П. И. РУДАКОВ, А. А. ФИЛИН
Московский инженерно-физический институт (государственный университет)
СЕГМЕНТАЦИЯ ПОЛУТОНОВЫХ ИЗОБРАЖЕНИЙ МЕТОДОМ ПОСТРОЕНИЯ ЯРКОСТНЫХ ПРОФИЛЕЙ
В данной работе рассматривается метод сегментации полутоновых изображений, основанный на построение яркостных профилей, проходящих через центр масс исследуемого объекта.
Одним из требований, предъявляемых к автоматизированной системе анализа изображений микрочастиц, полученных с помощью растрового электронного микроскопа, является достоверное автоматическое выделение объекта интереса. Как показали проведенные исследования использование алгоритмов сегментации, основывающихся на сравнении средних характеристик яркости областей, не дает приемлемого результата [1]. Учитывая, что анализируемое изображение, содержит только один объект интереса, расположенный, как правило, в центре изображения и занимающий около 40% всей площади изображения предлагается использовать алгоритм сегментации, использующий предварительную оценку координат центра объекта.
Сформированный алгоритм бинаризации основан на анализе яркостных профилей, проведенных через центр масс исследуемого объекта. Для предварительного определения центра масс, изображение проходит предварительную бинаризацию по методу Отсу, который позволяет произвести первичное выделение объекта на изображении. После того, как определен центр масс объекта, через него проводятся n равномерно расположенных секущих (n>=64). На отрезках секущих формируются 2n профилей яркости, по которым определяются области, а затем точки, расположенные на границах объекта, после чего граничные точки соединятся между собой.
Таким образом, данный метод сегментации позволяет выделять на полутоновых изображениях крупные объекты, занимающие не менее 40% всей площади исследуемого изображения.
Список литературы
1. , , Сафо
нов алгоритма измерения морфометрических показателей микрочастиц по изображению, полученному в растровом электронном микроскопе. ПОВЕРХНОСТЬ, физика, химия, механика №10 , 2005.
