Выращивание кристаллов из растворов (стр. 8 )

Группы дислокаций, возникших при захвате включений при регенерации, сплошь и рядом оказываются весьма активными, а потому конусы роста обычно располагаются над затравкой, в средних частях граней. Вообще, чем больше дислокаций в кристалле, тем, естественно, больше вероятность наличия среди них более мощных активных группировок. Поэтому скорость роста кристалла, как правило, тем больше, чем более дефектен кристалл. Этот давно известный факт получил объяснение лишь на основе дислокационных представлений о росте.

Дислокации, как уже говорилось, не могут обрываться внутри однородного кристалла. Однако они могут перекрываться включением. При этом часть дислокаций противоположного знака будет исчезать, замыкаясь друг на друга в объеме включения. Другая часть может менять ориентацию, переходя, в частности, в краевые дислокации.

* От вицинальной штриховки следует отличать «комбинационную штриховку», обусловленную комбинацией граней разных простых форм или одной формы (ис-штрихованные грани пентагондодекаэдра на кубообразных кристаллах пирита). Появление такой штриховки — способ замещения старой формы кристалла на новую при смене внешних условий.

32

33

35

35

Таким образом, число дислокаций, возникающих за счет неточного смыкания слоев над включением, может оказаться меньше, чем число дислокаций, перекрытых включением, так что υ ~ (∆m/mo)n, а показатель степени п обычно заключен в интервале от 1 до 2. Типичная кривая скорости дислокационного роста показана на рис. 1-13.

Если зависимость скорости роста от пересыщения слабо нелинейна, ее трудно отличить от прямолинейной зависимости характерной для нормального роста, особенно при изучении этой зависимости на небольшом отрезке пересыщений. Поэтому измерение скоростей следует сопровождать изучением скульптуры граней, установлением атомарного типа грани и ее дефектности. Наличие различимых в оптический микроскоп отдельных центров роста, по-видимому, достаточное свидетельство дислокационного механизма.

Рост двумерными зародышами

Если несколько частиц адсорбируется в соседних позициях, то образованный ими островок может оказаться стабильным и дать начало новому слою. Эти островки называются двумерными зародышами. Закономерности образования двумерных и трехмерных зародышей в объеме раствора (§ 1.4) аналогичны.

Преобладание дислокационного роста во множестве изученных случаев является свидетельством малой вероятности образования устойчивых двумерных зародышей в сравнительно широком интервале пересыщений.

С ростом пересыщения размер критического двумерного зародыша уменьшается, и при достижении относительного пересыщения, равного по теории нескольким десяткам процентов, существование жизнеспособных двумерных зародышей на грани становится достаточно вероятным. По достижении этого пересыщения грань начинает быстро расти. Зависимость скорости роста от пересыщения при этом механизме, как и скорость образования трехмерных зародышей, носит экспоненциальный характер (рис. 1-13).

Такая зависимость скорости роста от пересыщения подтверждена экспериментально на примере роста кристалла из пара. Что касается роста из раствора, то, хотя подобные зависимости и встречаются, по ним обычно нельзя однозначно сказать, что рост происходил двумерными зародышами. Дело в том, что в присутствии некоторых примесей и при дислокационном механизме роста получаются сходные зависимости (§ 1.7). По наблюдению за поверхностью грани, ее морфологией также трудно установить, имеется ли рост двумерными зародышами, поскольку толщина их равна периоду повторяемости в данной решетке. В. Косселем и И. Странским было показано, что для ионных кристаллов наиболее энергетически выгодно образование двумерных зародышей у ребер гладкой грани. Атомарные слои, образовавшиеся за счет этих зародышей, могут сливаться в макроскопические слои благодаря особенностям диффузионного поля около кристалла (§ 1.6). Поэтому наблюдающееся образование слоев у вершин и ребер обычно считается признаком роста по механизму двумерного зародышеобразования.

36

Однако образование видимых слоев у ребер и вершин кристалла может происходить и при дислокационном механизме, также благодаря особенностям диффузионного поля, и, таким образом, оно не является однозначным признаком двумер­ного зародышеобразования. Если внешне грань гладкая, то вопрос о механизме роста остается открытым, так как центры роста вблизи ребер могут быть просто неразличимы.

Наиболее изящно было показано существование двумерного зарождения при электрокристаллизации серебра [ и др., 1974]. Кристаллы росли в капиллярах, где сравнительно легко получить бездислокационную грань благодаря выходу дислокаций на боковую поверхность кристалла. При отсутствии выходов дислокаций на торце кристалла и подаче соответствующего напряжения на систему кристалл — раствор ток проходил отдельными импульсами. Так как ток проходит только в момент кристаллизации, то он при дислокационном росте должен быть непрерывным. Установлено, что количество электричества, протекающего за один импульс, соответствует числу электронов, необходимому для восстановления того количества серебра, которое перекрывает пло­щадь капилляра моноатомным слоем.

Иногда кристаллы КС1, КВг, которые обычно изометричны, образуются в виде тонких кристаллических волокон — усов (подробнее об усах см. в книгах [1969], [1977 г.]). Боковые грани усов не имеют выходов винтовых дислокаций, поэтому утолщение усов может происходить только путем двумерного зародышеобразования. Для кристаллов нор­мального габитуса при обычном росте из растворов достоверных примеров их образования по механизму двумерного зарождения почти нет. Рост грани дипирамиды (101) кристаллов КН2Р04 при переохлаждениях свыше 14° С (относительное пересыщение 29%) идет, видимо, по рассматриваемому механизму [, С, 1980]. Эта грань в процессе роста освобождается от дефектов (рис. 1-18) и не растет при переохлаждениях ниже 14° С. Мы практически всегда наблюдали работу дислокационных центров роста вплоть до пересыщений, когда в объеме раствора начинается трехмерное зарождение.

Замещение быстрорастущих шероховатых граней медленнорас­тущими сингулярными определяет обычную плоскогранную форму кристаллов. Сингулярные грани с разной плотностью ступеней различаются скоростями роста, соотношение которых определяет облик (огранку и габитус)* кристалла. Быстро растущие грани, как правило, уменьшаются в размерах, и огранка определяется наиболее медленно растущими сингулярными гранями. Обычно кристалл огранен небольшим числом кристаллических форм, кото­рым отвечают малые значения рациональных символов.

Скорости роста кристалла в кристаллографически разных направлениях различны, но при заданных условиях относительно постоянны во времени.

* Под огранкой понимается совокупность кристаллографических форм (граней), под габитусом — общая форма кристалла (изометрическая или анизометрическая: игольчатая, призматическая, пластинчатая и т. п.).

37

Можно построить полярную диаграмму скоростей, по виду аналогичную полярной диаграмме поверхностной энергии (рис. 1-5).

Закономерности в скоростях роста кристаллов рассматриваются в разделе кристаллогенезиса, называемом кинетикой.

Механизм роста трехмерными зародышами

Как показал , уже в насыщенном паре в значительном количестве присутствуют комплексы, содержащие более 1000 молекул. При возрастании пересыщения растет уровень флуктуации в растворе, увеличивается его микрогетерогенность. Сильно пересыщенный раствор по строению приближается к коллоидному. Поэтому при больших пересыщениях рост кристалла может идти не только за счет двумерного зарождения на грани, но и путем присоединения уже имеющихся в среде трехмерных агрегатов частиц— «дозародышей» («субмикронных» частиц, «ассоциатов»). С увеличением пересыщения роль этого механизма должна увеличиваться. Вблизи лабильной области описываемый механизм может стать господствующим. Так, X. Пайбст и И. Ноак [Peibst H., Noack J., 1962] показали, что скорость образования зародышей К1 и скорость роста кристаллов КС1 из водных растворов при высоких пересыщениях подчиняются одному закону. Отсюда они сде­лали вывод, что рост кристаллов КС1 идет за счет присоединения ассоциатов. Соображения в пользу возможности роста кристаллов трехмерными агрегатами высказывались Д. Баларевым [1964], [1968] и др. Однако доказательства существования такого механизма упираются в те же трудности, что и в случае двумерного зародышеобразования. По кривой зависимости скорости роста от пересыщения делать выводы о механизме роста невозможно даже в случае чистых растворов. Существование температурных аномалий скоростей роста (§ 1.2) приводит к тому, что при явно дислокационном механизме роста в разных температурных интервалах можно получить зависимости, отвечающие каким угодно теориям роста. Еще больше дело осложняют примеси, всегда в том или ином количестве присутствующие в растворе.

Внешним признаком обсуждаемого механизма роста считают блочность получающихся кристаллов [ 1964]. Из-за неидеальной гладкости грани и наличия прочно адсорбированных частиц ориентация прилипших дозародышей не всегда строго параллельна основанию. Энергия активации для их переориентации сравнительно велика ввиду их большой массы, а выросший по этому механизму кристалл должен быть плохо образованным — мозаичным, блочным. Причем с увеличением пересыщения количе­ство дозародышей должно возрастать по экспоненциальному за­кону. Действительно, чем выше пересыщение, тем обычно резче выражена блочность кристаллов. Однако показано [ и др., 1973; и др., 1973], что при росте из растворов блочные кристаллы образуются за счет иных механизмов (§ 1.8) при явно дислокационном способе роста. Поэтому способ роста кристаллов из растворов трехмерными агрегатами — пока только гипотеза.