Инструкция по заполнению форм (стр. 2 )

Пример заполнения формы.

№ п/п	Наименование единицы оборудования	Себестоимость работ (услуги) по элементам затрат, руб. в час	Себестоимость работы на оборудовании, руб. в час
A	B	C	D	E	F
1	2	3	4	5	6	7	8
1	Рентгеновский дифрактометр	8	4	8,1	20	204	244,1
2	Масс-спектрометр с индуктивно-связанной плазмой	30	15	8,1	165	253	471,1
3	Рентгенофлуоресцентный спектрометр с разрешением по длине волны	40	20	5,4	160	240	465,4
4	Анализатор энергодисперсионный рентгенофлуоресцентный	20	10	5,4	50	204	289,4
5	Масс-спектрометр искровой	40	20	8,1	200	303	571,1
6	Микроденситометр автоматический	3	1,5	5,4	15	232	256,9
7	Рентгенофлуоресцентный спектрометр	15	7,5	5,4	15	211	253,9
8	Сканирующий электронный микроскоп	30	15	16,2	35	230	326,2
9	Рентгеновский микроанализатор состава	25	13	8,1	15	210	271,1
10	Установка для механических испытаний монокристаллов и пластин кремния в режиме статического нагружения	8	4	5,4	30	211	258,4

Номер пункта. Наименование единицы оборудования. Список приборов должен соответствовать форме №2 по формату и очередности (полная копия списка из формы №2). F. Расчет себестоимость одного часа работы на оборудовании ЦКП (F) определяется по следующей формуле: F = А + B + C + D + E А.- амортизационные отчисления по оборудованию, участвующему в проведении испытания, измерения, исследования, руб. в час; В - затраты на содержание и обслуживание основного и вспомогательного оборудования, участвующего в проведении испытания, измерения, исследования (ремонт, сервис), руб. в час; С - затраты на оплату электроэнергии, руб. в час; D - затраты на расходные материалы, руб. в час; E – заработная плата оператора оборудования за один час работы, руб. в час.

Форма №4.

Пример заполнения формы.

№ п/п	Наименование методики	Наименование организации, аттестовавшей методику	Дата аттестации (число, месяц, год)
1	2	3	4
1	Методика масс-спектрального определения примесей (ММСОП) в литии, графите, натрии, алюминии, калии, рубидии и цезии (полный примесный состав)	ОАО "Гиредмет"	27 июня 2008 г.
2	Методика масс-спектрального определения примесей в оксидах щелочноземельных и редкоземельных металлов, оксидах бора, алюминия, кремния, титана, ванадия, хрома, марганца, железа, никеля, кобальта, меди, цинка, галлия, германия, циркония, ниобия, молибдена, кадмия, индия, олова, гафния, тантала, вольфрама, рения, ртути и свинца, фторидах щелочных, щелочноземельных и редкоземельных металлов, хлоридах щелочных металлов, хлоридах галлия и индия, хлоридах и бромидах таллия и серебра, сульфидах марганца, железа, кобальта, никеля, цинка, кадмия, олова и свинца, карбидах бора, бериллия, алюминия, кремния, титана, ванадия, хрома, марганца, железа, иттрия, циркония, молибдена, ниобия, лантана, церия, гафния, тантала и вольфрама	ОАО "Гиредмет"	18 ноября 2010 г.
3	Методика масс-спектрального определения примесей (ММСОП) в бериллии, магнии, кальции, скандии, стронции, иттрии, барии, лантане, церии, празеодиме, неодиме, самарии, европии, гадолинии, тербии, диспрозии, гольмии, эрбии, тулии, иттербии и лютеции (полный примесный состав)	ОАО "Гиредмет"	25 июня 2008 г.
4	Методика исследования структурного совершенства монокристаллических объектов методом рентгеновской топографии	-	-
5	Методика рентгеноспектрального определения золота и серебра во вторичном сырье драгоценных (благородных) металлов	ОАО "Гиредмет"	14 января 2005 г.
6	Методика исследования структурных дефектов в монокристаллах и эпитаксиальных композициях на наноразмерном уровне методом просвечивающей электронной микроскопии	-	-
7	Методика исследования структурного совершенства монокристаллов методом просвечивающей ИК-микроскопии	-	-
8	Методика выполнения измерения углов отклонения плоскостей пластины, базового среза на пластине и геометрический оси затравки монокристаллического кремния от заданных кристаллографических плоскостей и направлений и идентификация кристаллографической ориентации геометрических плоских поверхностей пластины, базового среза на пластине и оси затравки рентгенодифрактометричес-ким способом. Погрешность измерения угла отклонения кристаллографической плоскости от плоскости среза не более 1¢	ОАО "Гиредмет"	14 января 2005 г.
9	Методика получения наноразмерных кремния и карбида кремния	ОАО "Гиредмет"	14 января 2005 г.
10	Методика получения устойчивых дисперсий наноразмерных частиц	ОАО "Гиредмет"	14 января 2005 г.
11	Методика проведения измерений коэффициента пропускания порошков нанокремния в ультрафиолетовом диапазоне спектра	ОАО "Гиредмет"	14 января 2005 г.
12	Методика определения удельной поверхности и пористости нанодисперсных порошков кремния	ОАО "Гиредмет"	14 января 2005 г.
13	Методика измерения времени жизни ННЗ методом затухания фотопроводимости, диапазон измерений tННЗ 10-5000 мкс. Для монокристаллического кремния с УЭС более 40 Ом·см погрешность единичного измерения 4,00%	-	-
14	Методика исследования структурного совершенства монокристаллических объектов методом рентгеновской топографии	ОАО "Гиредмет"	14 января 2006 г.

Номер пункта. Наименование методики. В данном столбце заполняется наименование методики, в которой должны быть отражены метод измерения и цель измерения. Наименование организации аттестовавшей методику. Заполняется наименование организации, аттестовавшей методику. Если методика аттестована во внутренних органах организации, имеющих аккредитацию, заполняется собственное имя организации. Дата аттестации (число, месяц, год). Заполняется дата аттестации.

Форма №5.