ФГУП "НИИФП им. " Российское агентство по системам управления | Москва, Зеленоград, Тел.: (0Факс: (0 e-mail: *****@***ru web: www. ***** |
ФГУП "НИИФП им. " учреждено в 1964 году. На сегодняшний день в его штате 350 сотрудников (среди них 70 имеют ученую степень). В 3-х научно-производственных корпусах института сосредоточено современное технологическое и диагностическое оборудование для проведения разработок в области микро - и наноэлектроники, микроэлектромеханики. Одно из важнейших направлений исследований в институте - создание сверхпроводниковой элементной базы электроники. Разработки по этому направлению ведутся с 1974 года. За четверть века накоплен значительный практический опыт по разработке элементной базы на основе эффекта Джозефсона:
· создана технологическая линия, позволяющая оперативно проводить новые разработки сверхпроводниковых тонкопленочных структур;
· отработана технология получения любых типов джозефсоновских переходов.
Крупнейшие достижения института - разработки и исследования цифровых и аналоговых сверхпроводниковых интегральных схем:
· элементы сверхбыстродействующих АЦП,
· многоканальные магнитометрические и градиентометрические системы,
· сверхпроводниковые СВЧ ИС,
· ИС эталона напряжения,
· ИС ИК диапазона длин волн.
Наряду с разработкой ИС джозефсоновских схем на низкотемпературных сверхпроводниках, создается задел по формированию тонких пленок высокотемпературных сверхпроводников (ВТСП) и схем на их основе.
В настоящее время НИИФП совместно с ЗАО "Компэлст" активизировали работы по дальнейшему развитию сверхпроводниковой технологии и элементной базы на ее основе. Начаты работы по изучению и формированию джозефсоновских переходов типа SINIS, теоретически разработанных (НИИЯФ МГУ). Совместно с МПГУ проводятся работы по созданию приемных NbN элементов терагерцовой области частот на основе эффекта разогрева электронов. По заказу Госстандарта России совместно с ВНИИМ им. выполнен эскизный проект и изготавливаются тестовые образцы джозефсоновских ИС для решения метрологических задач (создание отечественной элементной базы эталонов электрических величин). В настоящее время координирующую роль по этим работам взял на себя ВНИИМС.
АДМИНИСТРАЦИЯ
Директор института – , д. т.н. |
Тел.: (0 Факс: (0 e-mail: *****@***ru |
Ученый секретарь - , д. ф.-м. н. |
Тел.: (0 |
ПОдразделение и
ведущие специалисты
Отдел 83
Тел.: (0
Факс: (0
e-mail: *****@***ru
главный технолог, начальник отдела | |
, к. ф.-м. н. | начальник лаборатории |
, к. ф.-м. н. | начальник лаборатории |
начальник лаборатории | |
ведущий инженер | |
ведущий инженер | |
инженер технолог 1категории |
КООПЕРАЦИИ
| Физический факультет МГУ НИИЯФ МГУ | Теоретический анализ свойств джозефсоновских переходов и сверхпроводниковых ИС на их основе; расчет и проектирование сверхпроводниковых ИС. | |
МПГУ, | Радиометры ТГц диапазона на основе сверхпроводниковых наноструктур. | ||
ВНИИМС, | Эталон Вольта на основе цепочек джозефсоновских переходов. | ||
ВНИИФТРИ, Менделеево Московской обл. | Компараторы тока на ПТ-сквидах и цепочки джозефсоновских переходов для эталона Вольта. | ||
ЗАО | Системы измерения температуры и теплая электроника для сверхпроводниковых приборов. |
ВАЖНОЕ ТЕХНОЛОГИЧЕСКОЕ ОБОРУДОВАНИЕ
И ДИАГНОСТИЧЕСКАЯ АППАРАТУРА
Технологическое оборудование для формирования джозефсоновских переходов и сверхпроводящих контактов
Вакуумные установки Тип, марка | Год приобретения | Функциональные возможности | |
УВН-75П-1 | 1976 г. | Нанесение тонких пленок Nb, Mo, Ti, a-Si с предварительной ионной очисткой поверхности пластин. | |
UTS-500 | 1981 г. | ||
SCR-650 | 1991 г. | ||
"Магна" | |||
УРМ 3.279.011 | 1977 г. | Нанесение SiO2, Al2O3, ZrO2 |
|
УВН-71 Р-3 | 1970 г. | Нанесение V, Cu, Al |
|
Оборудование для формирования рисунка и химической обработки пластин (проектные топологические нормы 2 мкм)
Наименование | Тип, марка | Год приобретения |
§ Установка для проведения фотолитографических работ | "ЛАДА" | 1985 г. |
§ Установки совмещения и экспонирования. | ЭМ-5006 ЭМ-5006А | 1988 г. |
§ Установка ионно-химического травления | УРМ 3.279.029 | 1975 г. |
§ Установка плазменной обработки пластин | "Плазма 600". | 1981 г. |
Контрольно-измерительное оборудование:
Наименование | Тип, марка | Год приобретения |
§ Оптический микроскоп | NU-2E | 1984 г. |
§ Автоматический эллипсометр | AutoEL-4 | 1991 г. |
§ электронный микроскоп | STEREO-SCAN360 | 1991 г. |
§ Атомно-силовой микроскоп | SOLVER | 2000 г. |
§ Измеритель проводимости пленок | ИУС-1 |
Оборудование для скрайбирования, резки и сборки кристаллов - "Алмаз", ЭМ-225 (год приобретения - 1977 г.).
Измерительный стенд для межоперационного контроля и электрофизических исследований в технологии (контроль зависимости R(T) и ВАХ – изготовлен в 1985 г.).
Оборудование для проектирования топологии сверхпроводниковых ИС
Тип, марка | Год приобретения | Функциональные возможности |
ЭВМ IBM PC (PentiumII) | 2001 г. | Иерархическая система проектирования "Pult 3.1" |
РЕЗУЛЬТАТЫ НАУЧНЫХ ИССЛЕДОВАНИЙ
ЗА ПОСЛЕДНИЕ 5 ЛЕТ
1997 г.
, ,
Электрофизические свойства и структура тонких эпитаксиальных пленок молибдена и ниобия.
Тезисы докладов. III Международная научно-техническая конференция “Микроэлектроника и информатика” 1997 г. Москва, Зеленоград. с. 51-59, 173
1998 г.
, ,
Просранственно-селективный метод формирования металлических кластеров.
Тезисы докладов. Всероссийская научно-техническая конференция «Микро - и наноэлектроника 98», Звенигород 1998
,
Аппаратно-программный комплекс для исследования электрофизических характеристик туннельно-кластерных наноструктур.
Тезисы докладов. Всероссийская научно-техническая конференция «Микро - и наноэлектроника 98», Звенигород, 1998
2000 г.
, ,
Высокостабильный монокристаллический молибденовый терморезистор в интегральном исполнении.
Тезисы докладов. Всероссийская конференция “Сенсор-2000” с. 239. Санкт-Петербург 21-23 июня 2000 г.
, ,
Электрофизические характеристики молибденового термоанемометра
Тезисы докладов. Всероссийская конференция “Сенсор-2000”. Санкт-Петербург 21-23 июня 2000 г.
РАЗРАБОТКИ, ИМЕЮЩИЕ ПРИКЛАДНОЙ ПОТЕНЦИАЛ
ПРИБОРЫ И УСРОЙСТВА
1. НТСП магнитометрические и градиентометрические ИС на основе
ПТ-сквидов.
§ Разрешение по магнитному полю - Т/Гц1/2
§ Динамический диапазон - дБ
§ Рабочий ток -мкА.
Область применения – прецизионные измерительные системы.
Состояние разработок - изготовлены и испытаны НТСП ИС на основе многопетлевых ПТ-сквидов.
2. Многоканальные магнитометрические системы на основе НТСП
ПТ-сквидов.
§ Разрешение по магнитному полю - Т/Гц1/2
§ Динамический диапазон - дБ
§ Рабочий ток -мкА.
Область применения – медицина, геология, геофизика, НЧ-связь.
Состояние разработок - проведены лабораторные испытания 3-х канальной магнитометрической системы.
3. ИС цепочек джозефсоновских переходов для стандарта напряжения.
§ Число переходов - до 1000
§ Критический ток - до 500 мкА
§ Рабочая частота -ГГц.
Область применения – эталоны Вольта.
Состояние разработок - Изготовлены и испытаны ИС с числом переходов до 100.
4. Терморезистивные датчики на основе монокристаллических Mo пленок.
§ Рабочий диапазон -К
§ Точность градуировки - 0,1 - 0,01 К
§ Воспроизводимость 0,01 К.
Область применения – Термометрические измерительные системы на диапазон температурК.
Состояние разработок - Изготовлены и испытаны терморезистивные датчики для НПО"Химавтоматика", ВНИИФТРИ.



