Введение в физику поверхности [Текст] = Surface Science an Introduction / К. Оура [и др.] ; отв. ред. ; Рос. акад. наук, Дальневост. отд-ние, Ин-т автоматики и процессов упр. - М. : Наука, 2006. - 490, [6] с. : рис., табл. - Библиогр. в конце ст. - Библиогр.: с. 464-481. - Предм. указ.: с. 482-490. Основы сканирующей зондовой микроскопии [Текст] : учеб. пособие для студентов ст. курсов вузов / В. Миронов ; Рос. акад. наук, Ин-т физики микроструктур г. Нижний Новгород. - М. : Техносфера, 2004. - 143, [1] с. : цв. ил. - (Мир физики и техники). - Библиогр.: с. 140-143 (53 назв.). Материалы V Российско-Японского семинара "Оборудование, технологии и аналитические системы для материаловедения, микро - и наноэлектроники ". МИСиС - Interactive Corp. - СГУ, 18-19 июня 2007 года [Текст] / "Оборудование, технологии и аналитические системы для материаловедения, микро - наноэлектроники", рос.-япон. семинар (5 ; 2007 ; Саратов) ; Федер. агентство по образованию, Моск. гос. ин-т стали и сплавов (Технол. ун-т), Сарат. гос. ун-т им. ; под ред. . - М. : Изд-во МИСиС, 2007. - Т. 1. - М. : Изд-во МИСиС, 2007. - [22], 665, [1] с. : рис., табл. - Библиогр. в конце ст. - Авт. указ.: с. 661-665. Методы измерения параметров полупроводниковых материалов [Текст] : учеб. для студентов вузов / Лев Павлович Павлов. - 2-е изд., перераб. и доп. - М. : Высш. шк., 1987. - 238, [2] с. Приборы и методы измерения электрических величин [Текст] : учеб. пособие для втузов / . - 3-е изд., доп. и перераб. - М. : Дрофа, 2005. - 415, [1] с. : рис. - (Высшее образование). - Библиогр.: с. 409-410. Синхротронное излучение. Методы исследования структуры веществ [Текст] : учеб. пособие / ; под ред. . - М. : ФИЗМАТЛИТ, 2007. - 671, [1] с. : рис. - (Фундаментальная и прикладная физика). - Библиогр.: с. 636-663. Микроскопические методы исследования материалов [Текст] / , ; пер. с англ. ; Ин-т синтет. полимер. материалов им. РАН. - М. : Техносфера, 2007. - 371, [5] с. - (Мир материалов и технологий). - Библиогр. в конце разд. Основы сканирующей зондовой микроскопии [Текст] : учеб. пособие для студентов ст. курсов вузов / В. Миронов ; Рос. акад. наук, Ин-т физики микроструктур г. Нижний Новгород. - М. : Техносфера, 2004. - 143, [1] с. : цв. ил. - (Мир физики и техники). - Библиогр.: с. 140-143 (53 назв.). Биленко диэлектрическая проницаемость. Плазменный резонанс свободных носителей заряда в полупроводниках [Текст] / . - Саратов : Изд-во Сарат. ун-та, 1999. - 44 с. Бонч-Бруевич полупроводников [Текст] : учеб. пособие / -Бруевич, . - М. : Наука. Гл. ред. физ.-мат. лит., 1977. - 672 с.

в) программное обеспечение и Интернет-ресурсы:

НЕ нашли? Не то? Что вы ищете?
Atomic Force Microscopy, Scanning Nearfield Optical Microscopy and Nanoscratching. Application to Rough and Natural Surfaces [Electronic resource] / G. Kaupp. - Электрон. текстовые дан. - Berlin ; Heidelberg : Springer, 2006. - 1 эл. опт. диск (CD-ROM). - (NanoScience and Technology) (Springer eBook Collection). Статьи в отечественной и зарубежной печати по рекомендации преподавателя solid. sgu. ru/rus/MicroWaveNicroNano2007.TIF Электронное учебное пособие Усанов д. А., , Вениг параметров полупроводников, микро - и наноструктур на СВЧ. www. sgu. ru/node/44715 Электронное учебное пособие , Яфаров поверхности материалов методом сканирующей туннельной микроскопии. www. sgu. ru/node/45450 - Электронное учебное пособие Биленко диагностика микро - и наносистем. solid. sgu. ru/rus/Interferometria. pdf Электронное учебное пособие , Ал. В. Скрипаль, Ан. В. Скрипаль, Оптические методы измерения нанометровых металлических слоёв. Многопараметровая диагностика микро - и наноструктур , , Терин об отраслевой регистрации . Номер гос. регистрации 50200801139. Дата регистрации 02 июня 2008г. - Саратов, 2008. - 173 с.

Литература к разделу 9:

а) основная литература:

Пасынков приборы [Текст] : учеб. для вузов / , . - 7-е изд. испр. - СПб. ; М. ; Краснодар : Лань, 2003. - 478, [2] с. : ил. Зегря физики полупроводников [Текст] : учеб. пособие / , . - М. : ФИЗМАТЛИТ, 2009. - 335, [1] с. - Библиогр.: с. 327-328 (43 назв.). Михайлов основы твердотельной электроники [Текст] : учеб. пособие для студентов фак. нано - и биомед. технологий / , ; Сарат. гос. ун-т им. . - Саратов : Изд-во Сарат. ун-та, 2007. - 161, [3] с. : рис., табл. - Библиогр. в конце ст.

б) дополнительная литература:

Пасынков приборы : учебник для вузов / , . - 7-е изд., испр. – СПб. : Лань, 2003. – 480 с. Лебедев полупроводниковых приборов / . – М. : ФИЗМАТЛИТ, 2008. – 488 с. Старосельский полупроводниковых приборов микроэлектроники: учеб. пособие / . – М.: Высшее образование, 2009. – 463 с. Гуртов электроника : учеб. пособие / . – 2-е изд., доп. – М : Техносфера, 2005. – 408 с. 8. Степаненко микроэлектроники : учеб. пособие для вузов / . – 2-е изд., перераб. и доп. – М.: Лаборатория Базовых знаний, 2004. – 488 с. птоэлектроника / Э. Розеншер, Б Винтер. – М. : Техносфера, 2006. – 592 с. Тугов приборы : учебник для вузов / Н. М., , ; под ред. . – М. : Энергоатомиздат, 1990. – 576 с. Бонч-Бруевич полупроводников / -Бруевич, . – М. : Наука, 1977. – 672 с. Зегря физики полупроводников / , . – М.: ФИЗМАТЛИТ, 2009. – 336 с. Родерик металл - полупроводник. – М.: Радио и связь, 1982. – 209 с. Шухостанов -пролетные диоды. Физика, технология, применение / . – М. : Радио и связь, 1997. – 208 с.

12.        Михайлов практикум по физике полупроводниковых приборов: учеб. пособие. В 2-х частях. Ч. 1 / , , . – Саратов : Изд-во ГосУНЦ «Колледж», 2002. – 72 с.

Литература к разделу 10:

а) основная литература:

Агарков качеством [Текст] : учеб. пособие / . - М. : Дашков и К°, 2007. – 217 с. Сергеев , стандартизация и сертификация [Текст] : учебник для вузов / , . – М. : Юрайт : ИД Юрайт, 2010. – 820 с.

б) дополнительная литература:

Сергеев, . Стандартизация. Сертификация [Текст] : учеб. пособие для студентов вузов, обучающихся по направлению "Метрология, стандартизация и сертификация" и специальности "Метрология и метрологическое обеспечение" / , , . - 2-е изд., перераб. и доп.. – М. : Логос, 2005. – 558 с. Вешнева, управления качеством и его программное обеспечение [Текст] : учеб.-метод. пособие для студентов ИДПО, обучающихся по специальности 061100 "Менеджмент организации" / . – Саратов: Изд-во Сарат. ун-та, 2007. – 75 с. Гончаров, , стандартизация и сертификация [Текст] : учеб. пособие для студентов вузов, обучающихся по направлению подготовки бакалавров и магистров "Строительство" / , . – М. : Академия, 2004. – 239 с. Конти, Т. Качество: упущенная возможность? [Текст] = Qualitatа: un' occosione perduta? : кн., заставляющая задуматься предпринимателей, менеджеров и служащих, стремящихся к успеху в бизнесе / Т. Конти ; пер. с итал. . – М. : Стандарты и качество [изд.], 2007. – 213 с. Крылова, стандартизации, сертификации, метрологии [Текст] = Standardization, Certification, Metrology Essentials : учеб. для студентов вузов / . - 2-е изд., перераб. и доп.. – М. : ЮНИТИ-ДАНА, 2000. – 711 с. Лифиц, , метрология и подтверждение соответствия [Текст] : учебник / . - 9-е изд., перераб. и доп.. – М. : Юрайт : Высш. образование, 2009. – 315 с. Протасов, : Термины и понятия. Стандарты, сертификация. Нормативы и показатели [Текст] : учеб. и справ. пособие / , . – М. : Финансы и статистика, 2001. – 204 с. Радкевич, , стандартизация и сертификация [Текст] : учебник / , , . - 3-е изд., доп. и перераб.. – М. : Высш. шк., 2007. – 790 с. Сертификация продукции и услуг: Термины, понятия, правила и процедуры, принятые в международной практике, нормативно-технические документы [Текст] : информ.-аналит. сб. - М. : [б. и.], 1992. – 184 с. Шадрин, качества. От основ к практике [Текст] / . – М. : Трек, 2006. – 359 с. Завальнюк, концепция управления качеством (физико-математические аспекты) [Текст] : научное издание / Петр Акимович Завальнюк. - Тверь : [б. и.]. Ч. 2 : Термодинамика надежности и продолжительности жизни. - 1993. - 162 с. Завальнюк, концепция управления качеством (физико-математические аспекты) [Текст] : научное издание / Петр Акимович Завальнюк. - Тверь : [б. и.]. Ч. 3 : Термодинамика надежности и продолжительности жизни. - 1993. - С. 163-320. Пять важнейших вопросов о вашей организации [Текст] / [и др.] ; пер. . - М. : Юрайт, 2009. - 121, [7] с. : ил.

в) электронные ресурсы:

1.                Федеральный закон от 01.01.2001 N 184-ФЗ "О ТЕХНИЧЕСКОМ РЕГУЛИРОВАНИИ" (принят ГД ФС РФ 15.12.2002) Интернет ресурс:

http://document. kremlin. ru/zip/015/015518.zip (последнее обращение 11.02.2011)

Поправки к закону.

2.        Федеральный закон от 01.01.2001 N 65-ФЗ "О ВНЕСЕНИИ ИЗМЕНЕНИЙ В ФЕДЕРАЛЬНЫЙ ЗАКОН "О ТЕХНИЧЕСКОМ РЕГУЛИРОВАНИИ" (принят ГД ФС РФ 06.04.2007) Интернет ресурс:

http://document. kremlin. ru/zip/039/039285.zip (последнее обращение 11.02.2011)

Федеральный закон от 01.01.2001 N 189-ФЗ "О ВНЕСЕНИИ ИЗМЕНЕНИЙ В ФЕДЕРАЛЬНЫЙ ЗАКОН "О ТЕХНИЧЕСКОМ РЕГУЛИРОВАНИИ" (принят ГД ФС РФ 03.07.2009) Интернет ресурс:

http://document. kremlin. ru/zip/053/053615.zip (последнее обращение 11.02.2011)

Федеральный закон от 01.01.2001 N 385-ФЗ "О ВНЕСЕНИИ ИЗМЕНЕНИЙ В ФЕДЕРАЛЬНЫЙ ЗАКОН "О ТЕХНИЧЕСКОМ РЕГУЛИРОВАНИИ" (принят ГД ФС РФ 23.12.2009). Интернет ресурс:

http://document. kremlin. ru/zip/056/056606.zip (последнее обращение 11.02.2011)

Государственный стандарт РФ ГОСТ Р 40.001-95 "Правила по проведению сертификации систем качества в Российской Федерации" (принят постановлением Госстандарта РФ от 01.01.01 г. N 45) Интернет ресурс:
http://best-stroy. ru/gost/r103/1766/ (последнее обращение 11.02.2011) Государственный стандарт РФ ГОСТ Р 40.002-2000 "Система сертификации ГОС систем качества. Основные положения" (принят постановлением Госстандарта РФ от 01.01.01 г. N 107-ст). Интернет ресурс:  http://best-stroy. ru/gost/r103/1767/ (последнее обращение 11.02.2011) ГОСТ Р 40.005-2000 "Система сертификации ГОС систем качества Инспекционный контроль сертифицированных систем качества и производств" (принят и введен в действие постановлением Госстандарта РФ от 01.01.01 г. N 109-ст). Интернет ресурс: http://best-stroy. ru/gost/r103/1768/ (последнее обращение 11.02.2011)

Из за большого объема этот материал размещен на нескольких страницах:
1 2 3 4 5 6