уметь: решать задачи обработки данных с помощью современных инструментальных средств конечного пользователя.
владеть: современными информационными и информационно-коммуникационными технологиями и инструментальными средствами для решения общенаучных задач в своей профессиональной деятельности и для организации своего труда (офисное ПО, математические пакеты, WWW).
Виды учебной работы: лекции, практические занятия, лабораторные работы (компьютерный практикум), курсовая работа.
Изучение дисциплины заканчивается экзаменом.
Аннотация дисциплины «Инженерная графика»
Цели и задачи дисциплины: дать общую геометрическую и графическую подготовку, формирующую способность правильно воспринимать, перерабатывать и воспроизводить графическую информацию.
Основные дидактические единицы (разделы):
Основы начертательной геометрии, конструкторская документация, изображения и обозначения элементов деталей, твердотельное моделирование деталей и сборочных единиц, рабочие чертежи деталей, сборочный чертеж и спецификация изделия.
В результате изучения дисциплины студент должен
знать: элементы начертательной геометрии и инженерной графики, геометрическое моделирование;
уметь: выполнять и редактировать чертежи;
владеть: средствами подготовки конструкторско-технологической документации.
Виды учебной работы: практические занятия.
Изучение дисциплины заканчивается зачетом.
Аннотация дисциплины «Компьютерная графика»
Цели и задачи дисциплины: изучение методов решения инженерно-геометрических задач в системах автоматизированного проектирования.
Основные дидактические единицы (разделы):
Основы компьютерной графики. Интерактивные системы, классификация, назначение, примеры и эффективность их использования. Российские международные стандарты по оформлению электронной документации на схемы и устройства. Метод проекций как основа построения чертежа. Ортогональные и аксонометрические проекции. Формирование электронных типовых 2D и 3D геометрических моделей объектов. Понятие алгоритма функционирования. Российские и международные стандарты по начертанию схем алгоритмов. Операнды (объекты информации) и операции. Внешнее и внутреннее представление объектов информации. Точность и способы кодирования объектов информации. Структуры данных в 2D и 3D системах компьютерной графики и автоматизированного проектирования. Устройства ввода-вывода в системах компьютерной графики и автоматизированного проектирования. Классификация. Понятие жизненного цикла (ЖЦ) промышленного продукта. Этапы жизненного цикла. CALS-технологии. Международные стандарты в CALS-технологиях. Электронная обобщённая модель промышленного продукта. Состав и формирование обобщённой модели. Электронные модели на отдельных этапах жизненного цикла. Схемы электрические (структурные, функциональные, принципиальные, монтажные): правила выполнения и графического оформления, формирование электронных моделей схем. Структурный анализ и синтез систем. SADT – технологии.
В результате изучения дисциплины студент должен
знать: способы моделирования типовых геометрических 2D и 3D объектов в электронном виде; методы решения инженерно-геометрических задач в системах автоматизированного проектирования; правила выполнения чертежей деталей, сборочных единиц, электрических схем (структурных, функциональных, принципиальных, монтажных) с учётом современных мировых стандартов;
уметь: читать и выполнять чертежи; применять Государственные стандарты ЕСКД, необходимые для разработки и оформления конструкторско-технологической документации; использовать полученные знания и навыки при создании электронных моделей схем и устройств на персональном компьютере; осуществлять схемотехническое проектирование разрабатываемых радиоприемных узлов и устройств;
владеть: навыками самостоятельной работы на компьютере и в компьютерных сетях; быть способным к компьютерному моделированию устройств, систем и процессов с использованием универсальных пакетов прикладных компьютерных программ.
Виды учебной работы: лабораторные работы.
Изучение дисциплины заканчивается зачетом.
Аннотация дисциплины «Теоретические основы электротехники »
Цели и задачи дисциплины: обеспечение студентов базовыми знаниями современной теории электрических цепей и электромагнитного поля, освоение основных понятий и физических процессов, происходящих в электрических цепях, аналитических методов расчетов установившихся и переходных режимов, изучение методов анализа нелинейных цепей.
Основные дидактические единицы (разделы): основные понятия и законы теоретической электротехники. Расчет переходных процессов во временной области. Расчет установившегося синусоидального режима и частотных характеристик трехфазных, индуктивно-связанных цепей. Операторный и спектральный методы расчета.
В результате изучения дисциплины студент должен
знать: фундаментальные законы, понятия и положения основ теории электрических цепей и электромагнитного поля, важнейшие свойства и характеристики цепей и поля, основы расчета переходных процессов, частотных характеристик, периодических режимов, спектров, индуктивно-связанных и трехфазных цепей, методы численного анализа;
уметь: рассчитывать линейные пассивные, активные цепи различными методами и определять основные характеристики процессов при стандартных и произвольных воздействиях;
владеть: методами анализа цепей постоянных и переменных токов во временной и частотной областях.
Виды учебной работы: лекции, практические занятия, лабораторные работы, курсовая работа.
Изучение дисциплины заканчивается экзаменом.
Аннотация дисциплины «Метрология, стандартизация и технические измерения»
Цели и задачи дисциплины
Целью дисциплины является обучение студентов основам метрологического обеспечения современной науки и техники и основным понятиям в области стандартизации.
Основной задачей дисциплины является обучение студентов современным средствам и методам технических измерений.
Основные дидактические единицы (разделы):
Основные понятия и определения современной метрологии. Погрешности измерений. Обработка результатов измерений. Средства измерений. Меры, измерительные приборы, измерительные преобразователи, измерительные информационные системы. Методы измерений физических величин. Измерение электрических, магнитных и неэлектрических величин. Цели и задачи стандартизации.
В результате изучения дисциплины студент должен
знать: терминологию, основные понятия и определения; основы теории погрешностей измерений; методы обработки результатов измерений; способы нормирования и формы задания метрологических характеристик средств измерений; основные нормативные и законодательные акты в области метрологии; цели и методы сертификации; принципы, методы измерений радиотехнических величин и структурные схемы радиоизмерительных приборов; принципы построения и структуру автоматизированных средств измерений и контроля;
уметь: правильно выбирать и применять средства измерений, организовывать измерительный эксперимент, обрабатывать и представлять результаты измерений в соответствии с принципами метрологии и действующими нормативными документами;
владеть: методами и средствами измерения параметров и характеристик цепей, сигналов при разработке, производстве и эксплуатации радиотехнических средств; навыками обработки результатов измерений, оценки погрешности измерений; навыками самостоятельного пользования стандартами Государственной системы обеспечения единства измерений и другими обязательными к применению нормативно-техническими документами.
Виды учебной работы: лекции, лабораторные работы.
Изучение дисциплины заканчивается зачетом.
Аннотация дисциплины «Безопасность жизнедеятельности»
Цели и задачи дисциплины
Цель дисциплины - формирование профессиональной культуры безопасности, под которой понимается готовность и способность личности использовать в профессиональной деятельности приобретенную совокупность знаний, умений и навыков для обеспечения безопасности в сфере профессиональной деятельности, характера мышления и ценностных ориентаций, при которых вопросы безопасности рассматриваются в качестве приоритета.
Задача дисциплины – ознакомление студентов с основными принципами обеспечения безопасности жизнедеятельности.
Основные дидактические единицы (разделы):
Введение в безопасность. Основные понятия и определения. Человек и техносфера. Идентификация и воздействие на человека вредных и опасных факторов среды обитания. Защита человека и среды обитания от вредных и опасных факторов природного, антропогенного и техногенного происхождения. Обеспечение комфортных условий для жизни и деятельности человека. Психофизиологические и эргономические основы безопасности. Чрезвычайные ситуации и методы защиты в условиях их реализации. Управление безопасностью жизнедеятельности.
В результате изучения дисциплины студент должен
знать: критерии, отечественные и международные стандарты в области безопасности жизнедеятельности;
уметь: оценивать последствия воздействия негативных техногенных факторов на человека и окружающую среду;
владеть: законодательными и правовыми основами в области безопасности, требованиями безопасности технических регламентов в сфере профессиональной деятельности; способами и технологиями защиты в чрезвычайных ситуациях; понятийно-терминологическим аппаратом в области безопасности; навыками рационализации профессиональной деятельности с целью обеспечения безопасности и защиты окружающей среды.
Виды учебной работы: лекции, практические занятия.
Изучение дисциплины заканчивается зачетом.
Аннотация дисциплины «Материалы электронной техники»
Цели и задачи дисциплины: изучение основ строения материалов и физики происходящих в них явлений, технологии материалов электронной и микроэлектронной техники, материалов наноэлектроники. Формирование навыков экспериментальных исследований свойств материалов электронной и микроэлектронной техники, материалов наноэлектроники.
Основные дидактические единицы (разделы):
Проводники. Физическая природа электропроводности металлов. Температурная зависимость удельного сопротивления металлов. Сверхпроводимость и ее применение в науке и технике. Влияние структурных дефектов на удельное сопротивление металлов. Электропроводность металлов в тонких слоях. Контактная разность потенциалов, термо-ЭДС и термопары. Металлы высокой проводимости. Материалы высокотемпературной сверхпроводимости. Металлы с повышенным удельным сопротивлением.
Полупроводники. Собственные и примесные полупроводники, их энергетические диаграммы. Температурная зависимость проводимости полупроводников. Рекомбинация неравновесных носителей заряда в полупроводниках. Эффект Холла в полупроводниках. Электропроводность полупроводников в сильном электрическом поле. Методы очистки и выращивания полупроводниковых кристаллов. Основные свойства Германия и кремния, особенности технологии и область применения. Полупроводниковые химические соединения.
Диэлектрики. Поляризация, виды поляризации диэлектриков. Электропроводность диэлектриков. Диэлектрические потери. Пробой диэлектриков. Пассивные диэлектрики. Конденсаторные и изоляционные материалы. Активные диэлектрики. Основные методы исследования диэлектриков и определения их параметров.
Магнитные материалы. Классификация веществ по отношению к магнитному полю. Физическая природа ферромагнетизма. Намагничивание ферромагнетика. Потери энергии в ферромагнетиках. Магнитотвердые и магнитомягкие материалы. Ферриты. Материалы для магнитной записи информации.
В результате изучения дисциплины студент должен
знать: основные свойства проводниковых, полупроводниковых, диэлектрических и магнитных материалов электронной техники;
уметь: выбрать материалы для использования в аппаратуре электронной и микроэлектронной техники с учетом их характеристики, влияния на свойства внешних факторов;
владеть: информацией о технологии материалов электронной и микроэлектронной техники, материалов наноэлектроники.
Виды учебной работы: лекции, практические занятия, лабораторные работы.
Изучение дисциплины заканчивается экзаменом.
Аннотация дисциплины «Физика конденсированного состояния»
Цели и задачи дисциплины
Цель изучения дисциплины - формирование научной основы для осознанного и целенаправленного использования свойств твердых тел, в первую очередь – полупроводников, при создании элементов, приборов и устройств микро и наноэлектроники.
Задачами курса служат расширение научного кругозора и эрудиции студентов на базе изучения фундаментальных результатов физики твердого тела и способов практического использования свойств твердых тел, развитие понимания взаимосвязи структуры и состава твердых тел, и многообразия их физических свойств, практическое овладение методами теоретического описания и основными теоретическими моделями твердого тела, навыками постановки физического эксперимента по изучению свойств твердых тел и основными экспериментальными методиками, создание основы для последующего изучения вопросов физики полупроводниковых приборов, включая элементы и приборы наноэлектроники, физики низкоразмерных систем, твердотельной электроники и технологии микро - и наноэлектроники.
Основные дидактические единицы (разделы):
Типы конденсированных сред, симметрия и структура кристаллов. Основы зонной теории. Свободный электронный газ в полупроводниках и металлах. Примеси и примесные состояния в полупроводниках. Статистика равновесных носителей заряда. Неравновесные носители заряда: генерация, рекомбинация, диффузия и дрейф. Поверхность и контактные явления. Сильнолегированные полупроводники и некристаллические твердые тела. Динамика решетки, фононы. Диэлектрики. Магнетики. Сверхпроводники.
В результате изучения дисциплины студент должен
знать: основные приближения зонной теории, свойства блоховского электрона и особенности энергетического спектра электрона в кристалле, понятие эффективной массы, классификацию твердых тел на металлы, полупроводники и диэлектрики с точки зрения зонной теории; особенности зонной структуры основных полупроводников, параметры зонной структуры, определяющие возможность и эффективность использования данного полупроводника для конкретных практических приложений; типы и роль примесей в полупроводниках, методы описания мелких и глубоких примесных состояний, методы расчета положения уровня Ферми в полупроводнике, особенности температурной зависимости концентрации носителей заряда, основные эффекты, проявляющиеся при высоком уровне легирования; физическую природу магнетизма, основные типы магнетиков; свойства и основные типы сверхпроводников, макро - и микроскопические модели сверхпроводимости; основные характеристики и свойства неупорядоченных и аморфных твердых тел и жидких кристаллов; основные экспериментальные методы изучения структуры, электрических и магнитных свойств твердых тел;
уметь: объяснять сущность физических явлений и процессов в твердых телах, производить анализ и делать количественные оценки параметров физических процессов; определить структуру простейших решеток по данным рентгеноструктурного анализа; произвести расчеты кинетических характеристик твердых тел в приближении свободного электронного газа.
владеть: методами описания и механизмы взаимодействия; электрического и электромагнитного поля с решеткой; методами экспериментального определения электропроводности и концентрации носителей заряда в твердом теле, ширины запрещенной зоны, концентрации, подвижности, время жизни, коэффициент диффузии носителей заряда в полупроводнике.
Виды учебной работы: лекции, практические занятия, лабораторные работы.
Изучение дисциплины заканчивается экзаменом.
Аннотация дисциплины «Вакуумная и плазменная электроника»
Цели и задачи дисциплины
Цель дисциплины – знакомство студентов с основными видами приборов вакуумной и плазменной электроники, их характеристиками и режимами работы.
Задачи изучения дисциплины – дать студентам теоретические знания по физическим основам действия электронных и ионных приборов, по их статическим характеристикам и поведению в переходных режимах, способам представления приборов в виде моделей и эквивалентных схем, по нагрузочным и тепловым режимам работы приборов, а также практические навыки экспериментального определения параметров приборов и эксплуатации приборов в схемах.
Основные дидактические единицы (разделы):
Определение понятий: вакуум, ионизованный газ и плазма, газовый разряд. Элементарные процессы при взаимодействии электронов, атомных частиц и ионов. Модели для описания потоков заряженных частиц и плазмы. Основы эмиссионной электроники: термоэлектронная, автоэлектронная, взрывная, вторичная электронная, вторичная ионно-электронная, фотоэлектронная, вторичная ионно-ионная, ионное распыление; эмиссионные свойства плазмы. Первичное формирование потоков заряженных частиц: режимы токопрохождения в диодном промежутке с твердотельным и плазменным эмиттером; влияние плотности эмиссионного тока, эмиссионной способности эмиттера, величины и знака потенциала на экстракторе и давления газа; несамостоятельный разряд, возникновение газового разряда, критерий Таунсенда, кривые Пашена; распределение потенциала в газоразрядном промежутке. Формирование потоков заряженных частиц (ПЗЧ) различной интенсивности: электронные и ионные прожекторы и пушки. Транспортировка потоков заряженных частиц: методы управления поперечным сечением, интенсивностью, вектором и модулем скорости; электростатические, магнитные и плазмооптические системы, динамические способы управления; ускорение ионных потоков в плазме. Методы генерации плазмы, типы и основные характеристики газовых разрядов, общие свойства плазмы. Диагностика потоков заряженных частиц и плазмы. Применение потоков заряженных частиц, плазмы и газовых разрядов в электронике.
В результате изучения дисциплины студент должен
знать: физико-технические основы вакуумной и плазменной электроники; законы эмиссии, способы формирования и транспортировки потоков заряженных частиц в другие виды;
уметь: применять полученные знания при теоретическом анализе, компьютерном моделировании и экспериментальном исследовании физических процессов, лежащих в основе принципов работы приборов и устройств вакуумной и плазменной электроники;
владеть: информацией об областях применения и перспективах развития приборов и устройств вакуумной и плазменной электроники.
Виды учебной работы: лекции, практические занятия, лабораторные работы, курсовая работа.
Изучение дисциплины заканчивается экзаменом.
Аннотация дисциплины «Твердотельная и микроволновая электроника»
Цели и задачи дисциплины: изучение физических явлений, процессов и законов, лежащих в основе принципов работы различных твердотельных приборах дискретного и интегрального исполнения, формирование навыков экспериментальных исследований и техники измерений характеристик и параметров твердотельных полупроводниковых приборов.
В дисциплине излагаются теоретические и физико-технические основы микроволновой электроники, определяющие принципы действия микроволновых твердотельных приборов, их параметры, характеристики и области применения.
Основные дидактические единицы (разделы):
Основные понятия зонной теории полупроводников. Статистика электронов и дырок в полупроводниках. Вырожденные и невырожденные полупроводники. Концентрация носителей заряда в собственном и примесном полупроводниках в условиях термодинамического равновесия. Неравновесное состояние полупроводника. Процессы переноса носителей заряда в полупроводниках. Генерация и рекомбинация носителей заряда. Влияние электрического поля на объемную и поверхностную электропроводность полупроводников. Температурные зависимости концентрации, подвижности и удельной электропроводности полупроводников. Возникновение объемных неустойчивостей. Оптические и тепловые свойства полупроводников. Фотоэлектрические и термоэлектрические явления. Электронно-дырочные переходы. Изотипные и анизотипные гетеропереходы. Контакты металл - полупроводник Границы диэлектрик - полупроводник. Полупроводниковые приборы, основанные на использовании электрических свойств электронно-дырочных переходов и контактов металл - полупроводник. Полупроводниковые диоды, биполярные транзисторы и тиристоры. Полевые транзисторы и приборы с зарядовой связью. Разновидности полупроводниковых приборов, принцип действия, основные параметры и характеристики, области применения. Оптоэлектронные полупроводниковые приборы. Термоэлектрические и гальваномагнитные приборы и устройства. Силовые полупроводниковые приборы и приборы для работы при экстремальных температурах. Полупроводниковые приборы микроэлектроники и наноэлектроники. Физические ограничения микроминиатюризации интегральных элементов. Перспективные направления развития наноэлектронных приборов и устройств.
Микроминиатюризация МДП - приборов и физические явления ее ограничивающие; элементы низкоразмерных структур 2D, 1D, 0D; МДП - транзистор с кубитами из квантовых точек, квантовый интерференционный транзистор, полевой транзистор на отраженных электронах, одноэлектронный транзистор, одноэлектронная ловушка, генератор на одноэлектронных транзисторах, логические элементы; приборы на основе резонансного туннелирования электронов; электронные приборы; проблема и ограничения наноприборов.
Индивидуальное и коллективное излучение заряженных частиц; способные и вынужденные излучения, условия их существования; основные механизмы реализации вынужденного излучения – фазировки, группировки сортировка частиц; методы реализации этих механизмов в вакууме и твердом теле.
Основные уравнения микроволновой электроники – уравнения электродинамики и уравнения движения заряженных частиц. Релятивистские эффекты. Полескоростные характеристики движения носителей заряда в полупроводниках. Явления лавинного пробоя р–п–перехода и отрицательной дифференциальной подвижности. Теорема Шокли – Рамо. Время и угол пролета носителей заряда в пространстве взаимодействия. Колебательные и волновые явления в потоках заряженных частиц.
Основные узлы микроволновых электронных приборов; вакуумные микроволновые приборы, их принцип действия и классификация; приборы с квазистатическим управлением – клистроны, лампы бегущей и обратной волны, приборы со скрещенными полями, пирорезонансные приборы; твердотельные микроволновые приборы, детекторные и смесительные диоды, управляющие диоды, варактор, лавинно – пролетные диоды и диоды Ганна; микроволновые биполярные и полевые транзисторы; гитероструктурные диоды и транзисторы, транзисторы с внешней подвижностью электронов, НЕМТ – структуры. Усилители и генераторы микроволн на полупроводниковых приборах. Шумы в микроволновых приборах и устройствах, способы подавления шумов.
Способы повышения рабочей частоты, мощности, КПД и ширины полосы пропускания, уменьшения шумовой температуры; микроволновые твердотельные гибридные и монолитные интегральные схемы. Новые материалы и технологии, многофункциональные устройства; области применения современных микроволновых приборов и устройств.
В результате изучения дисциплины студент должен
знать: основы физики твердого тела, принципы использования физических эффектов в твердом теле, в приборах и устройствах твердотельной электроники; конструкции, параметры, характеристики и методы их моделирования; основные физические процессы, лежащие в основе принципов действия приборов и устройств микроволновой электроники, методы их аналитического описания, факторы, определяющие их параметры и характеристики, конструкции и особенности применения;
уметь: применять методы расчета параметров и характеристик, моделирования и проектирования электронных приборов и устройств твердотельной электроники и наноэлектроники; рассчитывать основные параметры и характеристики микроволновых электронных приборов и устройств, осуществляется оптимальный выбор прибора для конкретного применения;
владеть: методами исследования параметров и характеристики приборов и устройств твердотельной электроники и наноэлектроники, современными программируемыми средствами их редактирования и проектирования, методами проектирования и исследования микроволновых приборов и устройств.
Виды учебной работы: лекции, практические занятия, лабораторные работы.
Изучение дисциплины заканчивается экзаменом.
Аннотация дисциплины «Квантовая и оптическая электроника»
Цели и задачи дисциплины: дать представление о фундаментальных физических процессах, лежащих в основе квантовой и оптической электроники, рассмотреть принцип действия, особенности конструкции, требования к активным материалам и элементам, возможности и технические характеристики приборов и устройств оптической электроники, подготовить будущих специалистов к теоретически грамотному их применению и дальнейшему изучению специальной литературы по отдельным вопросам данной отрасли.
Основные дидактические единицы (разделы):
Особенности оптической электроники. Терминология, основные понятия и определения. Физические основы квантовой и оптической электроники: энергетические состояния квантовых систем; способы описания электромагнитного излучения; квантовые переходы при взаимодействии с электромагнитным излучением, спонтанное и вынужденное излучение, коэффициенты Эйнштейна; оптические характеристики вещества, соотношения Крамерса-Кронига. Усиление и генерация электромагнитного излучения. Принцип работы мазеров и лазеров; инверсия населенностей; двух-, трех - и четырехуровневые схемы работы; методы накачки. Оптические резонаторы, их основные типы и характеристики; собственные типы колебаний – моды, Гауссовы пучки. Условие самовозбуждения мазеров, насыщение усиления, нестационарная генерация, модуляция добротности и синхронизация мод. Элементы нелинейной оптики. Оптические явления в полупроводниках и полупроводниковых гетероструктурах. Приборы СВЧ-диапазона – мазеры: мазер на пучке молекул аммиака, квантовые парамагнитные усилители (КПУ). Приборы оптического диапазона: газовые лазеры, их особенности и характеристики; газоразрядные лазеры на смеси гелия и неона; молекулярные лазеры; газодинамические лазеры; эксимерные лазеры. Твердотельные лазеры, их особенности и характеристики: рубиновый лазер, лазеры на кристаллах и стеклах, активированных неодимом, волоконные усилители и лазеры. Жидкостные лазеры на органических красителях. Полупроводниковые светодиоды и лазеры, их особенности и характеристики. Инжекционная электролюминесценция, условие инверсии в полупроводниках, квазиуровни Ферми. Активные материалы светодиодов и инжекционных лазеров. Гетеросветодиоды и гетеролазеры. Лазеры с раздельным оптическим и электронным ограничением. Лазеры на квантовых ямах и квантовых точках, использующие эффекты размерного квантования в наноструктурах. Приемники оптического излучения, их классификация и технические характеристики. Полупроводниковые фотоприемники: фоторезисторы, фотодиоды, p-i-n-фотодиоды и лавинные фотодиоды, солнечные фотоэлементы. Методы модуляции оптического излучения.
В результате изучения дисциплины студент должен
знать: основные физические процессы, лежащие в основе действия приборов квантовой и оптической электроники, методы их аналитического описания, факторы, определяющие их параметры и характеристики, а также особенности оптических методов передачи и обработки информации;
уметь: применять полученные знания для объяснения принципов работы приборов и устройств оптической и квантовой электроники, а также оптических методов передачи и обработки информации;
владеть: информацией об областях применения и перспективах развития приборов, устройств и методов квантовой и оптической электроники
Виды учебной работы: лекции, лабораторные работы.
Изучение дисциплины заканчивается экзаменом.
Аннотация дисциплины «Наноэлектроника»
Цель изучения дисциплины: формирование научной основы для осознанного и целенаправленного использования полученных знаний при создании элементов, приборов и устройств микроэлектроники и наноэлектроники. Задачами курса служат расширение научного кругозора и эрудиции студентов на базе изучения законов физики низкоразмерных полупроводниковых структур для последующего использования их при создании приборов наноэлектроники, твердотельной электроники и в технологии микро - и наноэлектроники.
Основные дидактические единицы (разделы):
Мезоскопические структуры. Проявление волновых свойств в кинетических явлениях мезоскопических структур. Системы пониженной размерности. Квантование зонного электронного спектра. Метод огибающей волновой функции для описания электронных состояний в гетероструктурах. Физические явления в гетероструктурах. Резонансное туннелирование и туннельно-резонансные диоды. Сверхрешетки и блоховские осцилляции. Квантовый целочисленный и дробный эффекты Холла (дробные заряды и промежуточная статистика) в двумерном электронном газе. Приборные применения гетероструктур. Селективное легирование и полевые транзисторы на высокоподвижных электронах. Гетероструктуры как элементы оптоэлектроники. Лазеры на квантовых ямах и точках. Униполярные лазеры. Квантовые приборы на асимметричной системе квантовых ям. Квантовые компьютеры. Понятие квантового бита. Время декогеренизации. Возможные конструкции квантового бита.
В результате изучения дисциплины студент должен:
знать: физические свойства систем с пониженной размерностью, метод огибающей волновой функции для описания электронных состояний в гетероструктурах; квантовый целочисленный и дробный эффекты Холла; магнитные сверхрешетки и гигантское магнетосопротивление;
уметь: разбираться в магнитном и электростатическом эффектах Бома-Ааронова, выполнять квантование зонного электронного спектра, анализировать сверхрешетки и блоховские осцилляции, разбираться в лазерах на квантовых ямах и точках;
владеть: методами расчета наноэлектронных приборов, методами исследования физических свойств наноструктур, методами теоретического анализа физических процессов наноэлектроники.
Виды учебной работы: лекции, практические занятия, лабораторные работы, курсовой проект.
Изучение дисциплины заканчивается экзаменом.
Аннотация дисциплины «Основы проектирования электронной компонентной базы»
Цели и задачи дисциплины: изучение основ автоматизированного проектирования электронной компонентной базы, современных методов и маршрутов проектирования, средств и способов автоматизации процесса проектирования. Формирование и закрепление навыков проектирования с использованием современных программных языков описания и проектирования электронной компонентной базы.
Основные дидактические единицы (разделы):
Общая характеристика процесса проектирования. Виды и способы проектирования электронной компонентной базы. Автоматизированные интегрированные среды проектирования. Командный интерпретатор. Начальные установки проекта. Высокоуровневые, интерактивные языки программирования.
Маршруты и этапы проектирования. Восходящее и нисходящее проектирование. Методы и этапы проектирования. Модели электронной компонентой базы на различных этапах проектирования. Подключение библиотек Эквивалентные модели нелинейных элементов: интегральных диодов, биполярных и полевых транзисторов. Список параметров моделей.
Средства автоматизированного проектирования. Создание проекта. Основы схемно-графического описания проекта. Иерархическое описание схем. Создание символьного представления. Подсхемы. Сравнение программ схемотехнического моделирования. Методы расчета и моделирования. Многовариантный и параметрический анализ. Описание стандартного технологического маршрута проектирования КМОП. Технологический файл с описанием топологических норм и ограничений проектирования. Основы топологического описания проекта. Проверка топологии на соответствие технологическим и электрическим правилам проекта. Диагностика и исправление ошибок проектирования.
Языки проектирования высокого уровня. Маршрут проектирования с использование библиотеки стандартных элементов; синтаксис языка VERILOG; основные способы описания цифровых схем с помощью языка VERILOG; операторы языка VERILOG. Возможности и запуск программ логического моделирования. Основные правила описания входного языка. Примеры проектирования и моделирования цифровых устройств.
В результате изучения дисциплины студент должен
знать: общую характеристику процесса проектирования, восходящее и нисходящее проектирование, методы и этапы проектирования;
уметь: выбирать и описывать модели электронной компонентой базы на различных этапах проектирования с учетом выбранного маршрута проектирования; работать с техническими и программными средствами реализации процессов проектирования;
владеть: языками описания и проектирования современной электронной компонентной базы.
Виды учебной работы: лекции, практические занятия, лабораторные работы, курсовой проект.
Изучение дисциплины заканчивается экзаменом.
Аннотация дисциплины «Основы технологии электронной компонентной базы»
Цели и задачи дисциплины: получение углубленного профессионального образования по технологии электронной компонентной базы, позволяющего выпускнику обладать предметно-специализированными компетенциями, способствующими востребованности на рынке труда, обеспечивающего возможность быстрого и самостоятельного приобретения новых знаний, необходимых для адаптации и успешной профессиональной деятельности в области микро - и наноэлектроники.
Основные дидактические единицы (разделы):
Этапы развития и современное состояние технологии материалов и приборов макро-, микро - и наноэлектроники Основные процессы технологии электронной компонентной базы. Общие принципы термодинамического управления равновесными и неравновесными процессами. Управление структурными равновесиями и дефектообразованием в кристаллах. Управление фазовыми и химическими равновесиями в технологических процессах электроники. Управление диффузионными и кинетическими и кинетическими явлениями в технологических процессах электроники. Управление свойствами поверхности, межфазными взаимодействиями и формированием нанообъектов. Физико-технологические основы формирования эпитаксиальных слоев, многоуровневой металлизации, легирования и осаждения диэлектрических слоев. Физические основы функционального контроля элементов электронной компонентной базы.
В результате изучения дисциплины студент должен
знать: физико- технологические основы процессов производства изделий электронной компонентной базы, особенности проведения отдельных технологических операций;
уметь: рассчитать физико - технологические условия для проведения отдельных технологических процессов для получения активных и пассивных элементов электронной компонентной базы с требуемыми конструктивными и электрофизическими параметрами;
владеть: методиками контроля и анализа процессов электронной компонентной базы.
Виды учебной работы: лекции, практические занятия, лабораторные работы, курсовой проект.
|
Из за большого объема этот материал размещен на нескольких страницах:
1 2 3 4 5 |
