Словарь (стр. 60 )

589

стоянии, сравнимом с диаметром нити, а весь остальной путь эл-ны дрей­фуют в поле Е без «размножения». П. с., как правило, заполняют инерт­ными газами с добавлением небольшого кол-ва многоатомных газов.

Схема пропорц. счётчика: а — область дрей­фа электронов; б — область газового усиле­ния.

Типичные хар-ки П. с.: M~103—104 (но может достигать 106); амплитуда импульса ~10-2 В при электрич. - ёмкости самого П. с. ок. 20 пФ; раз­витие лавины происходит за время ~10-9—10-8 с, однако момент появ­ления сигнала на выходе П. с. зависит - от места прохождения ионизующей ч-цы, т. е. от времени дрейфа первич­ных эл-нов до анода. При радиусе ~1 см и давлении 1 атм время сраба­тывания П. с. относительно пролёта ч-цы ~10-7—10-8 с достигает 10-6 с.

П. с. используются для регистрации всех видов ч-ц: α-частиц, эл-нов, ос­колков деления атомных ядер и т. д., а также для нейтронов, гамма - и рентг. квантов. В случае незаряж. ч-ц реги­стрируются вторичные заряж. ч-цы, возникающие в процессе вз-ствия ней­тральных ч-ц с наполняющим счётчик газом (эл-ны, протоны отдачи и др.).

П. с. сыграл важную роль в разви­тии яд. физики довоенного времени, являясь наряду с ионизац. камерой практически единств. электронным спектрометрич. детектором.

В кон, 60-х гг. в физике ч-ц высо­ких энергий начала применяться п р о п о р ц и о н а л ь н а я к а м е р а, состоящая из большого числа (102—103) П. с., расположенных в одной плоскости и часто в одном газовом объёме. Такая геометрия позволяет по регистрации ч-ц в отдельных П. с. определить место прохождения ч-цы. Расстояние между соседними анодны­ми нитями. ~1—2 мм, расстояние между анодной и катодной плоско­стями ~1 см, разрешающее время ~10-7 с. Развитие микроэлектроники и внедрение в эксперим. технику ЭВМ позволили создать камеры, состоящие из десятков тыс. нитей, соединённых - с ЭВМ, к-рая запоминает и обрабаты­вает всю информацию от пропорц. камеры. Такая камера — одновремен­но быстродействующий спектрометр и трековый детектор.

В 70-х гг. появилась д р е й ф о в а я к а м е р а, в к-рой для измерения координаты места пролёта ч-цы исполь­зуется дрейф эл-нов, предшествующий образованию лавины. Чередуя аноды и катоды отд. П. с. в одной плоскости и измеряя время дрейфа эл-нов, можно измерить место прохождения ч-цы через камеру с высокой точностью (~0,1 мм) при числе нитей в ~10 раз меньше, чем в пропорц. камере.

П. с. применяются в яд. физике и в физике ч-ц высоких энергий (в экс­периментах на ускорителях и в косм. лучах), а также в астрофизике, гео­логии, археологии и др. С помощью П. с., установленного на «Луноходе-1», по спектру рентг. флюоресценции был произведён хим. элементный анализ в-ва поверхности Луны.

• См. лит. при ст. Детекторы,

, .

ПРОПУСКАНИЕ в оптике, прохож­дение сквозь среду оптического излу­чения без изменения набора частот составляющих его монохроматич. излу­чений и их относит. интенсивностей. Различают направленное П., при к-ром рассеяние света в среде практически отсутствует; д и ф ф у з н о е П., при к-ром определяющим фактором явл. рассеяние, а преломле­ние в среде и направленное П. не играют заметной роли, и смешан­ное П.— частично направленное и частично диффузное. Особый вид диффузного П.— р а в н о м е р н о-д и ф ф у з н о е П., при к-ром про­странств. распределение рассеянного излучения таково, что яркость оди­накова по всем направлениям.

ПРОПУСКАНИЯ КОЭФФИЦИЕНТ среды τ , отношение потока излучения Ф, прошедшего через среду, к потоку Ф0, упавшему на её поверхность: τ=Ф/Ф0. Чаще всего понятием П. к. пользуются для световых потоков. к. тела зависит как от его размера, формы и состояния поверх­ности, так и от угла падения, спектр. состава и поляризации излучения. к. для н а п р а в л е н н о г о пропускания (среда не рас­сеивает проходящего через неё излу­чения), П. к. для диффузного пропускания (среда рассеивает всё проникающее в неё излучение) и П. к. для с м е ш а н н о г о пропускания (с частичным рассеянием). П. к. на­ходят по измерениям освещённости и яркости. к.— одно из световых измерений (см. также Фото­метрия).

ПРОСВЕТЛЕНИЕ ОПТИКИ, умень­шение отражения коэффициентов по­верхностей оптич. деталей путём на­несения на них непоглощающих плё­нок, толщина к-рых соизмерима с длиной волны оптич. излучения. Без просветляющих плёнок, даже при норм. падении лучей, потери на отра­жение света могут составлять до 10% от интенсивности падающего излуче­ния. В оптич. системах с большим числом поверхностей (напр., в объективах) потери света могут достигать 70% и более. Многократное отраже­ние от преломляющих поверхностей приводит к появлению внутри прибо­ров рассеянного света, что ухудшает качество изображений, формируемых оптич. системами приборов. Эти нежелат. явления устраняются с помощью П. о., к-рое явл. одним из важнейших применений оптики тонких слоев. П. о.— результат интерференции света, отражаемого от передних и задних границ просветляющих плёнок; она приводит к взаимному «гашению» отражённых световых волн и, следо­вательно, к усилению интенсивности проходящего света. При углах паде­ния, близких к нормальному, эффект П. о. максимален, если толщина тон­кой плёнки равна нечётному числу четвертей длины световой волны в ма­териале плёнки, а преломления пока­затель (ПП) плёнки n2 удовлетворяет равенству n22=n1n3, где n1 и n3— ПП сред, граничащих с плёнкой (часто первой средой явл. воздух). Отра­жённый свет ослабляется тем силь­нее, чем больше разность n3-n2; если же n2>n3, то интерференция отражённых от границ плёнки лучей, напротив, усилит интенсивность от­ражённого света (рис. 1).

Рис. 1. Зависимость коэфф. отражения R от выраженной в до­лях световой волны X толщины тонкого слоя, нанесённого на подложку из стекла, для разл. значений показателя прелом­ления слоя n2. Пока­затель преломления стекла n3=l,52;n1=1 (воздух).

Изменяя толщину просветляющей плёнки, можно сместить минимум отра­жения в разл. участки спектра.

Для деталей из стекла с низким ПП П. о. однослойными плёнками недостаточно эффективно. Применение двухслойных просветляющих плёнок позволяет почти полностью устранить отражение света от поверхности де-

Рис. 2. Зависимости в диапазоне видимо­го света (400—700 нм) коэфф. отражения R поверхности стекла с n3=l,52 от длины волны света λ: 1— для непросветлённой поверхности; 2 — для поверхности с однослойной просветляющей плёнкой, показатель преломления к-рой n2=1,40; 3 — то же при n2=1,23; 4 — для поверхности с трёхслойной просветляющей плёнкой.

тали-подложки независимо от её ПП, но лишь в узкой области спектра. Трёхслойные просветляющие плёнки дают возможность получить равно­мерно низкое (~0,5%) отражение в широкой спектр. области, напр. во всём видимом диапазоне (рис. 2).

590

Двух - и трёхслойные покрытия ис­пользуют для П. о., работающей в УФ области, где из-за низкого значения n3 однослойные покрытия малоэффек­тивны. о. в широкой области спектра может быть достигну­то с помощью неоднородных просвет­ляющих плёнок, значение ПП к-рых плавно меняется от n подложки до n окружающей среды. В практически получаемых неоднородных плёнках n меняется ступенчато; ширина спектр. области с низким отражением увели­чивается с возрастанием числа «сту­пенек», приближающим характер из­менения ПП к плавному.

• См. лит. при ст. Оптика тонких слоев.

.

ПРОСВЕТЛЕНИЯ ЭФФЕКТ, умень­шение скорости резонансного погло­щения при увеличении интенсивности падающего на среду эл.-магн. излу­чения. э. — насыщение резонансного перехода (выравнива­ние населённостей уровней энергии). С увеличением интенсивности излу­чения заселённости уровней среды выравниваются. Величина поглоще­ния определяется в этом случае ско­ростью процессов релаксации, т. е. скоростью, с к-рой возбуждённый атом может передавать энергию возбужде­ния окружающей среде. Т. к. ско­рость релаксации определяется св-вами среды и не зависит от интенсивности падающего света, то с увеличением интенсивности излучения доля погло­щаемой в среде энергии уменьшается — переход насыщается.

Помимо описанного механизма, возможен и другой, связанный со сдвигом края полосы поглощения в коротковолновую область. При этом насыщаются края зон, т. е. заполня­ются уровни вблизи дна зоны прово­димости и потолка валентной зоны (см. Твёрдое тело). Такой механизм просветления характерен, в частности, для цветных стёкол.

Эффект просветления применяется в квант. электронике, где использу­ется для модуляции добротности ла­зерных систем, синхронизации мод лазеров, генерации узких линий и др. (см. Твердотельные лазеры).

• См. лит. при ст. Квантовая электроника, Лазер.

.

ПРОСВЕЧИВАЮЩИЙ ЭЛЕКТРОН­НЫЙ МИКРОСКОП, см. Электрон­ный микроскоп. ПРОСТРАНСТВЕННАЯ ГРУППА симметрии (Фёдоровская группа),

совокупность всех преобразований симметрии, присущих крист. решётке (см. Симметрия кристаллов) и сос­тавляющих с матем. точки зрения группу. Вывод всех 230 П. г. был осуществлён в 1890—91 ­ровым и независимо от него нем. учёным А. Шёнфлисом. П. г. не ука­зывает конкретного расположения атомов в крист. решётке, но даёт один из возможных законов симметрии их взаимного расположения. Этим обу­словлена особая важность П. г. в структурной кристаллографии — любая из многих тысяч исследованных структур принадлежит к к.-л. одной из 230. г. производит­ся рентгенографически (см. Рентге­новский структурный анализ). Все 230 П. г. табулированы в спец. спра­вочниках.