апертура        измереиия/измерительная        апертура        (measurement        aperture):        Апертура,        исполь­ зуемая  для  классификации  лазера  при определении  мощности  или  энергии,  которая  сравнивается  с  пределом допустимого иэлучения/эмиссии (AEL) для каждого класса. частота  повторения  импульсов,  PRF  (pulse  repetition  frequency.  PRF):  Количество  импуль­  сов. возникающих за одну секунду, выраженное в герцах (Гц). лазерный  затвор/переключатель  добротности  (Q-switch):  Устройство  формирования  очень

коротких  лазерных  импульсов  с  высокой  пиковой  мощностью  за  счет  улучшения  накопления  энергии  в  среде лазерного излучения и сброса (демпинга) энергии из среды лазерного излучения.

лазер  с  модуляцией  добротности  (Q-switched  laser):  Лазер,  излучающий  короткие  импуль­

сы с высокой пиковой мощностью с помощью лазерного затвора.

Релеевская  длина,  Z,  (Rayleigh  length.  Z():  Расстояние  от  перетяжки/сужения  пучка  в  направ­ лении  распространения,  на  котором  диаметр  пучка  или  значения  ширины  пучка  равны  .\[2~от значения

в перетяжке пучка.

НЕ нашли? Не то? Что вы ищете?

Примечание 1— Релеевской длиной часто называют У* конфокального параметра.

чувствительность, R (responsivity. R):  Отношение  сигнала  на  выходе  детектора  к  соответ­ ствующему входному сигналу, выраженное как

R - О//.

где О — электрический выходной сигнал детектора:

I — оптическая мощность или энергия на входе.

лазер  со  сверхкороткими  импульсами  (ultrashort  pulse  laser):  Лазер,  излучающий  импуль­ сы короче 100 фемтосекунд, который может вмещать относительно большой спектральный контент.
Применимость Общие положения

Настоящий  стандарт  предназначен  для  использования  в  качестве  основных  рекомендаций  (кото­ рыми он не ограничивается) для  изготовителей,  испытательных  лабораторий,  специалистов  по  технике безопасности  и  официальных  лредстаеителей  органов  власти.  В  настоящем  стандарте  также  приведе­ ны  интерпретации  стандарта  IEC 60825-1:2007  в  отношении  вопросов  измерений  и  приведена  допол­ нительная пояснительная информация.

Предварительное рассмотрение

Предварительно  перед  началом  выполнения  радиометрических  измерений  с  целью  классифи­ кации  аппаратуры  или сравнения  с  другими  применимыми  требованиями  IEC 60825-1:2007.  следует  определить несколько параметров лазеров:

а)        дпину(ы)волны(волн)излучения

Лазеры могут создавать излучение на одной или более различающихся длинах волн.

Длину  волны  (длины  волк)  излучения  или  спектральное  распределение  излучения  обычно  можно узнать  от  изготовителя  лазера.  В  зависимости  от  типа  лазера  изготовитель  может  указать  диапазон длин волн, а не одно значение длины волны. В  ином  случае  длину  волны  (длины  волн)  излучения  или спектральное  распределение  излучения  может  быть  определено  посредством  измерения,  которое  не  входит  в  область  рассмотрения  настоящего  стандарта.  Оценки  предела  допустимого  иэлучения/эмис­ сии (AEL) для кратных длин волн см. 7.1.

2

ГОСТ IEC/TR 60825*13—2016


временной режим работы

временной  режим  работы  относится  к  режиму  работы,  при  которой  энергия  излучается.  Неко­ торые  лазеры  излучают  непрерывную  волну  (CW).  другие  излучают  энергию  в  виде  импульсов.  Им­ пульсные лазеры могут быть лазерами одиночных импульсов, с модуляцией  добротности,  импульсно - периодическими  или с  синхронизированными  модами.  Сканирующее  или модулированное  излучение непрерывной  волны  при  фиксированном  размещении  также  приводят  к  появлению  последовательно­ сти импульсов.

Помимо этого, последовательность  импульсов  может  быть  кодированной,  но  иметь  средний  коэф­  фициент  заполнения  (время  излучения  как  часть  фактического  времени  работы,  выраженное  в  деся­ тичной дроби или в процентах).

обоснованно прогнозируемые условия единичной неисправности

8 IEC 60825-1:2007 установлено,  что испытания  должны  выполняться  при всех  без исключения  обоснованно  прогнозируемых  условий  единичной  неисправности.  Изготовитель  обязан  гарантировать,  что  при  всех  условиях  единичной  неисправности  доступное  излучение  не  превышает  AEL  заданного класса.

неопределенности измерения

важно        рассмотреть        потенциальные  источники  погрешности        при  измерении  лазерного  излучения.

Неопределенности измерений рассмотрены в разделе 5 настоящего стандарта.

сопутствующее  излучение  (определение  термина  «сопутствующее  излучение»  см.  IEC  60825-  1:2007)

Сопутствующее  излучение,  проникающее  в  апертуру  измерения,  может  влиять  на  измеренные  значения мощности или энергии и длительность импульсов. Персонал,  проводящий  испытания,  должен гарантировать,  что  измерительная  установка  блокирует  сопутствующее  излучение  или  учитывает  его.  если оно все же попадает на детектор.

0 конфигурация аппаратуры

Если  измерения  проводят  в  целях  классификации,  все  органы  контроля  и  установки,  перечис­ ленные в  рабочих  инструкциях,  инструкциях  по  техническому  обслуживанию  и  эксплуатации,  должны настраиваться  совместно  для  получения  максимального  допустимого  уровня  излучения.  Измерения следует  проводить  с  использованием  дополнительных  приспособлений,  которые  могут  увеличить  ра­ диационную  опасность  (например,  с  коллимирующей  оптикой),  поставляемых  или  предлагаемых  изго­ товителем лазерной(ых) аппаратуры для использования с такой(им) аппаратурой.

Примечание        —  Эго  относится  к  любой  конфигурации  аппаратуры,  которую  можно  получить  без  ис­ пользования  инструментов  или  снятия  блокировки,  включая  конфигурации  и  установки,  относительно  которых  в рабочих        инструкциях  и                инструкциях  по  техническому  обслуживанию  содержатся  предупреждения  об  опасности. Например,  если  оптические  элементы,  такие  как  фильтры,  рассеиватели  или  линзы,  в  оптической  части  лазерного пучка  могут  быть  сняты  без помощи  инструмента,  аппаратуру  следует  испытывать  в  конфигурации,  при  которой  до­ стигается  наивысший  уровень  опасности.  Наличие  8  инструкции  указания  изготовителя  не  снимать  оптические  эле­ менты  не  может  служить  основанием  для  отнесения  аппаратуры  к  болев  низкому  классу.  Классификация  основы­ вается на технической конструкции аппаратуры и не может быть основана на адекватном поведении пользователя.

Если измерения  проводят  для  определения  требований  к  защитным  блокировкам,  ярлыкам  и  ин­ формации  для  пользователя,  то  аппаратуру  следует  оценивать  при  конфигурациях,  применимых  для  каждой  из  указанных  категорий  использования  (функционирование,  техническое  обслуживание  и  сер­ висное обслуживание) е соответствии с IEC 60825-1:2007.

Технический  комитет  76  МЭК  (ТС  76)  признает  существование  эквивалентных  процедур  измере­ ния. которые  могут  дать  результаты,  имеющие  такую  же  достоверность,  как и  результаты  процедур,  при­ веденные  в  настоящем  стандарте.  8  стандарте  описаны  процедуры  измерений,  которые  необходимо проводить,  в  достаточной  мере  отвечающие  требованиям  к  измерениям  IEC  60825-1:2007.  во  многих случаях  не  обязательно  проводить  реальные  радиометрические  измерения,  и  соответствие  требовани­ ям IEC 60625-1:2007 можно определить проведением анализа источника, имеющего хорошо описанные характеристики, и конструкции реальной аппаратуры.

Из за большого объема этот материал размещен на нескольких страницах:
1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12 13 14 15 16 17 18 19 20 21 22 23 24 25