Дисциплина «Философия» (стр. 18 )

2.2. Соисполнители: (Если предусмотрено их участие в выполнении работы, указывается полное наименование каждого соисполнителя, город расположения и виды выполняемых работ. Если участие соисполнителей в выполнении работ не предусмотрено, слово «Соисполнители» заменяется на слова «Соисполнителей нет»)

3. Цель выполнения работы

Обеспечение единства измерений теплового расширения разрабатываемых конструкционных и композитных наноматериалов наноструктурированных металлов и сплавов, стеклонанокерамик, нанопористых и нанокристаллических оксидов циркония, алюминия, кремния, новых наноматериалов с развитой удельной поверхностью, композиционных материалов, армированных углеродными нанотрубками, и продукции наноиндустрии на их основе.

4. Основные требования к выполнению работы

4.1. Основное содержание работы

4.1.1. Разработка методик выполнения измерений (МВИ) методами интерференции и цифровой голографии для новых классов наноструктурированных материалов:

·  МВИ ТКЛР наноструктурированных сталей и сплавов в диапазоне температуры 20 - 1600 оС.

·  МВИ ТКЛР наноструктурированных сталей и сплавов в диапазоне температуры - 180 - 400 оС.

·  МВИ ТКЛР стеклонанокерамик в диапазоне температуры -60 - 200 оС.

·  МВИ ТКЛР наноструктурированных композитов.

4.1.2. Разработка новой номенклатуры СО, включая расширение диапазона рабочих температур и ТКЛР, из наноструктурированных материалов для калибровки и поверки действующих и создаваемых СИ для контроля параметров теплового расширения и наноматериалов.

4.1.2.1. Анализ перспективных и развиваемых технологий и способов получения наноструктурированных конструкционных материалов, области применения перспективных технологий и материалов.

4.1.2.2. Выбор типов разрабатываемых наноструктурированных металлов и сплавов, стеклонанокерамик, нанопористых и нанокристаллических оксидов циркония, алюминия, кремния, новых наноматериалов с развитой удельной поверхностью, композиционных материалов, армированных углеродными нанотрубками, с целью дальнейшей аттестации в качестве стандартных образцов.

4.1.2.3. Определение методов и средств контроля параметров теплового расширения выбранных нанообъектов и наноматериалов, в том числе:

- Выбор рабочих диапазонов температуры, в которых будут проводиться исследования теплового расширения, для разных групп материалов;

- Разработка требований к форме образцов и методики их изготовления;

- Изготовление образцов наноматериалов для исследований ТКЛР.

4.1.2.4. Исследование ТКЛР:

- наномодифицированной стали 09Г2СА в диапазоне температуры 20 – 1400 оС;

- композиционного наноструктурированного материала бронза-фторопласт, насыщенного фуллеренами, в диапазоне температуры -100 – +300 оС;

- фототерморефрактивных стекол с наночастицами серебра, NaF и CuCl в диапазоне температуры -100 – +300 оС

4.1.3. Подготовка документации к утверждению исследованных образцов наноматериалов в качестве стандартных образцов ТКЛР.

4.2. Планируемые результаты работы

4.2.1. Комплект аттестованных методик выполнения измерений параметров теплового расширения методами интерференционными и цифровой голографии для новых классов наноструктурированных материалов и продукции наноиндустрии:

- МВИ ТКЛР наноструктурированных сталей и сплавов в диапазоне температуры 20 - 1600 оС;

- МВИ измерений ТКЛР наноструктурированных сталей и сплавов в диапазоне температуры - 180 - 400 оС;

- МВИ измерений ТКЛР стеклонанокерамик в диапазоне температуры -60 - 200 оС;

- МВИ измерений ТКЛР наноструктурированных композитов.

4.2.2. Комплект стандартных образцов теплового расширения наноструктурированных материалов для калибровки и поверки действующих и создаваемых СИ для контроля параметров и наноматериалов, обеспечивающие прослеживаемость передачи единиц измеряемых величин в нанометровый диапазон:

- СО ТКЛР наномодифицированной стали 09Г2СА в диапазоне температуры 20 – 1400 оС;

- СО ТКЛР композиционного наноструктурированного материала бронза-фторопласт, насыщенного фуллеренами, в диапазоне температуры -100 – +300 оС;

- СО ТКЛР фототерморефрактивных стекол с наночастицами серебра, NaF и CuCl в диапазоне температуры -100 – +300 оС.

4.3. Требования к составу и параметрам технических средств

4.3.1. Разрабатываемые МВИ должны соответствовать требованиям ГОСТ Р 8.563-2009 «ГСИ. Методики выполнения измерений».

4.3.2. Комплект созданных МВИ должен обеспечить достоверность значений основных характеристик теплового расширения наноматериалов в диапазоне температуры от -180 до 1600 оС, в диапазоне ТКЛР от 10-9 К-1 до 10-5 К-1 при получении наноматериалов для их эффективного применения.

4.3.3. Аттестованные стандартные образцы теплового расширения наноструктурированных материалов должны соответствовать требованиям ГОСТ 8.315-97 и ГОСТ 8.578-2008.

4.3.2. Созданные стандартные образцы новых классов наноматериалов должны обеспечить калибровку и поверку средств измерения ТКЛР наноматериалов у потребителя в условиях максимально близких к эксплуатационным с неопределенностью от 5.10-10 К-1 до 1.10-7 К-1.

4.4. Требования к видам обеспечения

Для успешного выполнения проекта должно быть задействовано сертифицированное оборудование:

4.4.1. Комплекс дилатометров для диапазона температуры от -180 оС до 1600 оС с расширенной неопределенностью от 0,5 10-8 К-1 до 1.10-7 К-1.

4.4.2. Государственный первичный эталон единицы ТКЛР (ГЭТ 24-2007), обеспечивающий воспроизведение и передачу размера единицы со следующими метрологическими характеристиками:

- среднее квадратическое отклонение результата измерений от 0,05×10-8 до 0,46×10-8 К-1 при трех независимых измерениях, для интервала температур 100 К;

- неисключенная систематическая погрешность от 0,03×10-8 до 20,50×10-8 К-1;

- стандартная неопределенность измерений, оцененная по типу А, от 0,05×10-8 до 0,46×10-8 К-1 для интервала температур 100 К;

- стандартная неопределенность измерений, оцененная по типу В, от 0,03×10-8 до 8,40×10–8 К–1;

- суммарная стандартная неопределенность от 0,06×10-8 до 8,40×10–8 К–1;

- расширенная неопределенность от 0,12×10–8 до 16,80×10–8 К–1.

4.5. Требования к стандартизации и унификации

В ходе выполнения работы должны быть разработаны и согласованы с Заказчиком требования к стандартизации и унификации на разрабатываемую продукцию:

4.5.1.  Методики измерений должны соответствовать ГОСТ Р 8.563-2009 и МИ 3269-10.

4.5.2.  Стандартные образцы и эталоны сравнения должны соответствовать ГОСТ 8.315-97 и ГОСТ 8.578-2008.

4.5.3.   

4.6. Требования к представлению информации

4.6.1. Исполнитель обязан предоставлять Заказчику и/или уполномоченной им организации информацию о ходе и результатах реализации работ, достигнутых значениях заданных целевых индикаторов и показателей за отчетный период, выполнять требования по осуществлению ввода отчетных данных в информационную компьютеризированную систему Заказчика.

4.6.2. По окончанию работы результаты передаются Заказчику или в организацию по его указанию по акту.

4.6.3. Аннотация выполненных работ, а также другая информация о создаваемой единой унифицированной базе данных ННС, согласованная с Заказчиком, должна быть представлена для размещения на федеральном Интернет-портале «Нанотехнологии и наноматериалы».

5. Технико-экономические показатели

5.1. Основные технико-экономические требования

5.1.1. Полученные результаты и разработанные технологии должны быть ориентированы на широкое применение в метрологических институтах и организациях, центрах стандартизации и метрологии, центрах метрологического обеспечения и оценки соответствия нанотехнологий и продукции наноиндустрии, центрах коллективного пользования, предприятиях, организациях, научно-образовательных центрах «Нанотехнологии», разрабатывающих и производящих продукцию нанотехнологий.

Разработанные методики, стандартные образцы и нормативно-техническую документацию предполагается использовать для последующей коммерциализации.

5.2. В процессе выполнения работы должны быть достигнуты следующие значения программных целевых индикаторов

(Участник размещения заказа вправе увеличить предлагаемые значения программных индикаторов )

№ п. п.	Индикаторы	ед. изм.	2011 год
1	Удельная оснащенность (стоимость оборудования) одного сотрудника, занятого в исследованиях и разработках в рамках национальной нанотехнологической сети	тыс. рублей	860
2	Количество организаций, использующих исследовательское, метрологическое и технологическое оборудование в режиме коллективного пользования	единиц	2
3	Численность молодых ученых (специалистов), работающих в научных, инновационных, внедренческих и коммерческих организациях - участниках Программы	человек	1
4	Количество созданных новых рабочих мест для высококвалифицированных работников	единиц	2
5	Численность студентов и аспирантов, привлеченных к работе (прошедших практику) на новом нанотехнологическом оборудовании	человек	3

6. Требования по объему предоставления гарантий качества работы

Объем предоставления гарантий качества работы включает следующие требования:

- все создаваемые или используемые в этой работе средства измерений должны быть внесены в Государственный реестр средств измерений и проходить поверку или калибровку в соответствии с установленным межповерочным (межкалибровочным) интервалом в течение всего гарантийного срока;

- все разрабатываемые методики измерений должны быть аттестованы специализированными аккредитованными организациями и включены в Государственный реестр методик измерений;

- все создаваемые или закупаемые стандартные образцы состава и свойств материалов должны быть аттестованы в установленном порядке и включены в Государственный реестр стандартных образцов;