое занятие 2. Тема: Описание реальной поверхности. Выдача  ИДЗ 1.	2	2	ОСН 1,2
СРС: Регистрация в системе MOODLE.	3	ОСН 1,2	ИР 1,2
2	РД1 РД2	Лекция 3.Кристаллическое строение идеальной и реальной поверхности. Описания и обозначения	2	2	ДОП1,2	ВР 1
Практическое занятие 3. Тема:Требования к экспериментальным условиям при исследовании поверхности.	2	2	ДОП 1,2	ИР 1,2	ВР 2
СРС Самотестированиев системе MOODLE.	3	ОСН 1,2	ИР 1,2
3-5	Раздел 2.Экспериментальные особенности диагностикиповерхности.
3	РД1 РД3	Лекция 4.Требования к экспериментальным условиям при исследовании поверхности. Вакуум и сверхвысокий вакуум.	2	2	ОСН 1,2	ИР 1,2	ВР 1
Лекция 5. Динамическая чистота поверхности	2	2	ДОП 1,2	ВР 1
Практическое занятие 4.Тема: Вакуум и сверхвысокий вакуум.	2	2	ДОП 1,2	ИР 1,2	ВР 2
Практическое занятие 5. Тема:Динамическая чистота поверхности.	2	2
СРС ИДЗ 1.	3	ОСН 1,2	ИР 1,2
4	РД1 РД2	Лекция 6.Основные вакуумные узлы аналитических установок (электронная оптика, ионные и электронные пушки).	2	2	ОСН 1,2	ВР 1
Практическое занятие 6. Тема: Основное назначение и параметры оптики и пушек	2	2	ВР 2
СРСВыполнение контрольного теста 1	3	ОСН 1,2
5	РД1 РД2	Лекция 7. Основные вакуумные узлы аналитических установок (энерго - и масс - анализаторы, детекторы, источники излучений).	2	2	ОСН 1,2	ВР 1
Лекция 8.Классификация явлений, лежащих в основе методов исследования поверхности.	2	2	ОСН 1,2	ВР 1
Практическое занятие 7. Тема: Базовые схемы и основные параметры узлов аналитических установок.	2	2	ОСН 1,2	ИР 1,2	ВР 2
Практическое занятие 8. Тема: Основные параметры факторов воздействия.	2	2
СРС Выполнение ИДЗ 1.	3	ОСН 1,2
6-8	Раздел 3.Явления, лежащие в основе методов исследования поверхности.
6	РД1	Лекция 9. Виды и сущность ионной эмиссии (вторичная, термическая, полевая и т. д).	2	2	ОСН 1,2	ВР 1
Практическое занятие 9. Тема: Основные типы и параметры ионных и электронных пушек. Методы ионизации.	2	2	ОСН 1,2	ИР 1,2	ВР 2
СРС Курсовая рабта. Выполнение контрольного теста 2	3	ОСН 1,2	ИР 1,2
7	РД1	Лекция 10.Виды и сущность электронной эмиссии (вторичная, термическая, полевая и т. д).	2	2	ОСН 1,2	ИР 1,2	ВР 1
Лекция 11. Рентгеновская фотоэлектронная эмиссия. Процесс Оже и ожэ-электронная эмиссия	2	2	ОСН 1,2	ВР 1
Практическое занятие 10. Тема: Фотоэффект.	2	2	ОСН 1,2	ИР 1,2	ВР 2
Практическое занятие 11. Контрольная работа 1	2	2	5	5
СРС: Курсовая рабта. Выполнение контрольного теста 2	3	ОСН 1,2	ИР1,2
8	РД1 РД2	Лекция 12. Термоэлектронная (и термоионная) эмиссия. Полевая электронная (и ионная) эмиссия.	2	2	ОСН 1,2	ВР 1
Практическое занятие 12.Коллоквиум: Проверка тестов 1,2.	1	2	10	10	ОСН 1,2	ИР 1,2	ВР 2
СРС Курсовая рабта. Выполнение контрольного теста 2	4	ОСН 1,2	ИР1,2
9	РД1 РД2 РД3	Конференц-неделя1:Предзащита-презентация ИДЗ 1 Лекция 13. Практ. занятие 9.	4	8	5	10	15	ОСН 1,2	ИР1	ВР 1
Всего по контрольной точке (Модуль 1, аттестац. 1)	60	73	5	5	10	10	30
10-14	Раздел 4.Теоретические основы методов электронной спектроскопии поверхности.
10	РД1 РД2 РД3	Лекция 14. Сведения из теории столкновений частиц	2	2	ОСН 1,2	ВР 1
Практическое занятие 13. Эффект-Ожэ и рентгеновское излучение. Выдача ИДЗ 2.	2	2	ОСН 1,2	ИР 2	ВР 2
СРС. Выполнение контрольного теста 3	4	ОСН 1,2	ИР1,2
11	РД1 РД2 РД3	Лекция 15. Процессы и эффекты при взаимодействии электронов с веществом.	2	2	ОСН 1,2	ВР 1
Практическое занятие 14. Рентгеновское излучение.	2	2	ОСН 1,2	ВР 2
СРСВыполнение контрольного теста 3. Выполнение ИДЗ 2.	4	ОСН 1,2	ИР1,2
12	РД2 РД3	Лекция 16. Ударная электронная ионизация.	2	2	ОСН 1,2	ВР 1
Практическое занятие 15. Расчеты средней длины свободного пробега электронов.  Контрольная работа 2.	2	2	5	5	ОСН 1,2
СРСДоработка ИДЗ. Выполнение контрольного теста 3	2	ОСН 1,2	ИР1,2
13	РД2 РД3	Лекция 17..Плазмоны.	2	2	ОСН 1	ВР 1
Практическое занятие 16. Расчеты энергий плазмонов  и параметров т. т. из плазмонных спектров	1	2	ОСН 1,2	ВР 2
CPCПодготовка к контрольной работе	4	ОСН 1,2	ИР1,2
14–17	Раздел 5. Теоретические основы методов ионной спектроскопии поверхности.
14	РД1 РД2 РД3	Лекция 18. Средняя длина свободного пробега электронов и ионов в веществе. Пробеги первичных электронов и ионов в твердых телах.	2	2	ОСН 1,2	ИР 1,2	ВР 1
Практическое занятие 17.. Контрольная работа 3	1	2	5	5	ДОП 2	ИР 2	ВР 2
СРС Подготовка презентации предзащиты курсовой работы	2	ОСН 1,2
15	РД1 РД2 РД3	Лекция 19. Классификация механизмов ионного распыления.	2	2	ОСН 1,2	ВР 1
Практическое занятие 18. Проверка теста 3	1	2	5	5	ИР1	ВР 2
СРС Подготовка к защите ИДЗ 2.	2	ОСН 1,2	ИР1,2
16	РД1 РД2 РД3	Конференц-неделя 2.Защита-презентация ИДЗ 2. Лекция 20. Элементы теории ионного распыления поверхности за счет каскадов атомных столкновений. Практ. занятие 19.	4	10	5 5	10	10 10	5	15 30	ОСН 1,2 ОСН 1,2	ИР 1,2	ВР 1 ВР 2
Всего по контрольной точке (Модуль 1, аттестация 2)	80	130	10	15	20	15	60
Экзамен	40
Всего по модулю 1.	100

7 РД2 Лекция 7. Тема лекции: Основные способы отбора спектральных частиц. 2 ОСН 3 Практическое занятие. Тема: Нейтронные генераторы. 2 3 1 СРС 8 РД2 Лекция 8.  Особые способы использования детекторов в аналитических установках. 2 ОСН 1 Практическое занятие. Тема: Физические основы методов регистрации. 2 3 1 ИР2 СРС Раздел 3. Электронная аппаратура, используемая в аналитических установках для накопления и обработки информации. 9 РД1 РД3 Лекция 9. Автоматизация физических  установок. 2 Практическое занятие. Тема :  Типы детекторов (семинары) 2 3 1 ДОП 2 ИР 2 ВР 2 Конференция 14 СРС Всего по контрольной точке (аттестации) 1 36 27 18 8 26 10 РД2 Лекция 10. Тема лекции: Стандартные системы автоматизации физического эксперимента. 2 Практическое занятие. Тема: Масс-спектрометрия. 2 3 1 ДОП 2 ИР 2 ВР 2 СРС 11 РД3 Лекция 11. Тема лекции: Система КАМАК. Стандартные модули системы. 2 Практическое занятие, Тема : Кольцевые детекторы. 2 3 1 СРС Раздел 4. Установки для пучкового анализа вещества. 12 РД3 Лекция 12. Тема лекции: Основы метода пучкового анализа. Классификация методов. 3 ОСН 1 Практическое занятие. Тема: Классификация методов анализа. 2 3 1 СРС Неделя

Дата начала недели

Результат обучения по дисциплине

Вид учебной деятельности по разделам

Кол-во часов

Оценивающие мероприятия

Кол-во баллов

Технология проведения занятия (ДОТ)*

Информационное обеспечение

Ауд.

Сам.

Реферат

Выступление на семинарах и конференции

ЛБ работы

Контр. раб.

Подготовка к практическим занятиям

Коллоквиум

Курсовая, ИДЗ

…

Учебная литература

Интернет-ресурсы

Видео-ресурсы

Восьмой семестр (Модуль 2)

1-2

Раздел 5. Теоретические основы методов ионной спектроскопии поверхности.

1

РД1 РД2 РД3

Лекция 21. Модели теплового пика.

2

2

ОСН 1,2

Практическое занятие 20Расчет коэффициентов ионного распыления поверхности металлов. Выбор темы курсовой работы.

2

2

ОСН 1,2 ДОП 1,2

СРСOn-lineвыполнение теста 4.

3

ИР1,2

2

РД1 РД2 РД3

Лекция 22.Классификация процессов ионообразования при распылении.

2

2

ОСН 1,2

2

ВР 1

Практическое занятие 21. Расчет вероятности ионизации вторичных атомов при распылении за счет каскадов атомных столкновений.

2

2

ОСН 1,2 ДОП 1,2

ВР 2

СРСПодготовкакурсовой работы (подбор литературных источников, страниц в интернете, подготовка «Оглавления».

3

ОСН 1,2

ИР1,2

3

РД1 РД2 РД3

Лекция 23.Ионизации вторичных атомов в условиях распыления за счет каскадов атомных столкновений

2

2

ОСН 1,2 ДОП 1,2

ВР 1

Практическое занятие 20. Обсуждение «Содержания » курсовых работ и правил оформления.

2

2

ОСН 1,2 ДОП 1,2

ВР 2

СРСПодготовкакурсовой работы. On-lineвыполнение теста 4.

3

ОСН 1,2

ИР1,2

Раздел 6. Теоретические основы методов структурного анализа

4

РД1 РД2 РД3

Лекция 24. Дифракция излучений и частиц, корпускулярно-волновой дуализм.

2

2

ОСН 1,2

ИР 1,2

ВР 1

Практическое занятие 21.Дифракция излучений и частиц, корпускулярно-волновой дуализм.

2

2

ОСН 1 ДОП 1,2

ВР 2

СРСПодготовкакурсовой работы. On-lineвыполнение теста 4в системе MOODLE

3

ОСН 1,2

ИР1,2

5

РД1 РД2 РД3

Лекция 23.Дифракция электронов и рентгеновского излучения на кристаллической решетке.

2

2

ОСН 1,2 ДОП 1,2

ИР 1,2

ВР 1

Практическое занятие 22.Контрольная 1

2

2

6

6

ОСН 1 ДОП 1,2

ВР 2

СРСПодготовкакурсовой работы. On-lineвыполнение теста 5 в системе MOODLE

3

ОСН 1,2

ИР1,2

6

РД1 РД2 РД3

Лекция 26. Построение Эвальда.

2

2

ОСН 1,2

ИР 1

ВР 1

Практическое занятие 23.  Коллоквиум: Проверка тестов 4-5.

2

2

12

12

ОСН 1

СРС On-lineтестирование в системе MOODLE тест 5

3

ОСН 1,2

ИР1,2

7

РД1 РД2 РД3

Лекция 27. Тепловые колебания решетки и фактор Дебая-Валлера.

2

2

ОСН 1,2

ИР 1,2

ВР 1

Практическое занятие 24. Контрольная 2

2

2

6

6

ДОП 1,2

СРС On-lineтестирование в системе MOODLE

3

ОСН 1,2

ИР1,2

Раздел 6. Основы методов исследования топографии и химического состава поверхности.

9

РД1 РД2 РД3

Лекция 28.Особенности электронного структурного анализа поверхности.

2

2

ОСН 1,2 ДОП 1,2

ВР 1

Практическое занятие 25.Расшифровка электронныхдифрактограмм.

2

2

ВР 2

СРС Выполнение курсовой работы. Оn-lineтестирование в системе MOODLE тест 6.

3

ОСН 1,2

ИР1,2

10

РД1 РД2 РД3

Лекция 29.Основы сканирующей зондовой микроскопии

2

2

ОСН 1,2

ВР 1

Практическое занятие 26. Коллоквиум: Проверка теста 6.

2

2

6

6

ДОП 1,2

СРС Подготовка защиты-презентации курсовой работы.

3

ОСН 1,2

ИР1,2

11

РД1 РД2 РД3

Конференц-неделя.  Защита-презентация курсовой работы. Лекция 30. Атомная силовая и туннельная зондовые микроскопии.

4

3

15

15

30

ОСН 1,2 ДОП 1,2

ИР1

ВР 1

Всего по контрольной точке (Модуль 2, аттестация единственная)

40

74

15

12

18

15

60

Экзамен

40

РД3

Общий объем работы по дисциплине (2 модуля).

120

204

100

№ (код)	Основная учебная литература (ОСН)	№ (код)	Название интернет-ресурса (ИР)	Адрес ресурса
ОСН 1	Основы анализа поверхности твердых тел методами атомной физики. Томск: ТПУ, 2013, 213, 202 с. (Гриф Минобрнауки).	ИР 1	Cистема дистанционного обучения. MOODLE	www. lcg. mdl. ptu. ru
ОСН 2	Изотопный, химический и структурный анализ поверхности методами атомной физики. Томск: ТПУ, 2002, 198 с.	ИР 2	URL сайтов по темам дисциплины в MOODLE	www. lcg. mdl. ptu. ru
№ (код)	Дополнительная учебная литература (ДОП)	№ (код)	Видеоресурсы (ВР)	Адрес ресурса
ДОП 1	овременные методы исследования поверхности.  - М.: Мир,1989.	ВР 1	Видеопроектор	Лекционные аудитории
ДОП 2	сновы анализа поверхности и тонких пленок. – М.: Мир,1989.	ВР 2	Интерактивная доска	Аудитории для практики

9. УЧЕБНО-МЕТОДИЧЕСКОЕ  И информационное обеспечение  дисциплины

ОСНОВНАЯ литература

Основы анализа поверхности методами атомной физики. Томск: ТПУ, 2012, 202 с. Изотопный, химический и структурный анализ поверхности методами атомной физики. Томск: ТПУ, 2002, 198 с.

ДОПОЛНИТЕЛЬНАЯ литература

овременные методы исследования поверхности.  - М.: Мир,1989. сновы анализа поверхности и тонких пленок. – М.: Мир,1989. , . Физические методы исследования поверхности твердых тел. – М.: Наука, 1983. , Методы и приборы для анализа поверхности материалов. – Киев: Наукова думка, 1982. , , Рентгеновская структурная диагностика в исследовании поверхностных слоев. – М.: Мир, 1986. Анализ поверхностей методами Оже - и рентгеновской фотоэлектронной спектроскопии (под ред. Д. Бриггса и ) – М.: Мир,1987. Рентгеноэлектронная спектроскопия химических соединений. Справочник. – М.: Химия, 1984. Спектроскопия и дифракция электронов при исследовании поверхности твердых тел (под ред. ) – М.: Наука, 1985. Распыление твердых тел ионной бомбардировкой. Вып. 1 и 2 (под ред. Р. Бериша). – М.: Мир, 1984. Физическая Энциклопедия в 5-ти томах. Москва. Научное издательство "Большая Российская энциклопедия", 1998 г.

Программное обеспечение и интернет  ресурсы

       Электронный вариант курса: в интерактивной системе MOODLE (http://mdl. lcg. tpu. ru:82) и лекции на персональный сайте преподавателя.

10. Материально-техническое обеспечение дисциплины

№	Наименование дисциплин в соот­ветствии с учеб­ным планом	Наименование специализированных аудиторий, кабинетов, лабораторий и пр. с перечнем основного оборудования	Форма владения, пользования (собственность, оперативное управление, аренда и т. п.)
1	2	3	4
1	011200 – Физика
Ауд. 204, 0-3 3-го корпуса ТРУ
Оборудование для плазменного насыщения материалов водородом	Оперативное управление
Атомно-силовой микроскоп микроскоп совмещенный с рамановским спектрометром.	Оперативное управление
2	011200 –Магистерская программа «Физика конденсированного состояния вещества»	Оборудование для изучения десорбции водорода из материалов под действием рентгеновского излучения	Оперативное управление
Оборудование (компьютер и анализатор) для регистрации акустической эмиссии
Ауд. 03
Испытательная машина	Оперативное управление
Оборудование для исследования автоциркуляции УЗ в металлах
Ауд.204
011200 –Магистерская программа «Физика конденсированного состояния вещества»	Установка ВИМС Установка для изучениярадиационно - и термо-стимулированного выхода.	Оперативное управление
011200 –Магистерская программа «Физика конденсированного состояния вещества»	Ауд. 303	Оперативное управление
Оборудование для электролитического внедрения водорода Металлографический микроскоп. Оборудование для изучения десорбции водорода из материалов под действием рентгеновского излучения Оборудование ( компьютер и анализатор) для регистрации акустической эмиссии

Программа составлена на основе стандарта ООП ТПУ в соответствии с требования ФГОС по направлению  03.03.02 Физика и  специализации  «Физика конденсированного состояния вещества».

Программ одобрена на заседании кафедры общей физики

Протокол № 6 от 01.01.2001г.

Автор:

Рецензент: