Программа опережающей профессиональной переподготовки в области метрологического обеспечения измерений размеров в нанодиапазоне (стр. 3 )

– Методика измерений размерных параметров наночастиц / нанотрубок / нанопорошков / ансамблей нанообъектов (выбрать нужное) с помощью растровой электронной микроскопии / просвечивающей электронной микроскопии / атомно-силовой микроскопии / рентгеновской дифрактометрии (выбрать нужное).

– Методика измерений размерных параметров наноструктурированных покрытий с помощью растровой электронной микроскопии / просвечивающей электронной микроскопии / атомно-силовой микроскопии / механической профилометрии / оптической профилометрии / эллипсометрии / рентгеновской дифрактометрии (выбрать нужное).

1.1.4 Механизмы и процедуры обеспечения высокого качества программы

Для обеспечения высокого качества предварительной программы планируется активно использовать процедуры и механизмы, опробованные в ходе реализации международной магистерской программы МИСиС-МФТИ «Нанодиагностика, метрология, стандартизация и сертификация продукции нанотехнологий и наноиндустрии» (по заказу ГК «Роснанотех»), такие как:

– Блочная организация учебного процесса. Лекционные курсы и лабораторный практикум идут не по регулярному расписанию, покрывающему равномерно весь учебный год (с невысокой интенсивностью, например, одна лекция в неделю по определённому курсу), а сгруппированными в интенсивные учебные блоки, продолжительностью 1-2 недели. Слушатели приезжают на занятия на опредёленный блок дисциплин, и в течение 1-2 недель каждый день слушают лекции, делают лабораторные работы и т. д. по учебным курсам данного блока. Учебный блок завершается промежуточной аттестацией успеваемости. Такой подход позволяет, с одной стороны, повысить эффективность восприятия учебного материала за счет компактного по времени рассмотрения этого материала, а с другой стороны, провести учебную программу с частичным отрывом от производства, не вырывая ценного специалиста с предприятия на длительный срок.

– Организация лабораторного практикума путем разбиения пилотной группы на небольшие (3-4 человека) подгруппы. Несмотря на то, что такое разбиение требует многократного повторения одной и той же лабораторной работы для разных подгрупп, качество приобретаемых навыков и уровень освоения материала многократно возрастает, так как каждый слушатель программы получает непосредственный опыт обращения с современным измерительным и технологическим оборудованием, используемым в качестве базы для проведения практических занятий. Кроме того, задействовав оборудование предполагаемых соисполнителей, возможна организация параллельных практических занятий с использованием однотипного оборудования, что сокращает общий срок проведения апробации программы.

– Для подготовки к лабораторному практикуму предполагается как изложение соответствующего теоретического материала в ходе лекций, так и в форме методических пособий, предназначенных для самостоятельного изучения. Перед выполнением каждой лабораторной работы предполагается осуществлять контроль готовности слушателя в тестовой форме. Это повышает и эффективность использования в практикуме дорогостоящего оборудования, и уровень мотивации слушателей в части подготовки к каждой отдельной лабораторной работе.

– Внеаудиторные занятия (тьюторские и индивидуальные занятия) предназначены для упреждающего выявления проблем с освоением учебной программы и своевременной коррекции образовательного маршрута (включая проработку индивидуальных образовательных траекторий).

– В процессе разработки проекта методики выполнения измерений размерных параметров объектов нанотехнологий в качестве формы итогового контроля слушатель будет хорошо мотивирован и сможет в полной мере показать уровень приобретенных компетенций в области его профессиональной деятельности.

1.1.5 Материально-техническое обеспечение программы

Список оборудования МФТИ, предполагающегося к использованию в образовательной программе:

1. Высокоразрешающий растровый электронный микроскоп с автоэмиссионным источником электронов JEOL JSM-7001F.

2. Растровый электронный микроскоп с фокусированным ионным пучком FEI Quanta 3D DualBeam.

3. Просвечивающий электронный микроскоп JEOL JEM-2100.

4. Рентгеновский дифрактометр Thermo ARL X’TRA.

5. Атомно-силовые микроскопы NT-MDT Ntegra Prima и Ntegra Aura.

6. Оптический профилометр Ambios Xi-100 Plus.

7. Механический профилометр Ambios XP200.

8. Эллипсометр SenTech SE 500adv.

Кроме этого для организации параллельных практических занятий планируется привлечь оборудование организации-соисполнителя – Государственного научного метрологического центра -исследовательский центр по изучению свойств поверхности и вакуума»:

1.  Высокоразрешающий растровый электронный микроскоп Hitachi S-4800;

2.  Растровый электронный микроскоп с фокусированным ионным пучком JEOL JIB-4500;

3.  Просвечивающий электронный микроскоп JEOL JEM-2100;

4.  Рентгеновский дифрактометр Bruker D8 DISCOVER;

5.  Атомно-силовой микроскоп NT-MDT Ntegra Prima.

1.1.6 Информация о необходимых элементах академической мобильности преподавателей и слушателей программы

Предполагаемая блочная организация учебного процесса требует мобильности слушателей программы для обеспечения режима частичного (а не полного) отрыва от производства. На время проведения учебного процесса (в течение блока длительностью 1-2 недели) предполагается размещать слушателей в общежитии МФТИ квартирного типа в непосредственной близости от учебных корпусов.

1.1.7 Механизмы внутреннего мониторинга и внешней оценки эффективности образовательной программы

По итогам каждого учебного блока образовательной программы предполагается проводить внутреннюю промежуточную оценку результатов образовательной программы (периодичность раз в месяц), базирующуюся на анализе текущей успеваемости студентов (по результатам промежуточных зачетов, тестовых работ на допуск к практическим занятиям, отчетов о проделанных лабораторных работах). Такой анализ позволит своевременно выявить проблемы с освоением материалов образовательной программы слушателям и позволит предпринять меры по их устранению.

Итоговая оценка эффективности образовательной программы складывается из следующих факторов:

– оценка усвоения материалов образовательной программы, проводимая в форме контроля учебных достижений, указанной в разделе 2.2 (тематический учебный план);

– сбор экспертных оценок изменения уровня компетенции слушателей, предоставляемых работодателями, направившими своих сотрудников на обучение;

– проведение метрологической экспертизы разработанных слушателями для своей предметной области проектов методик размерных параметров объектов нанотехнологий специализированными организациями;

– получение оценки программы со стороны широкого профессионального (академического и производственного) сообщества.

Итоговая оценка эффективности образовательной программы и выработанные профессиональным сообществом рекомендации будут учитываться при выполнении этапа 3 – «Доработка по итогам пилотного обучения образовательной программы профессиональной переподготовки и УМК для размещения в электронном реестре образовательных программ ГК «Роснанотех».

1.2 Тематический план программы

Наименование модулей	Форма обучения: с частичным отрывом от работы
Количество часов (в акад. часах)	Форма контроля учебных достижений
Лекции	Практических занятий	Самостоятельная работа	Внеаудиторная работа	Всего часов по курсу	Текущий контроль	Итоговый контроль
Базовый модуль. «Обеспечение единства измерений в Российской Федерации в области нанотехнологий, а также основные методы и средства измерений, применяемые для измерения размерных параметров продукции наноиндустрии».	50	-	50 (самостоя-тельное изучение материала) 40 (подготов-ка к теку-щему и итоговому контролю)	40	180	Экзамены, зачеты, тестовые задания	Реферат о состоянии метрологического обеспечения
Специализированный лабораторный модуль № 1 «Метрологическое обеспечение измерений размерных параметров тонких пленок, многослойных гетероструктурных пленок, чипов на их основе и других элементов микросистемной техники»	-	64	8 (самостоя-тельное изучение материала) 40 (подготов-ка к теку-щему и итоговому контролю)	16	128	Тестовые задания, отчеты о лабораторных работах	Разработка проекта МВИ
Специализированный лабораторный модуль № 2 «Метрологическое обеспечение измерений размерных параметров наночастиц, нанотрубок, нанопорошков и ансамблей нанообъектов»	-	52	6 (самостоя-тельное изучение материала) 26 (подготов-ка к теку-щему и итоговому контролю)	12	96	Тестовые задания, отчеты о лабораторных работах	Разработка проекта МВИ
Специализированный лабораторный модуль № 3 «Метрологическое обеспечение измерений размерных параметров нанокомпозитов, объемных наноструктурированных объектов, пористых наноматериалов»	-	32	4 (самостоя-тельное изучение материала) 24 (подготов-ка к теку-щему и итоговому контролю)	8	68	Тестовые задания, отчеты о лабораторных работах	Разработка проекта МВИ
Специализированный лабораторный модуль № 4 «Метрологическое обеспечение измерений размерных параметров наноструктурированных покрытий»		64	8 (самостоя-тельное изучение материала) 40 (подготов-ка к теку-щему и итоговому контролю)	16	128	Тестовые задания, отчеты о лабораторных работах	Разработка проекта МВИ
Итого по программе:					600

1.3 Учебный план программы

1.3.1 Программа учебного курса «Метрология и метрологическое обеспечение нанотехнологиях».

1.  Список тем лекционного курса. (Объем лекционного курса - 10 часов)