Дисциплина «Философия» (стр. 10 )

- все создаваемые или закупаемые стандартные образцы состава и свойств материалов должны быть аттестованы в установленном порядке и включены в Государственный реестр стандартных образцов;

- результаты измерений на создаваемом или используемом метрологическом оборудовании должны отвечать требованиям достоверности и прослеживаемости к соответствующим государственным эталонам, участвующим в международных сличениях, что должно подтверждаться соответствующими документами (свидетельством о поверке или калибровке).

Исполнитель гарантирует функциональность созданных средств измерения и разработанных методик в соответствии с требованиями, установленными в настоящем задании и обязуется за свой счет устранять недостатки в разработанных средствах измерений и нормативно-методических и иных документах в случае их выявления, как во время выполнения государственного контракта, так и в течение гарантийного срока.

7. Требования по сроку предоставления гарантий качества работы

Срок предоставления исполнителем гарантий качества на результаты выполненной работы должен составлять не менее двух лет с даты подписания акта сдачи-приемки работ последнего этапа государственного контракта.

8. Перечень этапов, содержание основных работ по этапам

Работа выполняется в 2 этапа в 2011 году.

Наименование этапов, содержание выполняемых работ, перечень документов, разрабатываемых на этапах, сроки исполнения и контрактная цена должны быть приведены участником размещения заказа в календарном плане (приложение № 2 к государственному контракту).

9. Состав разрабатываемой документации

В процессе выполнения работ должны быть разработаны следующие документы:

Промежуточный и заключительный отчеты, содержащие результаты выполнения работ за отчетный период.

Методика измерений спектральной чувствительности и тока короткого замыкания эталонного солнечного элемента для сопровождения технологии производства фотоэлементов на основе наноструктурированных соединений АIIIВV (GaAs).

Методика измерений спектральной чувствительности и тока короткого замыкания эталонного солнечного элемента для сопровождения технологии производства фотоэлементов на основе технологии тонких пленок.

Методика измерений спектральной чувствительности и тока короткого замыкания эталонного солнечного элемента для сопровождения технологии производства фотоэлементов на основе полимерных полупроводников с расширенным диапазоном спектральной чувствительности.

Нормативно-методическая документация для метрологического обеспечения производства солнечных фотоэлементов на основе наноразмерных гетероструктур.

Техническая и эксплуатационная документация на эталонные солнечные элементы.

Практические рекомендации по применению эталонных солнечных элементов.

10. Порядок сдачи-приемки результатов работы

Документация по каждому этапу и работе в целом оформляется в соответствии с требованиями актов Заказчика по приемке выполненных работ по государственным контрактам, заключенным в рамках Программы, и представляется Заказчику или уполномоченной им организации на бумажном носителе в двух экземплярах и в электронном виде на оптическом носителе в одном экземпляре.

Сдача и приемка выполненных работ (этапов работ) осуществляется в порядке, установленном актами Заказчика. По результатам сдачи и приемки оформляются акты сдачи-приемки выполненных работ (этапов работ) и иные установленные актами Заказчика и Календарным планом выполнения работ документы.

Начальник Управления метрологии

Утверждаю

Заместитель Руководителя

Федерального агентства по

техническому регулированию и

метрологии

«___»_______________ 2011 г.

ПО ЛОТУ 1.1.1.3

Разделы Задания могут быть дополнены
по усмотрению участника конкурса

Задание

на выполнение работы:

Создание комплекса аттестованных методик, стандартных образцов и мер для метрологического обеспечения оптических характеристик наноразмерных энергосберегаюших покрытий на стеклах, устройств на основе тонкопленочных фильтров и многослойных наноструктур для электроники

Шифр 2011-03-3.1-003 

1. Основание для выполнения работ

Федеральная целевая программа «Развитие инфраструктуры наноиндустрии в Российской Федерации на 2008 - 2011 годы» (далее ФЦП);

Постановление Правительства Российской Федерации от 21 июня 2010 г. № 000 «О внесении изменений в постановление Правительства Российской Федерации от 2 августа 2011 г. № 000»;

Приказ Федерального агентства по техническому регулированию и метрологии от
«16» марта 2011 г. № 000 «О размещении заказов на выполнение работ в рамках федеральной целевой программы "Развитие инфраструктуры наноиндустрии в Российской Федерации на 2008 - 2011 годы».

Начало работ: « » апреля 2011 г.

Окончание работ: «25» декабря 2011 г.

2. Головной исполнитель и соисполнители:

2.1. Головной исполнитель: (Указывается полное наименование головного исполнителя и город расположения)[4]

2.2. Соисполнители: (Если предусмотрено их участие в выполнении работы, указывается полное наименование каждого соисполнителя, город расположения и виды выполняемых работ. Если участие соисполнителей в выполнении работ не предусмотрено, слово «Соисполнители» заменяется на слова «Соисполнителей нет»)

3 Цель выполнения работы

Целью выполнения работы является создание средств метрологического обеспечения технологических режимов формирования многослойных наноструктур, являющихся основным структурным элементом нового поколения твердотельных фотоприемников, сверхбольших интегральных схем, мощных полевых сверхвысокочастотных транзисторов, тонкопленочных магнитных устройств, телескопов, матриц с зарядовой связью и других приборов и устройств.

4. Основные требования к выполнению работы

4.1. Основное содержание работы

4.1.1. Разработка спектрорадиометрических методов неразрушающего технологического контроля характеристик энергосберегаюших покрытий на основе тонкопленочных фильтров и многослойных наноструктур.

4.1.2. Разработка и изготовление рабочих эталонов, рабочих средств измерений и стандартных образцов для метрологического обеспечения технологического контроля характеристик энергосберегаюших покрытий на основе многослойных наноструктур.

4.1.3. Разработка нормативно-методических документов для метрологического обеспечения измерений оптических характеристик многослойных наноструктур, включая методики выполнения измерений, методики поверки, калибровки и испытаний средств измерений параметров:

- потока излучения, энергетической освещенности, абсолютной спектральной чувствительности, распределения потока излучения и относительной спектральной чувствительности с высоким пространственным разрешением, порога чувствительности с прослеживаемостью результатов измерений к Государственному первичному эталону ГЭТ-162-2009;

- спектральной плотности энергетической яркости источников экстремального ультрафиолета, распределения абсолютных значений спектральных коэффициентов зеркального и диффузного отражения по образцу и углового распределения спектральной плотности потока излучения с прослеживаемостью результатов измерений к Государственному специальному эталону ГЭТ-84-85;

- пространсвенной структуры и однородности нанослоев и интерфейсов многослойных наноструктур с использованием относительного углового распределения спектральных коэффициентов зеркального и диффузного отражения с прослеживаемостью результатов измерений к Государственным первичным эталонам ГЭТ-84-85 и ГЭТ 162-09;

Работа должна выполняться на основе методов спектрорадиометрии с использованием синхротронного излучения электронных накопительных колец Сибирь-1, Сибирь-2, BESSY-2, MLS, оснащенных специализированным спектрорадиометрическим оборудованием.

4.1.4. Разработка программ совместных исследований и двухсторонних сличений эталонных средств УФ спектрорадиометрии с ведущими метрологическими центрами и центрами синхротронного излучения.

4.1.5. Разработка практических рекомендаций по применению рабочих эталонов и рабочих средств измерений оптических характеристик многослойных наноструктур.

4.2. Планируемые результаты работы

4.2.1 Комплекс рабочих эталонов и рабочих средств спектрорадиометрии абсолютной спектральной чувствительности фоторезистов и твердотельных фотоприемников для метрологического обеспечения технологических режимов формирования многослойных наноструктур с заданными оптическими свойствами.

4.2.2 Спектрорадиометрический комплекс, основанный на использовании синхротронного излучения электронных накопительных колец для поверки специализированных рабочих эталонов, рабочих средств измерений и стандартных образцов многослойных наноструктур.

4.2.3 Стандартные образцы оптических характеристик наноразмерных покрытий на основе многослойных наноструктур.

4.2.4. Комплект нормативно-методических документов, включающий аттестованные методики измерений, методики поверки, калибровки и испытаний средств измерений и стандартных образцов оптических характеристик наноразмерных покрытий на основе многослойных наноструктур.

4.2.5. Программы совместных исследований и двухсторонних сличений эталонных средств УФ спектрорадиометрии с ведущими метрологическими центрами и центрами синхротронного излучения с целью дальнейшего международного признания калибровочных возможностей в данном виде измерений.

4.2.6. Практические рекомендации по применению рабочих эталонов и рабочих средств измерений оптических характеристик многослойных наноструктур.

4.3. Требования к составу и параметрам технических средств

4.3.1. Рабочие эталоны потока излучения, энергетической освещенности, экспозиционной дозы излучения должны иметь характеристики в диапазоне длин волн 1 – 400 нм, абсолютной спектральной чувствительности приемников излучения - в диапазоне длин волн 1 – 400 нм, распределения потока излучения и относительной спектральной чувствительности с высоким пространственным разрешением - в диапазоне длин волн 1 – 400 нм, порога чувствительности приемников излучения - в диапазоне длин волн 1 – 400 нм с прослеживаемостью результатов измерений к Государственному первичному эталону ГЭТ-162-2009.