Математические модели микро и макроуровня. Иерархия математических моделей и формы их представления. Модели тепловых, гидравлических, деформационных, импульсных процессов, процессов осаждения. Динамические  модели  сложных объектов; имитационное моделирование. Понятие об оптимизации, объект  оптимизации, критерии оптимальности, виды задач оптимизации  технологических  процессов. Аналитические методы оптимизации: линейное и нелинейное программирование.

Раздел 6 Технологическое оборудование, механизация и автоматизация в производстве, обработке и переработке материалов и нанесения покрытий. Проектирование цехов

Принципы  механизации  и автоматизации процессов производства полуфабрикатов и изделий из материалов и нанесения покрытий. Датчики и следящие системы, микропроцессорная техника в производстве материалов, полуфабрикатов, покрытий и изделий. Автоматизированные системы и комплексы. Принципы и методы автоматизации в производстве, обработке и переработке материалов и нанесения покрытий. Предпроектные документы. Проектное задание: содержание, оформление. Типы проектов. Нормативные документы в строительстве, термины и определения. Строительный генеральный план (составляющие части).

Раздел 7 Методы исследования материалов

Основные методы определения концентрации и подвижности носителей заряда. Основные методы определения параметров зонной энергетической структуры материалов. Особенности её изучения в микро - и нанообъектах. Дисперсия проводящей среды и бесконтактные методы определения свойств полупроводниковых материалов и структур. Основные методы определения температуры структур в ходе их образования.

Раздел 8 Методы диагностики микро - и наносистем

НЕ нашли? Не то? Что вы ищете?
Методы  и средства определения топологических параметров. Сканирующая зондовая атомно-силовая микроскопия. Основные артефакты и пути их исключения. Методы и средства определения состава наноструктур на основе Оже-электронной  спектроскопии. Методы и средства определения состава наноструктур на основе  вторичной ионной масс-спектроскопии Многопараметровое определение свойств нанослоёв на основе спектральной эллипсометрии. Многопараметровое определение свойств наноструктур на основе растровой электронной микроскопии

Раздел 9 Электротехника и электроника (включая твердотельную электронику)

Электрическая цепь, ее элементы,  интегральные характеристики процессов. Емкость, индуктивность, сопротивление. Активные и пассивные элементы электрических цепей. Источники ЭДС и источники тока. Структура и топологические характеристики цепей (граф, ветвь, узел, контур, дерево,  сечение). Законы Кирхгофа, правила знаков при составлении уравнений. Метод узловых потенциалов. Метод контурных токов. Резонанс. Условия резонанса, пример – последовательная RLC-цепь при гармоническом воздействии. Фаза, многофазные цепи и системы. Трехфазный источник синусоидальной эдс. Соединение обмоток генератора и потребителей «звездой», фазовые и линейные напряжения и токи. Источники асимметрии в трехфазной цепи. Соединение обмоток генератора и потребителей  «треугольником», фазовые и линейные напряжения и токи. Этапы развития электроники. Четыре поколения электронных устройств: электровакуумные приборы, дискретные полупроводниковые приборы, интегральные схемы. Полупроводниковые диоды: основные параметры и характеристики. Классификация электронных устройств: аналоговые, дискретные (импульсные, релейные, цифровые), комбинированные (аналого-цифровые и цифро-аналоговые преобразователи). Понятие, основные параметры и характеристики, классификация усилительных устройств. Принципы построения цифровых вычислительных устройств. Микропроцессорные БИС/СБИС и их применение в микропроцессорных системах. Микропроцессорные комплекты БИС/СБИС.

Раздел 10 Метрологическое и инструментальное обеспечение измерений. Сертификация и маркетинг новых материалов

Роль метрологии в повышении качества продукции. Теоретические и нормативно-право­вые основы обеспече­ния единства изме­рений. Классификация и характеристики измерений. Классификация и метрологические характеристики средства измерений. Классификация и способы исключения погрешностей измерений. Метрологическое обеспечение, его организационные, научные и методические основы. Метрологический контроль и над­зор, поверка средств измерений. Стадии измерительного эксперимента и применяемые способы исключения погрешно­стей. Алгоритмы обработки результатов многократных измере­ний (прямых и косвенных). Измеряемая величина. Процесс измерения. Датчик. Характеристика преобразования датчика. Чувствительность датчика. Активные и пассивные датчики. Основные физические явления, используемые в датчиках внешних воздействий. Основные принципы, используемые в пассивных датчиках. Наиболее часто использующиеся схемы включения пассивных датчиков. Основные понятия сертификации; сертификация качества и сертификация соответствия; отечественная и международная системы сертификации, их организация. Сертификация продукции, оборудования, производственных процессов и технологической документации. Обеспечение качества на этапах проектирования и производства: роль этих этапов в  обеспечении качества продукции, результаты, аспекты, управление.
Рекомендуемая литература к разделам программы:

Литература к разделу 1:

а) основная литература:

  Материаловедение. Технология конструкционных материалов : учеб. пособие / под ред. . - 5-е изд., стер. - М. : Омега-Л, 2009. - 751 с. Колесов и технология конструкционных материалов [Текст] : учеб. для вузов / , . - 2-е изд., перераб. и доп. - М. : Высш. шк., 2008. - 534 с. Общая минералогия [Текст] : учебник / , , . -4-е изд., доп. и перераб. - М. : Академия, 2008. - 410, [6] с. : ил. - (Высшее профессиональное образование. Естественные науки). - Библиогр.: с. 402-403. - Предм. указ.: с. 404-407с. Квантовая химия. Молекулы, молекулярные системы и твердые тела [Текст] : учеб. пособие для вузов / . - М. : БИНОМ. Лаб. знаний, 2010. - 495, [1] с. : граф., табл. - (Учебник для высшей школы). - [Квантовая химия. Молекулы, молекулярные системы и твёрдые тела] . - Библиогр. в конце глав. - Библиогр.: с.485-487. - Предм. указ.: с. 488-495. Синхротронное излучение. Методы исследования структуры веществ [Текст] : учеб. пособие/ ; под ред. . - М. : ФИЗМАТЛИТ, 2007. - 671, [1] с. : рис. - (Фундаментальная и прикладная физика). - Библиогр.: с. 636-663. - Предм. указ.: с. 664-671.

б) дополнительная литература:


Биомедицинское материаловедение : учеб. пособие для вузов / [и др.] . - М. : Горячая линия - Телеком, 2006. - 383 с. Нанотехнологии. Наноматериалы. Наносистемная техника. Мировые достижения -  2008 год : сборник / под ред. . - М. : Техносфера, 2008. - 430 с. Пантелеев, микроскопия / , , . - М.: Техносфера, 2005. - 303 с. чарование нанотехнологии (Fascination Nanotechnologie) / У. Хартманн ; пер. с нем. ; под ред. . - М. : БИНОМ. Лаб. знаний, 2008. - 173 с. (мл.). Нанотехнологии : учеб. пособие / , Ф. Дж. Оуэнс ; пер. с англ. под ред. . - 3-е изд., доп. - М. : Техносфера, 2007. - 375 с. Старостин и методы нанотехнологии : учеб. пособие / ; под общ. ред. . - М.: БИНОМ. Лаб. знаний, 2008. - 431 с. Уорден, К. Новые интеллектуальные материалы и конструкции. Свойства и применение / К. Уорден ; пер. с англ. под ред. . - М.: Техносфера, 2006. - 223 с. Дугин магнитные материалы: учеб. пособие по курсу "Материаловедение" для студентов машиностроит. и приборостроит. специальностей / , , . - Саратов: Приволж. кн. изд-во, 2003. – 74 с. Хрусталев исследование веществ, материалов и изделий : курс лекций : учеб. пособие / , . - Саратов: Сарат. юрид. ин-т МВД России [изд.], 2005. - 491 с. Методы оптимального проектирования и расчета композиционных конструкций : в 2 т. - М. : ФИЗМАТЛИТ, 2008. - Т. 1 : Оптимальное проектирование конструкций из композиционных и традиционных материалов / , , . - М.: ФИЗМАТЛИТ, 2008. - 250 с. Наноматериалы, нанотехнологии и области их применения : рек. список науч. и науч.-попул. лит. за 2000-2006 гг. / Сарат. гос. ун-т им. , Зон. науч. б-ка им. ; сост.: , ; науч. ред. . - Саратов : [б. и.], 2008. - 39 с. Физико-химическая эволюция твердого вещества [Текст] / . - М. : БИНОМ. Лаб. знаний, 2010. - 309, [3] с. : ил. - (Нанотехнология). - [Физико-химическая эволюция твёрдого вещества]. - Библиогр. в конце глав. Физическая химия твердого тела: Кристаллы с дефектами [Текст] : учеб. для хим.-технол. спец. вузов по спец."Хим. технология материалов и изделий электрон. техники" / . - М. : Высш. шк., 1993. - 352 с. : ил. Введение в кристаллофизику [Текст] : учеб. пособие / . - Саратов : Изд-во Сарат. ун-та, 1993. - 90 с. : ил. - Библиогр. Свойства материалов. Анизотропия, симметрия, структура [Текст] = Properties of Materials. Anisotropy, Symmetry, Structure / ; пер. с англ. . - М. ; Ижевск : Ин-т компьютер. исслед. [изд.] : НИЦ "Регуляр. и хаот. динамика", 2007. - 651, [1] с. : рис., табл. - Библиогр.: с. 637-643 (107 назв.). - Предм. указ.: с. 644-651. Выращивание кристалловолокон из расплава [Текст] = Fiber Crystal Growth from the Melt / под ред. Ц. Фукуды, П. Рудольфа, С. Уды ; пер. с англ. под ред. . - М. : ФИЗМАТЛИТ, 2009. - 367, [1] с. : рис. - Библиогр. в конце глав.   Сейсмотектонические эффекты твердофазных превращений в геоматериалах [Текст] / , , ; Геофиз. центр РАН, Рос. фонд фундам. исслед. - М. : Геос, 2009. - 198, [2] с. : рис., табл. - [Сейсмотектонические эффекты твёрдофазных превращений в геоматериалах] . - Библиогр.: с. 175-193. Генетическая минералогия и стадиальный анализ процессов осадочного породо - и рудообразования [Текст] : учеб. пособие / . - М. : ЭСЛАН, 2008. - 356 с. : рис., табл. - Библиогр.: с. 334-352.

Литература к разделу 2:

Из за большого объема этот материал размещен на нескольких страницах:
1 2 3 4 5 6