Проектирование информационных систем (стр. 1 )

ПРОЕКТИРОВАНИЕ

ИНФОРМАЦИОННЫХ

СИСТЕМ

Учебно-методический комплекс

Ульяновск 2006

Предисловие

Учебным планом по дисциплине предусмотрено 119 часов аудиторных занятий, из них лекции – 51 час, лабораторные работы – 51 час, практические занятия – 17 часов, 85 часов для самостоятельной работы, зачет в седьмом семестре, курсовой проект и экзамен в восьмом семестре.

Дисциплина знакомит студентов с устройством различных информационных измерительных систем (ИИС), принципами их построения и применения, методами проектирования. В результате изучения дисциплины студенты должны приобрести знания об основных структурах, алгоритмах работы, характеристиках ИИС и их частей. Объем этих знаний должен быть достаточным для оценки метрологических характеристик, выбора и организации совместной работы функциональных блоков ИИС конкретного применения. Предполагается, что студенты знакомы с теоретическими основами и средствами измерительной, вычислительной техники, языками программирования.

Изучение курса следует начинать с проработки программного материала по рекомендованной литературе и конспекту лекций. После изучения соответствующих разделов можно выполнять лабораторные работы. Завершающей стадией обучения является курсовое проектирование. Курсовой проект содействует систематизации, закреплению и расширению научно-технических знаний в соответствии с современными достижениями отечественной и зарубежной науки и техники, овладению методами научных исследований и углубленному изучению отдельных вопросов в соответствии с темой проекта.

Студенты самостоятельно выбирают тему проекта, которая согласуется с руководителем. Тематика курсовых проектов должна отражать содержание курса «Проектирование информационных систем» и может включать разработку следующих систем: 1) горизонтальный астрокомпас; 2) горизонтальный астроориентатор; 3) пилотажно-навигационная система воздушных сигналов; 4) навигационная система воздушного счисления пути; 5) инерциальная навигационная система; 6) курсовая система; 7) командно-пилотажная навигационная система; 8) система контроля топливной аппаратуры; 9) система автоматизированной поверки электроизмерительных приборов; 10) компьютерная модель лабораторного стенда.

При проведении лабораторных занятий используются также компьютерные модели лабораторных стендов по метрологии и измерительной технике, навигационным и радиотехническим системам, разработанные студентами факультета информационных систем и технологий Ульяновского технического университета в курсовых и дипломных проектах. Примеры виртуальных лабораторных работ приведены в директориях Um_pris\lab\1\ и Um_pris\lab\4\ .

Рекомендуемая литература

Основная:

1. Боднер В. А. Приборы первичной информации. – М.: Машиностроение, 1981. – 344 с.

2. Браславский Д. А. Приборы и датчики летательных аппаратов. – М.: Машиностроение, 1970. – 392 с.

3. Помыкаев И. И., Селезнев В. П., Дмитроченко Л. А. Навигационные приборы и системы. – М.: Машиностроение, 1983. – 456 с.

4. Цапенко М. П. Измерительные информационные системы: Структуры и алгоритмы, системотехническое проектирование. – М.: Энергоатомиздат, 1985. – 439 с.

5. Соломатин Н. М., Шервитис Р. П., Макшанцев М. М. Выбор микроЭВМ для информационных систем. – М.: Высш. шк., 1987. – 109 с.

6. Основы метрологии и электрические измерения / Б. Я. Авдеев, Е. М. Антонюк, Е. М. Душин и др.; Под ред. . – Л.: Энергоатомиздат. Ленингр. отд-ние, 1987. – 480 с.

7. Савельев А. Я., Овчинников В. А. Конструирование ЭВМ и систем. – М.: Высш. шк., 1989. – 312 с.

Дополнительная

8. Федоров А. М., Цыган Н. Я., Мичурин В. И. Метрологическое обеспечение электронных средств измерений электрических величин. – Л.: Энергоатомиздат, 1988. – 208 с.

9. Балашов Е. П., Пузанков Д. В. Проектирование информационно-управляющих систем. – М.: Радио и связь, 1987. – 256 с.

10. Каган В. М., Сташин В. В. Основы проектирования микропроцессорных устройств автоматики. – М.: Энергоатомиздат, 1987. – 304 с.

11. Фридмен М., Ивенс Л. Проектирование систем с микрокомпьютерами. – М.: Мир, 1986. – 405 с.

12. Добрынин Е. М. Приборы автоматического контроля размеров в машиностроении. – М.: Машгиз, 1960. – 302 с.

13. Браславский Д. А., Логунов С. С., Пельпор  приборы и автоматы. – М.: Машиностроение, 1978. – 432 с.

14. Браславский Д. А., Петров В. В. Точность измерительных устройств. – М.: Машиностроение, 1976. – 312 с.

15. Селезнев В. П. Навигационные устройства. – М.: Машиностроение, 1974. – 600 с.

16. Чернявский Е. А., Недосекин Д. Д., Алексеев В. В. Измерительно-вычислительные средства автоматизации производственных процессов. – Л.: Энергоатомиздат, 1989. – 272 с.

17. Гуткин Л. С. Проектирование радиосистем и радиоустройств. – М.: Радио и связь, 1980. – 288 с.

18. Липаев В. В. Проектирование программных средств. – М.: Высшая школа, 1990. – 303 с.

19. Колосов В. Г., Мелехин В. Ф. Проектирование узлов и систем автоматики и вычислительной техники. – Л.: Энергоатомиздат, 1983. – 256 с.

20. Капиев Р. Э. Измерительно-вычислительные комплексы. – Л.: Энергоатомиздат, 1988. – 176 с.

21. Интерфейсы систем обработки данных: Справочник /А. А. Мячев, В. Н. Степанов, В. К. Щербо. – М.: Радио и связь, 1989. – 416 с.

22. Гордеев А. А., Кирпичникова Л. Г. Пособие по проектированию автоматических информационных устройств по курсу «Автоматические информационные устройства и системы летательных аппаратов». – М.: МАИ, 1975. – 79 с.

23. Вальков В. М., Вершин В. Е. Автоматизированные системы управления технологическими процессами. – Л.: Политехника, 1991. – 269 с. 

При проведении лабораторных занятий, курсовом проектировании используются методические разработки Шивринского В. Н.:

- Методическое руководство к лабораторным работам по курсу «Навигационные системы и гироприборы», 1977. – 158 с.

- Решение полярного треугольника светила с помощью микрокалькулятора «Электроника Б3 - 34», 1983. – 47 с.

- Метрология и измерительная техника. Многоканальный программируемый вольтметр: Сборник лабораторных работ, 1988. – 32 с.

- Навигационные системы: Сборник лабораторных работ, 1988. – 32 с.

- Метрологическое обеспечение авиационных приборов и измерительно-вычислительных комплексов: Сборник лабораторных работ, 1990. – 40 с.

- Интерфейсы измерительно-вычислительных комплексов: Сборник лабораторных работ, 1992. – 40 с.

- Проектирование измерительно-вычислительных комплексов: Сборник лабораторных работ, 1993. – 40 с.

- Основы проектирования измерительно-вычислительных комплексов: Сборник лабораторных работ, 1996. – 28 с.

- Исследование интерфейсов ИВК: Сборник лабораторных работ для студентов направления 2001. – 36 с.

- Исследование двухуровневого ИВК: Сборник лабораторных работ для студентов направления 2001. – 32 с.

- Проектирование информационных систем: Сборник лабораторных работ для студентов специальности 2002. – 40 с.

- Исследование приборного интерфейса: Сборник лабораторных работ, 2004. – 40 с.

- Измерительно-вычислительные комплексы: Курсовое проектирование, 1994. – 24 с.

- Основы проектирования измерительно-вычислительных комплексов: Конспект лекций для студентов направления 5515, 1995. – 144 с.

- Основы метрологии и электрические измерения: Конспект лекций для студентов направления 5515, 1999. – 124 с.

Учебно-методическая карта дисциплины

Тема 1. Основные понятия и определения.

Введение. Предмет курса. Понятие «измерение». Структурные схемы средств измерений. Виды измерений. Прямые, косвенные, совокупные, совместные измерения [Л.2, с.3 - 6; Л.6, с].

Виды погрешностей измерений и источники их появления. Систематические погрешности. Погрешности косвенных измерений. Случайные погрешности [Л.6, с].

Тема 2. Характеристики средств измерений.

Классификация средств измерений. Статические характеристики средств измерений. Динамические характеристики средств измерений [Л.1, с,; Л.2, с.7 - 11,,].

Погрешности средств измерений. Нормирование метрологических характеристик [Л.1, с.; Л.2, с; Л.6, с.].

Автоматизированные информационные системы. Государственная система приборов и агрегатные комплексы. Основные блоки измерительных систем. Основные структуры автоматизированных измерительных систем [Л.16, с; Л.6, с].

Тема 3. Основные этапы проектирования приборов и ИИС.

Техническое задание (ТЗ). Техническое предложение. Эскизный проект, технический проект, рабочая документация [Л.7, с.7 - 13].

Цикл проектирования системы. Язык проектирования. Требования пользователей и функциональная спецификация [Л.11, с].

Тема 4. Основы проектирования приборов.

Выбор метода измерения и формирование структурной схемы [Л.1, с; Л.13, с].

Выбор чувствительного элемента [Л.1, с; Л.13, с]. Принципы конструирования приборов [Л.13, с; Л.7, с].

Тема 5. Расчет характеристик приборов и систем.

Общие понятия. Методы расчета статических характеристик [Л.1, с; Л.2, с; Л.13, с].

Методы расчета динамических характеристик. Оптимизация параметров приборов и систем [Л.1, с, ; Л.2, с; Л.13, с].

Тема 6. Расчет погрешностей приборов и систем.

Определение погрешностей измерительного звена по его расчетной характеристике [Л.1,с.; Л.2, с.; Л.13, с].

Определение погрешностей прибора по структурной схеме [Л.1, с.; Л.2, с.; Л.13, с].

Расчет допусков на погрешность прибора [Л.13, с].

Тема 7. Общая характеристика измерительно-вычислительных комплексов.

Структуры ИВК. Характеристики ИВК. Принципы формирования комплексов получения информации [Л.20, с].

Тема 8. Средства системного обмена.

Общая характеристика интерфейсов. Классификация интерфейсов [Л.20, с; Л.21, с.8 - 10,].

Системные интерфейсы [Л.21, с].

Интерфейсы магистрально-модульных мультипроцессорных систем [Л.21, с.].

Интерфейсы периферийного оборудования. Интерфейс ИРПР. Интерфейс ИРПС [Л.21, с].

Интерфейсы программируемых приборов. Общее построение интерфейса Hewlett-Packard [Л.21, с.].

Интерфейсы системы КАМАК [Л.21, с.].

Структуры средств системного обмена [Л.20, с].

Тема 9. Субкомплексы.

Групповые нормирующие преобразователи. Субкомплексы с программируемой структурой. Структуры измерительной части СПС. Реализация структур субкомплексов [Л.20, с].

Примерный перечень лабораторных работ

1. Изучение и исследование интерфейса ИРПР.

2. Изучение и исследование интерфейса ИРПС.

3. Изучение и исследование приборного интерфейса.

4. Изучение и исследование контроллера интерфейса IEEE-488.

5. Изучение учебного микропроцессорного комплекта УМК.

6. Изучение и исследование ЦАП.

7. Изучение и исследование АЦП.

8. Вычисление барометрической высоты и истинной воздушной скорости.

9. Изучение и исследование ИВК в составе навигационного автомата воздушного счисления пути.

10. Решение полярного треугольника светила.

11. Изучение и исследование ИВК в составе горизонтального астрокомпаса.

12. Изучение и исследование ИВК в составе горизонтального астроориентатора.

13. Изучение и исследование ИВК «Курсор». Работа с внешними дискретными устройствами.

14. Исследование метрологических характеристик ИВК «Курсор». Работа с драйверами ввода-вывода аналоговых сигналов.

Электронные версии методических пособий по проведению лабораторных занятий приведены в директории Um_pris\lab\ .

Конспект лекций

Глава 1. Основные термины и определения

Измерительная техника является важнейшим фактором научного и технического прогресса во всех областях народного хозяйства. Электроизмерительная техника, как часть измерительной техники, имеет особое значение благодаря широким возможностям, которые делают ее универсальной.

Электрическими методами измеряются практически все физические величины - электрические и неэлектрические. Диапазон измеряемых физических величин довольно велик: силы тока от 10-16 А до сотен тысяч ампер; напряжения от 10-9 В до десятков миллионов вольт; сопротивления от сотых долей микроома до 1016 Ом и т. д.

Разнообразны условия измерений - от благоприятных условий метрологических лабораторий до очень тяжелых промышленных, полевых, транспортных. Различны и требования к точности результатов измерений. Еще сравнительно недавно измерения электрических величин с погрешностями, не превышающими 0.1-0.01% , производились только в лабораторных условиях. В настоящее время такая точность необходима и при промышленных измерениях.

Проникновение микропроцессоров в измерительную технику улучшило многие характеристики средств измерений, придало им новые свойства. С помощью микропроцессорных систем достигаются многофункциональность приборов, упрощение управления измерительной процедурой, автоматизация регулировок, самокалибровка и автоматическая поверка, улучшение метрологических характеристик, выполнение вычислительных операций, статистическая обработка результатов наблюдений, создание программируемых, полностью автоматизированных приборов.

В современной промышленности для оптимального управления технологическими процессами требуется получение информации о большом числе параметров объектов, а также оперативная обработка этой информации. Это привело к появлению и развитию сложных систем, предназначенных для автоматического сбора и переработки информации. Такие системы получили название измерительных информационных систем (ИИС).

Предмет курса, понятие «измерение»

Метрология - наука об измерениях, методах и средствах обеспечения их единства и способах достижения требуемой точности.

Измерение - нахождение значения физической величины опытным путем с помощью специальных технических средств.

Физическая величина - свойство, общее в качественном отношении многим физическим объектам, но в количественном отношении - индивидуальное для каждого объекта. Например, электрическое напряжение - это свойство, в качественном отношении общее для всех источников электрической энергии - от гидроэлектростанции до батарейки наручных часов; в количественном отношении напряжения источников различны.

Значение физической величины - оценка физической величины в виде некоторого числа принятых для нее единиц. Например, значение напряжения (не «величина напряжения»!) 220 В. Число 220 называется числовым значением, В – вольт - единица напряжения.

Истинное значение физической величины - значение физической величины, которое идеальным образом отражает в качественном и количественном отношениях соответствующее свойство данного объекта. Истинное значение практически недостижимо.

Действительное значение физической величины - значение, полученное экспериментальным путем и настолько приближенное к истинному, что для данной цели может быть использовано вместо него.

Единица физической величины - физическая величина, которой по определению присвоено значение 1. Единицы физических величин делятся на основные, выбираемые произвольно при построении системы единиц, и производные, образуемые в соответствии с уравнениями связи с другими единицами данной системы единиц.

Система единиц физических величин - совокупность основных и производных единиц, относящаяся к некоторой системе величин. В нашей стране действует ГОСТ 8.417-81 «Единицы физических величин», которым установлено обязательное применение Международной системы единиц СИ, принятой в 1960 году 11 Генеральной конференцией по мерам и весам.

Проектирование информационных систем - дисциплина знакомит студентов с устройством различных измерительных информационных систем, принципами их построения и применения, методами проектирования.

Прежде чем рассматривать непосредственно методы измерений, остановимся на понятии «измерение» в общем смысле слова. Измерение - это процесс сравнения двух величин и выражение результата измерения цифрой, имеющей размерность.

Структурные схемы средств измерений

Структурная схема элементарной базовой системы измерения представлена на рис.1.1. Здесь Ч - чувствительный элемент, который воспринимает воздействие объекта; М - мерный элемент, хранитель эталона; СР1 - сравнивающий элемент {сравнивает две величины X'(t) и Xэт(t)}; И - исполнительный элемент - конечный элемент, несущий сигнал в необходимой форме.

Рис.1.1. Структурная схема элементарной

базовой системы измерения

В результате измерения получим именованное число. Например, размер детали Хиз = 20 мм, а задано Хз = 18 мм. Разность D = Хиз - Хз == 2 мм, где D - отклонение от нормы. Одного процесса измерения мало, необходимо вести контроль. Определяя отклонение D, мы определяем, например, необходимую подачу для снятия излишнего металла (2 мм). В простейшем случае эти операции выполняет человек. При автоматизации производственных процессов операция контроля поручается самому измерительному прибору.

Структурная схема элементарной базовой системы контроля представлена на рис.1.2. Схема содержит систему измерения и задающий элемент З - задатчик нормы измеряемой величины, а также CР2 - второе сравнивающее устройство.

Рис.1.2. Структурная схема элементарной

базовой системы контроля

Контроль является составной операцией: а) измерение величины, б) сравнение измеряемой величины с нормой. Результатом является не величина, а отклонение ее от нормы.

Задающий сигнал Хз(t) может быть 3-х видов: 1) const; 2) f(t) - заданная функция времени; 3) f(t) = ? - неизвестная функция. В первом случае речь идет о стабилизирующем контроле, когда определяется отклонение от постоянной величины. Во втором случае определяется отклонение от заданной функции времени f(t) - программный контроль. В третьем случае определяется отклонение от заранее неизвестной, но существующей функции - следящий контроль.

Если полученное в процессе контроля отклонение от нормы подать на вход автоматического устройства (например, автоматического станка), то получим схему автоматического регулирования, с помощью которой отклонение от нормы не будет превышать заданного значения (в идеальном случае стремится к нулю).

Структурная схема элементарной базовой системы регулирования представлена на рис.1.3. Здесь СК - система контроля, ПР - преобразователь.

Рис.1.3. Структурная схема элементарной

базовой системы регулирования

В данном случае осуществляется регулирование по D или по (D/Х) = e (e - рассогласование), т. е. процесс (объект) регулируется по отклонению. Также, как и для системы контроля, Хз(t) может быть трех видов: 1) const; 2) f(t) - заданная функция времени; 3) f(t) = ? - неизвестная функция. В первом случае речь идет об автомате стабилизации, 2) - о программном регулировании, 3) - о синхронно-следящем регулировании.

Воздействовать на вход объекта или на процесс можно и с помощью системы управления.

Структурная схема элементарной базовой системы управления представлена на рис.1.4. Здесь wупр - сигнал управления (с какого-то носителя информации, например магнитной ленты). Управление рассматривается как воздействие на управляемый процесс по определенной программе.

Рис.1.4. Структурная схема элементарной

базовой системы управления

Для управления современными технологическими процессами, объектами приходится измерять несколько параметров (может быть несколько сотен) и по ним принимать решение о воздействии на объект. Чем выше уровень автоматизации, тем больше различных вычислительных операций выполняют сами приборы. В этом случае необходимым звеном в системе измерения является вычислительное устройство.

Виды измерений

Измерения могут быть прямыми, косвенными, совокупными, совместными. При прямых измерениях процесс измерения производится над самой измеряемой величиной, имея в виду то или иное ее проявление. При косвенных измерениях значение искомой величины Х определяется расчетным путем на основании прямых измерений других величин, связанных с измеряемой известной зависимостью. При совокупных измерениях значения нескольких искомых величин определяются на основе прямых или косвенных измерений других величин путем решения системы соответствующих уравнений. При совместных измерениях производят одновременно измерения двух или нескольких неодноименных величин для нахождения зависимости между ними.

Виды погрешностей измерений и источники их появления

Обязательными компонентами любого измерения являются: 1) физическая величина, значение которой нужно измерить; 2) единица физической величины; 3) метод измерения; 4) средство измерения; 5) наблюдатель (ЭВМ); 6) условия окружающей среды; 7) результат измерения.

Погрешность вызывается совместным изменением перечисленных выше компонент в процессе измерения физической величины.

Результат измерения Х представляет собой лишь оценку измеряемой величины, в нем заключена некоторая погрешность

D = Х - Хи. (1.1)

Так как истинное значение Хи неизвестно, то

D = Х - Хд. (1.2)

Здесь Хд - действительное значение измеряемой величины; D - абсолютная погрешность измерения.

Часто погрешность выражается в относительных единицах, %

d = (D/Х) ×100 » (D/Хд) ×1

Точность измерений - это качество измерений, отражающее близость их результатов к истинному значению измеряемой величины. Количественно точность измерений может быть выражена значением, обратным модулю относительной погрешности: Т = ç1/d ç. Высокая точность измерений соответствует малым значениям погрешности.

Погрешности косвенных измерений

Пусть результат измерения Х есть функция некоторых величин A, B, C, ..., полученных в результате прямых измерений с погрешностями DA, DB, DC, ... . При этом считаем, что «первичные» погрешности DA, DB, DC, ... малы по сравнению со значениями самих величин и взаимно независимы. Итак, имеем

X = f(A, B, C, .

Здесь A = AO + DA, B = BO + DB, C = CO + DC, ...; AO, BO, CO, ... - истинные значения измеренных величин.

Раскладывая уравнение (1.4) в ряд Тейлора, ограничиваясь первыми членами разложения и вычитая из полученного уравнения уравнение (1.4), получим выражение для погрешности косвенных измерений в следующем виде

DX = (df/dA)×DA + (df/dB)×DB + (df/dC)×DC +

Коэффициенты df/dA, df/dB, df/dC, ... называют коэффициентами влияния, показывающими степень влияния первичных погрешностей DA, DB, DC, ... на результирующую погрешность DХ.

Иногда текущие значения первичных погрешностей DA, DB, DC неизвестны, а известны лишь их предельные значения. В этом случае погрешность косвенных измерений вычисляют по уравнению (1.6).

DX = ± (1.6)

Систематические погрешности

Систематическими называют погрешности, остающиеся постоянными или изменяющиеся по определенному закону при повторных измерениях одной и той же величины. Они могут быть изучены, результат измерения может быть уточнен или путем внесения поправок, если числовые значения этих погрешностей определены, или путем применения таких способов измерения, которые дают возможность исключить влияние систематических погрешностей без их определения.

Случайные погрешности

Случайными называют погрешности, изменяющиеся случайным образом при повторных измерениях одной и той же величины. Случайные погрешности не могут быть исключены из результатов измерений как систематические погрешности. Однако при проведении некоторого числа повторных измерений теория вероятности позволяет несколько уточнить результат, т. е. найти значение измеряемой величины более близкое к истинному, чем результат одного измерения.

Глава 2. Характеристики средств измерений

Классификация средств измерений

Все средства измерений делятся на меры, измерительные преобразователи, измерительные приборы, измерительные установки и измерительные системы. В свою очередь, каждое из средств измерений может быть образцовым или рабочим.

Мерой называется средство измерения, предназначенное для воспроизведения физической величины заданного размера (значения). Меры бывают однозначные, многозначные и наборы.

Однозначные меры воспроизводят физическую величину одного размера. Многозначные ряд одноименных величин разного разряда (например, конденсатор переменной емкости).

Набор мер содержит комплект мер, применяемых как в отдельности, так и в различных сочетаниях. Набор мер, конструктивно объединенный в одно целое с переключающими устройствами для воспроизведения ряда одноименных величин различного значения (размера), называется магазином (магазин сопротивлений и др.).

Измерительными преобразователями называют средства измерений, предназначенные для выработки сигналов в форме, удобной для передачи, дальнейшего преобразования, обработки, хранения, но не поддающиеся непосредственному восприятию наблюдателем.

Измерительными приборами называют средства измерений, предназначенные для выработки сигналов, функционально связанных с измеряемыми физическими величинами, в форме, доступной для восприятия наблюдателем.

Измерительной установкой называется совокупность функционально и конструктивно объединенных средств измерений и вспомогательных устройств, предназначенных для рациональной организации измерений. Измерительная установка позволяет предусмотреть определенный метод измерения и заранее оценить погрешность.

Измерительная информационная система представляет собой совокупность средств измерений и вспомогательных устройств, предназначенную для автоматического сбора информации от ряда источников с многократным использованием измерительных преобразователей, передачи измерительной информации на те или иные расстояния по каналам связи и представления ее в том или ином виде.

Рабочие средства измерений применяются для измерений не связанных с поверкой, т. е. передачей размера единиц.

Образцовые средства измерений служат для поверки других средств измерений, т. е. для передачи размера единицы физической величины. По точности образцовые средства измерений делятся на четыре разряда, каждый из которых соответствует одной ступени поверочной схемы.

Среди образцовых средств измерений особое место занимает эталон единицы физической величины, который предназначен для воспроизведения и хранения единицы физической величины с целью передачи ее размера нижестоящим по поверочной схеме средствам измерений.

Средства измерений можно классифицировать по весьма разнообразным признакам, которые в большинстве случаев взаимно независимы и в каждом средстве измерений могут находиться почти в любых сочетаниях.

Признаки классификации: 1) принцип действия; 2) способ образования показаний; 3) точность; 4) условия применения; 5) степень защищенности от внешних магнитных и электрических полей; 6) прочность и устойчивость против механических воздействий и перегрузок; 7) чувствительность; 8) пределы и диапазоны измерений и т. д.

Рассматривая приборы в виде, представленном на рис.1.1-1.2, их можно также классифицировать по следующим признакам:

1) по воспринимающей способности, 2) по виду сравнивающего элемента (по методу сравнения), 3) по типу задающего элемента.

Воспринимающая способность зависит от характера входной величины. Х(t) может быть следующих видов: 1) Х=const; 2) Х=var: а) среднее значение – медленно меняющаяся величина; б) флуктуации (пульсации); в) переходный процесс.

Приборы, измеряющие постоянные величины, можно назвать приборами статических измерений. Приборы, которые измеряют переменные, но средние по значению величины, называют квазистатическими. Приборы, которые измеряют флуктуации и переходный процесс, называют динамическими.

Выбор вида чувствительного элемента зависит от типа входного воздействия. Кроме того, вид чувствительного элемента определяется областью применения прибора. Приборы для измерения напряжения, давления, температуры и др. имеют разные виды чувствительных элементов.