Ярославский государственный университет им.

Ярославский Филиал Физико-технологического института Российской академии наук

Курсы повышения квалификации

Аналитические методы исследования материалов.

Электронная и ионная микроскопия. элементный и рентгенофазовый анализ

Цель программы - изучение теоретических основ и формирование навыков диагностики наноструктур и наноматериалов методами:

    сканирующей электронной микроскопии; просвечивающей электронной микроскопии;
    сканирующей ионной микроскопии; рентгеновского анализа.

обучение бесплатное!

Организовано в рамках программы развития опорного университета Ярославской области. Обучение проводится на базе Центра коллективного пользования «Диагностика микро - и наноструктур» (ЦКП ДМНС). Занятия ведут преподаватели кафедры нанотехнологий в электронике ЯрГУ и сотрудники Ярославского филиала Физико-технологического института РАН. По завершении обучения выдается удостоверение повышения квалификации (установленного образца).

Регистрация доступна по ссылке: http://study. nano. yar. ru

ЦКП «Диагностика микро - и наноструктур», рентгеновский дифрактометр ARL X'tra

ЦКП «Диагностика микро - и наноструктур», сканирующий автоэмиссионный электронный микроскоп Supra 40

ЦКП «Диагностика микро - и наноструктур», Просвечивающий микроскоп

Tecnai G2 F20 U-TWIN

ЦКП «Диагностика микро - и наноструктур». Двулучевой электронный микроскоп Quanta 3D 200i

Программа подготовки включает в себя освоение следующих курсов:

Сканирующая электронная микроскопия и элементный анализ (СЭМ Supra 40)- 18 часов Введение в просвечивающую электронную микроскопию (ПЭМ Tecnai G2 F20 U-TWIN) - 18 часов Рентгенофазовый анализ (ARL X'tra) - 18 часов Сканирующая ионная микроскопия и элементный анализ (Quanta 3D 200i) - 18 часов